[發明專利]一種用于緊縮場校準的天線裝置

有效

• 申請號: 201811124218.2
• 申請日: 2018-09-26
• 公開（公告）號: CN109301508B
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 黃承祖;馬永光;鄭從偉;雷壘
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: H01Q23/00
• 分類號: H01Q23/00;H01Q1/12;H01Q5/20;H01Q5/307
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 付生輝

本發明公開一種用于緊縮場校準的天線裝置，包括校準頻率低于40GHz的第一天線組件和高于40GHz的第二天線組件；以及安裝有40GHz以下的低噪聲放大器的固定組件；其中，所述固定組件上布置用于固定天線組件的若干調節孔，所述若干調節孔形成多個裝配第一天線組件和第二天線組件的預設排列，從而兩個天線組件可擇一地裝配在形成其中一個預設排列的若干調節孔上。通過設置的多組調節孔來實現對不同頻率和尺寸的天線的安裝，從而實現天線裝置的通用性設計。

技術領域

本發明涉及電子測試技術領域。更具體地，涉及一種用于緊縮場校準的天線裝置。

背景技術

緊縮場是緊縮平面場的簡稱，其英文名稱為CATR(Compact Antenna TestRange)。緊縮場可以在近距離上提供一個性能優良的平面微波測試區，是進行各種天線輻射特性測試及目標RCS(雷達散射截面的英文縮寫，全稱為Radar Cross-Section)測試研究的重要實驗場所。緊縮場具有背景電平低、測量精度高、工作頻率寬、保密性好和全天候等優點，是解決飛機、導彈、衛星和天線等雷達隱身問題的關鍵設備。

通過對緊縮場進行校準，可以掌握緊縮場測試系統的靜區性能是否符合測試指標要求，可為分析測量結果引入的測量不確定度提供實際數據，會對準確的緊縮場實驗室評價提供幫助；而且通過定期的緊縮場性能校準，可對緊縮場測試系統性能進行監測，有效驗證各緊縮場實驗室的測量技術能力，還可以識別發現各緊縮場實驗室存在的問題，從而可以采取糾正措施，向實驗室的客戶提供更高的可信度，以保證武器型號中使用的天線、天線罩及目標RCS測試結果的準確。

天線作為緊收探頭，其準確定位在一定程度上影響著校準的準確性。目前國內外均有進行緊縮場性能檢測的經驗，但由于各建設方的使用環境及系統搭建有所不同，并且在頻率低于40GHz和高于40GHz情況下的接收天線組件包含的器件大不相同，需要分別進行設計，同時接收天線按頻段分為十幾種類型，為方便使用，需要在通用性上進行設計。

發明內容

為解決上述問題的至少一個，本發明采用下述技術方案：

一種用于緊縮場校準的天線裝置，包括：

校準頻率低于40GHz的第一天線組件和高于40GHz的第二天線組件；

以及安裝有40GHz以下的低噪聲放大器的固定組件；

其中，所述固定組件上布置用于固定天線組件的若干調節孔，所述若干調節孔形成多個裝配第一天線組件和第二天線組件的預設排列，從而兩個天線組件可擇一地裝配在形成其中一個預設排列的若干調節孔上。

優選地，所述第一天線組件校準頻率范圍為0.75GHz至40GHz；所述第二天線組件校準頻率范圍為40GHz至110GHz。

優選地，所述天線周圍設置有安裝吸波材料的組件。

優選地，所述固定裝置包括通過若干連接柱連接在一起的兩個平板狀的法蘭，所述低噪聲放大器固定在相鄰的兩個連接柱之間，并通過兩個法蘭夾持固定，所述若干調節孔位于其中一個法蘭上。

優選地，所述第一天線組件包括：

校準頻率高于40GHz的第一天線；

一端連接在所述第一天線上的若干連接柱；

連接所述若干連接柱另一端的第一天線法蘭；

其中，所述第一天線法蘭安裝在形成第一預設排列的若干調節孔上。

優選地，所述第二天線組件包括：

校準頻率高于40GHz的第二天線；

一端連接在所述第二天線上的連接組件；

連接所述連接組件另一端的第二天線法蘭；