[發明專利]一種基于灰度相關性的面向對象正射影像質量檢查方法有效
| 申請號: | 201811119148.1 | 申請日: | 2018-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN109461137B | 公開(公告)日: | 2022-02-25 |
| 發明(設計)人: | 譚凱;黃方紅;王振宇;盧毅;吳菲菲 | 申請(專利權)人: | 蘇州中科天啟遙感科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/44 |
| 代理公司: | 蘇州集律知識產權代理事務所(普通合伙) 32269 | 代理人: | 安紀平 |
| 地址: | 215000 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 灰度 相關性 面向 對象 射影 質量 檢查 方法 | ||
1.一種基于灰度相關性的面向對象正射影像質量檢查方法,其特征在于,所述質量檢查方法包括:
數據準備,包括獲取待處理的光學遙感衛星正射影像;任務確定,包括正射影像有效范圍計算,根據影像重疊范圍確定接邊以及定位精度檢查任務;
影像分塊,若待處理影像中存在多光譜影像,首先將其轉為全色影像,并根據待處理范圍將重疊區域進行分塊處理;
超像素分割,利用SLIC(simple linear iterativeclustering)算法對光學遙感衛星影像進行超像素分割,若待處理影像塊為16位影像,首先將其轉為8位數據,然后將影像塊進行超像素分割,使得灰度以及紋理相近的像素歸并為同一超像素;
超像素相關性矩陣計算,在搜索窗口內,移動式計算超像素塊與底圖或者接邊影像的相關性,統計接邊、定位偏差以及確定偏移方向,包括:
將正射影像超像素sdom={sdp_1…sdp_i…sdp_n}依據地理轉換參數投影到底圖,獲取底圖上相同大小的超像素塊sref={srp_1…srp_i…srp_n},并在底圖上的搜索窗口內移動,分別獲取底圖超像素sref(m,n)(x∈[-winm,winn],y∈[-winm,winn])
其中,sdp_i為正射影像超像素中第i個像元的灰度值,srp_i為底圖超像素中第i個像元的灰度值,sref(m,n)為在底圖上橫向移動m像元,縱向移動n像元時獲取的底圖超像素,winm、winn分別為搜索窗口的寬度和高度;
分別計算正射影像超像素sdom與各個底圖超像素sref(x,y)的灰度相關系數r(m,n);統計r(m,n)中最大值rmax,此時的m,n即為正射超像素相對于底圖在橫向和縱向偏移值;
以此類推,遍歷正射影像上所有超像素塊,并計算相對于底圖的偏移量,完成正射影像質量檢查工作。
2.根據權利要求1所述的基于灰度相關性的面向對象正射影像質量檢查方法,其特征在于,所述光學遙感衛星正射影像為8位或16位,全色影像或多光譜影像,TIF\PIX\IMG數據格式。
3.根據權利要求1所述的基于灰度相關性的面向對象正射影像質量檢查方法,其特征在于,所述正射影像有效范圍包括:
分別搜索影像左上、右上、左下、右下角點有效像元的影像坐標(ximg,yimg);
根據影像的地理轉換參數,計算各影像角點緯度坐標(xgeo,ygeo),計算公式如下所示:
xgeo=xgeo_begin+ximg×xresolution+yimg×gt1
ygeo=ygeo_begin+ximg×gt2+yimg×yresolation
其中,(xgeo_begin,ygeo_begin)為影像左上角點經緯度;xresolution,yresolution分別為x和y方向上的分辨率;gt1,gt2分別為南北、東西方向旋轉參數;
根據影像地理范圍確定接邊以及定位精度檢查任務,若兩景正射影像間有重疊,則該兩景正射影像構成一個接邊任務,而單景正射影像及其有重疊區域的所有底圖構成一個定位任務。
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