[發(fā)明專利]芯片測試方法、芯片測試設(shè)備以及芯片

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811137339.0
• 申請日: 2018-09-28
• 公開（公告）號: CN110967614B
• 公開（公告）日: 2021-09-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 不公告發(fā)明人
• 申請（專利權(quán)）人: 長鑫存儲技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京律智知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11438
• 代理人: 袁禮君;闞梓瑄

1.一種用于測試多個芯片的芯片測試方法，所述多個芯片耦接于同一臺芯片測試設(shè)備，其特征在于，所述多個芯片共用所述芯片測試設(shè)備的控制信號線、地址信號線、片選信號線，每個所述芯片單獨(dú)與所述芯片測試設(shè)備的一組數(shù)據(jù)信號線耦接，所述方法包括：

對被測芯片輸出預(yù)設(shè)激活指令，使所述被測芯片響應(yīng)測試指令，所述多個芯片中除所述被測芯片以外的其他芯片停止響應(yīng)除所述預(yù)設(shè)激活指令以外的信號，所述預(yù)設(shè)激活指令包括格式位和狀態(tài)位；

輸出所述測試指令，測試所述被測芯片；

其中，所述對所述被測芯片輸出預(yù)設(shè)激活指令包括：

同時利用所述片選信號線、所述控制信號線、所述地址信號線輸出所述預(yù)設(shè)激活指令的格式位數(shù)據(jù)；

通過對應(yīng)于所述被測芯片的數(shù)據(jù)信號線輸出所述預(yù)設(shè)激活指令的狀態(tài)位數(shù)據(jù)。

2.如權(quán)利要求1所述的芯片測試方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)激活指令的狀態(tài)位數(shù)據(jù)對應(yīng)所述數(shù)據(jù)信號線的首位。

3.如權(quán)利要求1或2所述的芯片測試方法，其特征在于，在對所述被測芯片輸出所述預(yù)設(shè)激活指令的同時還包括：

對其他芯片輸出預(yù)設(shè)鎖指令。

4.如權(quán)利要求3所述的芯片測試方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)激活指令和所述預(yù)設(shè)鎖指令均包括格式位和狀態(tài)位，所述預(yù)設(shè)鎖指令的狀態(tài)位與所述預(yù)設(shè)激活指令的狀態(tài)位按位反相。

5.如權(quán)利要求1所述的芯片測試方法，其特征在于，還包括：

在所述芯片測試設(shè)備啟動和重啟時，對所述多個芯片寫入所述預(yù)設(shè)激活指令。

6.一種芯片測試方法，所述芯片耦接于芯片測試設(shè)備的控制信號線、片選信號線、地址信號線和數(shù)據(jù)信號線，其特征在于，包括：

響應(yīng)數(shù)據(jù)輸入信號，判斷輸入數(shù)據(jù)是預(yù)設(shè)激活指令還是測試指令；

在所述輸入數(shù)據(jù)是所述預(yù)設(shè)激活指令時，記錄響應(yīng)狀態(tài)為激活狀態(tài)；

在所述輸入數(shù)據(jù)是所述測試指令時，如果所述響應(yīng)狀態(tài)為所述激活狀態(tài)，響應(yīng)所述測試指令，否則停止響應(yīng)所述測試指令；

其中，所述響應(yīng)數(shù)據(jù)輸入信號判斷輸入數(shù)據(jù)是預(yù)設(shè)激活指令還是測試指令包括：

判斷所述輸入數(shù)據(jù)中對應(yīng)于所述片選信號線、所述控制信號線、所述地址信號線的第一數(shù)據(jù)是否為第一預(yù)設(shè)值；

如果所述第一數(shù)據(jù)是所述第一預(yù)設(shè)值，在所述輸入數(shù)據(jù)中對應(yīng)于所述數(shù)據(jù)信號線的第二數(shù)據(jù)為第二預(yù)設(shè)值時判斷所述輸入數(shù)據(jù)為所述預(yù)設(shè)激活指令；

如果所述第一數(shù)據(jù)不是所述第一預(yù)設(shè)值，在所述輸入數(shù)據(jù)中對應(yīng)于所述控制信號線的第三數(shù)據(jù)符合預(yù)設(shè)控制格式、對應(yīng)于所述地址信號線的第四數(shù)據(jù)符合預(yù)設(shè)地址格式并且對應(yīng)于所述片選信號線的第五數(shù)據(jù)為第三預(yù)設(shè)值時判斷所述輸入數(shù)據(jù)為所述測試指令。

7.如權(quán)利要求6所述的芯片測試方法，其特征在于，還包括：

在所述輸入數(shù)據(jù)是預(yù)設(shè)鎖指令時，記錄所述響應(yīng)狀態(tài)為鎖定狀態(tài)。

8.如權(quán)利要求6所述的芯片測試方法，其特征在于，所述第二數(shù)據(jù)為所述預(yù)設(shè)激活指令的狀態(tài)位數(shù)據(jù)，所述預(yù)設(shè)激活指令的狀態(tài)位對應(yīng)所述數(shù)據(jù)信號線的首位。

9.如權(quán)利要求6所述的芯片測試方法，其特征在于，所述第二數(shù)據(jù)為所述預(yù)設(shè)激活指令的狀態(tài)位數(shù)據(jù)或預(yù)設(shè)鎖指令的狀態(tài)位數(shù)據(jù)，所述預(yù)設(shè)鎖指令的狀態(tài)位與所述預(yù)設(shè)激活指令的狀態(tài)位按位反相。

10.如權(quán)利要求6所述的芯片測試方法，其特征在于，在啟動或重啟時將所述響應(yīng)狀態(tài)記錄為所述激活狀態(tài)。