[發明專利]光電倍增管線性測量方法

有效

• 申請號: 201811117072.9
• 申請日: 2018-09-25
• 公開（公告）號: CN109283447B
• 公開（公告）日: 2021-01-19
• 發明（設計）人: 呂綺雯;吳和宇
• 申請（專利權）人: 江蘇賽諾格蘭醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01M11/00;G01D18/00
• 代理公司: 北京易捷勝知識產權代理事務所(普通合伙) 11613
• 代理人: 韓國勝

本發明涉及一種光電倍增管線性測量系統及方法。該光電倍增管線性測量系統包括：光源和控制系統，分光系統和測量系統；光源和控制系統，包括發光二極管和脈沖電路；發光二極管，用于產生光源；脈沖電路，用于控制發光二極管；分光系統，包括：光導和遮光片；光導，用于均勻光的強度和方向；發光二極管嵌入光導正中心；測量系統，包括光電倍增管分壓電路、供電高壓、整形放大電路和數據采集設備。本發明的光電倍增管線性測量系統通過控制發光二極管的發光以及遮光片的變化，一次完成光電倍增管線性測量。

技術領域

本發明涉及光電倍增管線性測量技術領域，尤其涉及一種光電倍增管線性測量方法。

背景技術

光電倍增管是一種技術成熟，使用廣泛的光探測器件，廣泛應用于光子計數、極微弱光探測、化學發光、生物發光研究、極低能量射線探測、分光光度計、旋光儀、色度計、照度計、塵埃計、濁度計、光密度計、熱釋光量儀、輻射量熱計、掃描電鏡、生化分析儀等儀器設備中。

一般情況下，光電倍增管光譜響應特性的長波段取決于光陰極材料，光電倍增管出廠時僅為用戶提供陰極和陽極的光照靈敏度。由于光電倍增管的生產和加工工藝決定，同工藝同批次的光電倍增管在相同工作電壓下其電流放大倍數相差也可能是巨大的，可能存在10倍以上甚至更大差異。在使用多光電倍增管精密測量的儀器設備中，必須在使用前對每一只光電倍增管的工作電壓和增益以及其線性進行測量，并利用其線性和增益設計特殊工作電路進行補償，包括篩選出不符合要求的光電倍增管，即難于通過補償獲得相似或相近性能的光電倍增管。

發明內容

(一)要解決的技術問題

為了進行光電倍增管線性測量，本發明提供一種光電倍增管線性測量系統及方法。

(二)技術方案

為了達到上述目的，本發明采用的主要技術方案包括：

一種光電倍增管線性測量系統，包括：光源和控制系統，分光系統和測量系統；

所述光源和控制系統，包括發光二極管和脈沖電路；

所述發光二極管，用于產生光源；

所述脈沖電路，用于控制所述發光二極管；

所述分光系統，包括：光導和遮光片；

所述光導，用于均勻光的強度和方向；

所述發光二極管嵌入所述光導正中心；

所述測量系統，包括光電倍增管分壓電路、供電高壓、整形放大電路和數據采集設備。

可選地，所述發光二極管與測量對象的發光波長峰值與強度匹配。

可選地，所述脈沖電路，用于通過脈沖的幅度頻率控制所述發光二極管的發光頻率、光通量和脈沖形狀；

所述脈沖電路，包括：脈沖產生器和相關電路。

可選地，所述光導進行表面漫反射處理，所述表面漫反射處理為涂層處理，或者，所述表面漫反射處理為磨砂處理；

所述光導，用于通過處理后的表面，將光線進行多次慢反射，均勻光的強度和方向。

可選地，所述遮光片為圓形金屬板；

所述遮光片上環狀排列均勻分布的孔，所述孔的數量為大于1的偶數，孔與孔之間間距相等，每個孔到金屬板的圓心距離相等；

每個孔到金屬板的圓心的距離小于所述光電倍增管入射窗的光敏半徑。

可選地，所述遮光片上環狀排列均勻分布12個孔，任一孔的直徑為2毫米mm；

所述圓形金屬板的直徑為26.1mm；