[發(fā)明專利]一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置、檢測系統(tǒng)及方法

在審

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• 申請日: 2018-09-21
• 公開（公告）號: CN109187602A
• 公開（公告）日: 2019-01-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 武慧;唐起波
• 申請（專利權(quán)）人: 上海博物館;上海恩迪檢測控制技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046
• 代理公司: 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212
• 代理人: 楊倫

1.一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，包括：

載物臺，用于放置待檢物；

X軸微調(diào)機構(gòu)，連接在所述載物臺下端，用于沿X軸方向移動所述載物臺；

Y軸微調(diào)機構(gòu)，連接在所述X軸微調(diào)機構(gòu)下端，用于沿Y軸方向移動X軸微調(diào)機構(gòu)從而改變所述載物臺的位置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，還包括：

連接部件，連接部件的一端連接在Y軸微調(diào)機構(gòu)，另一端用于與無損檢測裝置的旋轉(zhuǎn)臺連接；

所述連接部件包括連接軸和用于與旋轉(zhuǎn)臺可拆卸連接的下安裝臺，所述連接軸的上端與Y軸微調(diào)機構(gòu)連接，所述連接軸的下端連接有所述下安裝臺。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，還包括：

滑環(huán)，套設(shè)在所述連接軸上且位于所述Y軸直線滑臺和所述下安裝臺之間。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，所述滑環(huán)包括：

內(nèi)環(huán)，與所述連接軸固定連接且能隨所述連接軸同步旋轉(zhuǎn)；

外環(huán)，與所述內(nèi)環(huán)滑動連接，所述外環(huán)上連接有外環(huán)固定部件，所述外環(huán)固定部件的一端與外環(huán)連接，另一端固定連接在旋轉(zhuǎn)臺下方的固定臺上。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，所述外環(huán)固定部件包括：

固定塊，所述固定塊的一端連接在外環(huán)上，另一端開設(shè)有卡口；

連接板，所述連接板的一端連接有與所述卡口適配的插銷，另一端開設(shè)有卡接槽；

固定板，所述固定板的一端固定連接在旋轉(zhuǎn)臺下方的固定臺上，另一端正對所述連接板的一側(cè)連接有與所述卡接槽相適配的鎖緊桿。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，還包括：

防護罩，圍罩在載物臺上且將所述X軸微調(diào)機構(gòu)、所述Y軸微調(diào)機構(gòu)和所述滑環(huán)包裹。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6任一項所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，

所述X軸微調(diào)機構(gòu)為X軸直線滑臺，所述Y軸微調(diào)機構(gòu)為Y軸直線滑臺，所述X軸直線滑臺連接在所述Y軸直線滑臺的滑臺上構(gòu)成十字滑臺結(jié)構(gòu)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，其特征在于，

所述X軸直線滑臺和Y軸直線滑臺上均設(shè)有行程開關(guān)。

9.一種用于射線無損檢測的檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括上述權(quán)利要求1至8任一項所述的用于射線無損檢測的微調(diào)裝置，還包括射線源系統(tǒng)、探測系統(tǒng)、機械掃描系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集傳輸系統(tǒng)、圖像處理系統(tǒng)和控制系統(tǒng)，且所述射線源系統(tǒng)、所述探測系統(tǒng)、所述機械掃描系統(tǒng)、所述數(shù)據(jù)采集傳輸系統(tǒng)、所述圖像處理系統(tǒng)均與所述控制系統(tǒng)連接，所述用于射線無損檢測的微調(diào)裝置安裝在所述機械掃描系統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)臺上。

10.一種用于射線無損檢測的檢測方法，其特征在于，利用上述權(quán)利要求1至8任一項所述的用于射線無損檢測的微調(diào)裝置或上述權(quán)利要求9所述的用于射線無損檢測的檢測系統(tǒng)進行無損檢測，其檢測包括以下步驟：

S1，工業(yè)CT設(shè)備初始化完成，將旋轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn)至0度，再將待檢物放置在所述用于射線無損檢測的微調(diào)裝置的載物臺上；

S2，開啟射線源，通過探測器實時采集到的圖像判斷待檢物的檢測位置是否處于檢測的中心位置，如果待檢物的檢測位置不在檢測的中心位置，則通過控制所述X軸微調(diào)機構(gòu)左右移動待檢物，使待檢物的檢測位置處于檢測的中心位置；

S3，將旋轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn)至90度，通過探測器實時采集到的圖像判斷待檢物的檢測位置是否處于檢測的中心位置，如果待檢物的檢測位置不在檢測的中心位置，則通過控制所述Y軸微調(diào)機構(gòu)左右移動待檢物，使待檢物的檢測位置處于檢測的中心位置；

S4，將旋轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn)360度，確認(rèn)待檢物的檢測位置處于檢測的中心位置；

S5，開啟旋轉(zhuǎn)臺下的旋轉(zhuǎn)電機，進行CT掃描，掃描完成后進行圖像處理。