[發(fā)明專利]金屬應(yīng)力腐蝕過程中界面微區(qū)pH值動態(tài)變化監(jiān)測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811114056.4 | 申請日: | 2018-09-25 |
| 公開(公告)號: | CN109187326A | 公開(公告)日: | 2019-01-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 朱永艷 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇師范大學(xué) |
| 主分類號: | G01N17/02 | 分類號: | G01N17/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 221009 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 動態(tài)變化 工作電極 微區(qū) 金屬應(yīng)力腐蝕 監(jiān)測 電解質(zhì)溶液 還原電流 應(yīng)力腐蝕 拉應(yīng)力 施加 陰極極化電位 金屬 電流數(shù)據(jù) 腐蝕電流 極化電位 監(jiān)測裝置 拉伸金屬 實時原位 重現(xiàn)性 還原 響應(yīng) 制作 應(yīng)用 | ||
本發(fā)明公開一種金屬應(yīng)力腐蝕過程中界面微區(qū)pH值動態(tài)變化監(jiān)測方法。本發(fā)明原理是對被拉伸金屬試樣施加拉應(yīng)力,在拉應(yīng)力和電解質(zhì)溶液的共同作用下,對第一工作電極施加極化電位E1,金屬發(fā)生應(yīng)力腐蝕,在應(yīng)力腐蝕過程中,對第二工作電極施加陰極極化電位E2,在第二工作電極上發(fā)生H+被還原的反應(yīng),得到的電流數(shù)據(jù)分別是第一工作電極的腐蝕電流和第二工作電極產(chǎn)生的還原電流,還原電流的動態(tài)變化即為微區(qū)H+濃度的動態(tài)變化。本監(jiān)測方法能夠?qū)崟r原位監(jiān)測金屬/電解質(zhì)溶液界面微區(qū)pH值的動態(tài)變化;具有穩(wěn)定性好、響應(yīng)快、精確度高、重現(xiàn)性好等優(yōu)點;監(jiān)測裝置易于制作,成本低廉,操作簡便,易于使用,應(yīng)用范圍廣泛。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種pH值動態(tài)變化的監(jiān)測方法,具體是一種金屬應(yīng)力腐蝕過程中界面微區(qū)pH值動態(tài)變化監(jiān)測方法。
背景技術(shù)
金屬的應(yīng)力腐蝕(Stss Corrosion Cracking,SCC)是一種較為常見的局部腐蝕,也是危害最大的腐蝕形式之一。金屬在發(fā)生應(yīng)力腐蝕時,并不發(fā)生明顯的均勻腐蝕,在其表面產(chǎn)生的腐蝕產(chǎn)物也極少、不明顯。因此,應(yīng)力腐蝕往往在沒有任何征兆的情況下突然發(fā)生,是一種災(zāi)難性腐蝕。對金屬采取合適的防護措施以避免應(yīng)力腐蝕的發(fā)生發(fā)展能夠保證設(shè)施安全、避免損失。而弄清楚金屬應(yīng)力腐蝕的機理和影響因素是發(fā)展防護技術(shù)的關(guān)鍵。
傳統(tǒng)的研究金屬應(yīng)力腐蝕機理和影響因素的方法主要有拉伸實驗、快慢動電位極化掃描技術(shù)和非原位的表面物理技術(shù)。拉伸實驗,按其加載方式,可分為恒載荷、恒變形和慢應(yīng)變速率拉伸等。非原位的表面物理技術(shù)主要是采用掃描電鏡(SEM)和EDS(EnergyDispersive Spectrometer)等觀察斷口形貌以及對斷口處腐蝕產(chǎn)物成份進行分析。這些國內(nèi)外普遍使用的傳統(tǒng)方法,只能夠獲得被腐蝕金屬在某一段時間內(nèi)的整體應(yīng)力-應(yīng)變信息和電化學(xué)信息,有一定的局限性。因此有必要發(fā)展新的思路和方法研究應(yīng)力腐蝕,以期得到金屬應(yīng)力腐蝕過程中的實時原位動態(tài)信息,并據(jù)此深入探討應(yīng)力腐蝕的機理和影響因素。
研究應(yīng)力腐蝕過程中金屬/電解質(zhì)溶液界面微區(qū)pH值的動態(tài)變化可以獲得更多的應(yīng)力腐蝕過程中的電化學(xué)信息和界面動態(tài)信息,進而可以深入探討應(yīng)力腐蝕的機理及其影響因素[1]。比如,可以根據(jù)微區(qū)pH值的動態(tài)變化去推測電極表面膜的組成及其變化、探討應(yīng)力腐蝕的發(fā)生發(fā)展過程、判斷應(yīng)力腐蝕所處的發(fā)展階段、深入研究應(yīng)力腐蝕的影響因素、判斷防護措施的效果等等。
傳統(tǒng)的用于測量pH值的各種玻璃電極、金屬-金屬氧化物電極、離子選擇性電極及(醌)氫醌電極等,一般體積較大,不能用于實時原位監(jiān)測微區(qū)pH值的動態(tài)變化。最常見的玻璃電極用于測量pH值時還存在易破損、經(jīng)常需要進行標定、操作過程復(fù)雜等缺點,使用起來非常不方便。
近幾年,不斷有人研制出新型的用于測量微區(qū)pH值的電極/探針/傳感器等。但是它們大部分都存在著這樣或者那樣的問題,比如穩(wěn)定性差、響應(yīng)慢,精確度低、重現(xiàn)性差,操作復(fù)雜,價格昂貴等等。
發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本發(fā)明旨在提供一種金屬應(yīng)力腐蝕過程中界面微區(qū)pH值動態(tài)變化監(jiān)測方法,將聚苯胺用電化學(xué)的方法聚集到鉑微電極表面,通過恒電位儀電解池,對監(jiān)測數(shù)據(jù)進行采集,實現(xiàn)實時原位監(jiān)測金屬/電解質(zhì)溶液界面微區(qū)pH值的動態(tài)變化;確保監(jiān)測的穩(wěn)定性強、響應(yīng)快、精確度高、重現(xiàn)性好等特點;并達到操作簡便,易于使用,應(yīng)用范圍廣泛的目的。
為了實現(xiàn)上述目的,本金屬應(yīng)力腐蝕過程中界面微區(qū)pH值動態(tài)變化監(jiān)測方法,包括以下具體步驟:
A、制取第一工作電極,采用兩端具有螺紋的工字型棒狀被拉伸金屬試樣作為第一工作電極,被拉伸金屬試樣的中部細長部分為工作段;
B、制取第二工作電極;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江蘇師范大學(xué),未經(jīng)江蘇師范大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811114056.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





