[發明專利]地下水定深取樣探頭、使用該探頭的采樣系統及采樣方法

有效

• 申請號: 201811116334.X
• 申請日: 2018-09-25
• 公開（公告）號: CN108956211B
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發明（設計）人: 鐘茂生;趙瑩;姜林;付全凱;鄭瑞;韓丹;張瑞環
• 申請（專利權）人: 北京市環境保護科學研究院
• 主分類號: G01N1/16
• 分類號: G01N1/16;G01N33/18
• 代理公司: 北京中建聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 11004
• 代理人: 劉湘舟;宋元松

本發明公開了一種地下水定深取樣探頭、使用該探頭的采樣系統及采樣方法，地下水定深取樣探頭包括：快接接頭；頂端螺紋堵帽，頂端螺紋堵帽上開設有開孔，快接接頭設置在開孔處；底端螺紋堵帽；內部襯管，內部襯管設置于頂端螺紋堵帽與底端螺紋堵帽之間，內部襯管上設置有多個孔；以及外部套管，外部套管設置于頂端螺紋堵帽與底端螺紋堵帽之間，外部套管套在內部襯管外部，外部套管上設置有多個孔；其中，頂端螺紋堵帽與底端螺紋堵帽是通過內部襯管與外部套管連接在一起的，外部套管上的多個孔的直徑小于內部襯管上的多個孔的直徑；其中，快接接頭、頂端螺紋堵帽、底端螺紋堵帽、內部襯管以及外部套管是不銹鋼材質制造的。

技術領域

本發明是關于污染場地調查與健康風險評估技術領域，特別是關于一種地下水定深取樣探頭、使用該探頭的采樣系統及采樣方法。

背景技術

隨著我國“退二進三”、“退城進園”、“產業結構調整與升級”以及加速城鎮化等政策的不斷落實，原本位于城市邊緣地帶的生產企業逐步關停搬遷，為城市建設騰退土地。但是，因早期環保意識較弱，部分企業在生產期間因環保措施落實不到位等因素，對企業內部土壤和地下水造成了一定程度的污染。為確保此類場地再開發利用過程中的人群健康和生態環境安全，生態環境部明確要求需對疑似污染地塊開展土壤和地下水污染調查，對于確認存在污染的地塊，需進一步開展風險評估，并根據風險評估結果制定風險管控與治理修復方案。

因此，清晰查明土壤和地下水中污染物的分布，是開展風險評估及編制風險管控與治理修復方案的基礎。鑒于污染調查結果的重要性，國外目前提出了污染場地分辨率調查(即高分辨率刻畫)的概念，綜合運用現場快速檢測、物探、熒光快速檢測等手段，在米級尺度查明污染物的空間分布。其中，對地下水實現分層取樣監測，是國外針對場地地下水污染進行高分辨率刻畫的重要手段。但是，受經費的限制國內相關單位開展場地調查過程中在平面和垂向上采樣點的設置是有限的。尤其針對地下水含水層較厚的場地，為節省鉆探建井的成本，眾多調查單位往往僅建設完整井進行地下水樣品采集，以表征場地地下水的污染狀況。此類監測井的篩管往往貫穿整個地下水含水層，因此采集的地下水是代表的是整個含水層的混合樣，污染物檢測結果往往比地層中地下水的實際污染狀況要明顯偏低，并不能清晰的表征污染物在含水層的具體分布及濃度垂向分布特征，難以為后續風險評估及風險管控與治理修復方案的制定提供有力的支撐，并且還可能導致污染范圍的夸大。

針對這一問題，國內目前雖有少量單位嘗試在同一個監測點附近建設組井或巣式地下水監測井，即在同一位置建設多個監測井，通過設計每個監測井篩管的安裝位置實現采集不同深度的地下水樣品。但是，這種方式的缺點在于成本相對較高、現場安裝建井的時間周期長。同時，因這種方式通常采用外徑約50mm的監測井井管，導致成井洗井和采樣前洗井過程中產生大量的廢水，洗井時間較長。此外，在一些含有粉土等細顆粒的地層中采用這種方式建設地下水監測井，往往難以達到相關技術規范要求的洗井要求。

針對目前國內地下水監測井建井難以實現高分辨率的污染刻畫，本發明提出了一種用于場地地下水污染高分辨率刻畫的地下水采樣系統與采樣方法。該方法具有安裝簡單、成本低、洗井采樣過程廢水產生量少等優點，非常適合于地下水埋深交錢、含水層較厚的場地地下水污染空間分布刻畫過程的樣品采集。

公開于該背景技術部分的信息僅僅旨在增加對本發明的總體背景的理解，而不應當被視為承認或以任何形式暗示該信息構成已為本領域一般技術人員所公知的現有技術。

發明內容

本發明的目的在于提供一種地下水定深取樣探頭、使用該探頭的采樣系統及采樣方法，其能夠克服現有技術的缺點。