[發明專利]顯示面板的外部補償方法、驅動單元及顯示面板

有效

• 申請號: 201811119430.X
• 申請日: 2018-09-25
• 公開（公告）號: CN109147668B
• 公開（公告）日: 2020-08-04
• 發明（設計）人: 賈群;喻勇;蘭傳艷
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;成都京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225;G09G3/36
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 周泉

本公開提供了一種顯示面板的外部補償方法。所述外部補償方法包括：根據顯示狀態參數確定目標顯示狀態；獲取基準補償參數；獲取針對所述目標顯示狀態的校正系數；基于所述基準補償參數和所述校正系數，確定將用于所述目標顯示狀態的校正補償參數；以及使用所述校正補償參數對所述顯示面板的像素的亮度進行補償。

技術領域

本公開涉及顯示領域，具體地涉及一種顯示面板的外部補償方法、驅動單元及顯示面板。

背景技術

在玻璃基板上制作薄膜晶體管(TFT)時，由于工藝的均勻性或長時間高溫高壓導致的參數漂移，不同位置的TFT常常在閾值電壓、遷移率等電學參數方面具有非均勻性。如此，將TFT用于有源矩陣有機發光顯示器(AMOLED)等顯示設備時，這種非均勻性會轉化為顯示設備的電流差異和亮度差異，并被人眼所感知。因此，需要在設計上通過各種補償技術解決這種不均勻的現象。補償一般分為內部補償和外部補償。其中的外部補償又可分為光學外部補償方法和電學外部補償方法，其中，光學外部補償方法也被稱為Demura技術。Demura技術在將背板點亮后通過光學CCD照相等方法將亮度信號抽取出來，并根據相關算法識別出mura(即，亮度或顏色差異)數據，從而根據相應的算法產生Demura數據，并將Demura數據燒錄到面板的FLASH ROM中，以實現補償效果。Demura技術具有結構簡單、方法靈活等優點，從而被廣泛地采用。

常規的Demura技術中只考慮固定刷新頻率(如60Hz)的情況，因此在FLASH ROM中只燒錄了針對60Hz的Demura數據。然而，由于相同的面板可能需要在不同的刷新率設置下使用(例如，AR、VR等技術中要求刷新頻率為90Hz或120Hz)，且不同刷新頻率下的Demura數據并不相同，因此還需要確定其他刷新率下的Demura數據。這將增加工序，增加占用的存儲空間，間接增加成本。

發明內容

本公開提出了一種顯示面板的外部補償方法。所述方法包括：根據顯示狀態參數確定目標顯示狀態；獲取基準補償參數和針對所述目標顯示狀態的校正系數；基于所述基準補償參數和所述校正系數，確定將用于所述目標顯示狀態的校正補償參數；以及使用所述校正補償參數對所述顯示面板的像素的亮度進行補償。

在一些實施例中，所述顯示狀態參數包括刷新率。

在一些實施例中，所述獲取基準補償參數和針對所述目標顯示狀態的校正系數，包括從與所述顯示面板的存儲單元讀取從所述顯示面板的存儲單元讀取所述基準補償參數和所述校正系數。

在一些實施例中，所述外部補償方法還包括：確定所述基準補償參數并對預確定的基準補償參數進行存儲。具體地，所述預確定所述基準補償參數包括：捕獲基準顯示狀態下的顯示面板顯示的畫面的圖像；基于所捕獲的圖像，確定需要進行補償的位置；確定每個需要補償的位置處的補償參數。

在一些實施例中，針對每個需要補償的位置，使用下式來進行補償：

y＝aj·x+bj

其中，x為輸入灰階值，y為輸出灰階值，aj和bj為所述顯示面板上第j個需要補償的位置處的補償參數。

在一些實施例中，所述外部補償方法還包括：預確定所述目標顯示狀態的校正系數并對預確定的校正系數進行存儲。具體地，所述預確定所述目標顯示狀態的校正系數包括；從相同批次的顯示面板中選擇N個代表顯示面板，N為大于1的整數；在基準顯示狀態下，確定所述N個代表顯示面板中的每一個的基準補償參數；在目標顯示狀態下，確定所述N個代表顯示面板中的每一個的目標補償參數；根據所述N個代表顯示面板的所確定的基準補償參數和目標補償參數，擬合出針對所述目標顯示狀態的校正系數。

在一些實施例中，所述N個代表顯示面板中的每一個的需要補償的位置，在基準顯示狀態下，使用下式來進行補償：

y＝aij·x+bij

在目標顯示狀態下，使用下式來進行補償：