[發(fā)明專利]一種地質雷達用測距輪磨損后修復及參數標定方法

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• 申請日: 2018-09-28
• 公開（公告）號: CN108919378A
• 公開（公告）日: 2018-11-30
• 發(fā)明（設計）人: 劉新榮;鄧志云;韓亞峰;黃建林;李洋;劉錦輝;黃俊杰;李超;寇苗苗;杜利兵;王林楓;熊飛;許彬
• 申請（專利權）人: 重慶大學
• 主分類號: G01V13/00
• 分類號: G01V13/00;G01S7/40
• 代理公司: 北京同恒源知識產權代理有限公司 11275
• 代理人: 趙榮之

本發(fā)明涉及一種地質雷達用測距輪磨損后修復及參數標定方法，屬于地質雷達測距技術領域，該方法包含如下步驟：S1：在磨損前或磨損后在測距輪上均勻纏繞一圈耐磨損的絕緣材料；S2：選取一條已測定長度的直線段測線，測量參數選取測距輪的原始參數對該測線段進行地質雷達檢測；S3：通過對比地質雷達圖像上測線長度與實際測線長度，對測距輪參數進行修正。本發(fā)明簡便可行，保護層在磨損后可以無限次更換，不影響測距輪的使用，可以顯著降低儀器購置成本。同時本發(fā)明確保了原始數據采集的準確性，通過參數校正，采集數據準確，避免了測距輪參數改變后對測線長度造成的影響。

技術領域

本發(fā)明屬于地質雷達測距技術領域，涉及一種地質雷達用測距輪磨損后修復及參數標定方法。

背景技術

測距輪作為地質雷達常用的數據采集方式之一，廣泛應用于長距離地質雷達檢測中。檢測過程中，測距輪表面不斷磨損，嚴重情況下，測距輪直徑發(fā)生較大變化且表面磨損程度并不均一。在測距輪磨損嚴重后可進行更換，但價格昂貴，且多數情況下現場檢測并沒有備用的測距輪，而且即便更換也不能有效解決測距輪磨損的問題。而如果不對測距輪進行處理，地質雷達檢測測線長度與實際測線長度會有一定的誤差，磨損嚴重后也會影響數據采集，給檢測工作帶來極大的干擾。

鑒于此，有必要對測距輪進行防磨損處理，考慮到測距輪周邊磨損程度并不均一，直接測量直徑有一定誤差，同時需要對其參數進行校正，確保地質雷達數據采集的準確性。

發(fā)明內容

有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種地質雷達用測距輪磨損后修復及參數標定方法，為地質雷達用測距輪提供有效的保護措施，且通過參數校正，確保數據采集的準確性。

為達到上述目的，本發(fā)明提供如下技術方案：

一種地質雷達用測距輪磨損后修復及參數標定方法，該方法包含如下步驟：

S1：在磨損前或磨損后在測距輪上均勻纏繞一圈耐磨損的絕緣材料；

S2：選取一條已測定長度的直線段測線，測量參數選取測距輪的原始參數對該測線段進行地質雷達檢測；

S3：通過對比地質雷達圖像上測線長度與實際測線長度，對測距輪參數進行修正。

進一步，所述絕緣材料為橡膠材料。

進一步，步驟S1具體為：在磨損前或磨損后在測距輪上采用膠水均勻纏繞一圈耐磨損的絕緣材料。

進一步，所述絕緣材料的厚度選為3mm。

進一步，步驟S2中所選取的直線段測線長度至少為100米。

進一步，步驟S2中，所述測距輪的原始參數為測距輪的原始直徑。

進一步，步驟S3中，對對測距輪參數進行修正滿足：

其中，D為測距輪實際直徑，D₀為測距輪原始直徑，L為已知的測線長度，L₀為雷達圖像上測線長度。

本發(fā)明的有益效果在于：

1、本發(fā)明簡便可行，保護層(絕緣材料)在磨損后可以無限次更換，不影響測距輪的使用，可以顯著降低儀器購置成本。

2、本發(fā)明確保了原始數據采集的準確性，通過參數校正，采集數據準確，避免了測距輪參數改變后對測線長度造成的影響。

附圖說明

為了使本發(fā)明的目的、技術方案和有益效果更加清楚，本發(fā)明提供如下附圖進行說明：

圖1為本發(fā)明的流程示意圖；

圖2為測距輪絕緣材料布置圖；