[發(fā)明專利]生產管理方法、裝置及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811102742.X
• 申請日: 2018-09-20
• 公開（公告）號: CN110928933B
• 公開（公告）日: 2023-05-16
• 發(fā)明（設計）人: 張德波
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密電子（成都）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G06F16/248
• 分類號: G06F16/248;G06F16/25
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產權代理有限公司 44334
• 代理人: 劉永輝;李艷霞

1.一種生產管理方法，用于對產品組裝生產中的不良進行自動預警和分析，其特征在于，所述方法包括：

采集產品的不良信息；

判斷所述產品的不良信息是否符合預設的預警規(guī)則；

在判斷所述產品的不良信息符合所述預設的預警規(guī)則時，分析不良產生的原因，并控制顯示器進行預警，其中，所述分析不良產生的原因包括：以不良項目為根節(jié)點，與不良信息數據庫匹配，分析不良的一級原因，所述一級原因包括物料原因、制程原因和假性不良原因；以及獲取所述一級原因中的關鍵因子，與生產信息數據庫和測試信息數據庫中的至少一種相匹配，包括：當所述一級原因是物料時，將所述物料的物料名稱與所述生產信息數據庫進行匹配，在匹配一致時，形成不良項目為物料時的分裂式聚類，得到二級原因；當所述一級原因是制程時，將所述制程與所述生產信息數據庫進行匹配，在匹配一致時，形成不良項目為制程的分裂式聚類，得到二級原因；當所述一級原因是假性不良時，將所述假性不良與所述測試信息數據庫進行匹配，在匹配一致時，形成不良項目為假性不良時的分裂式聚類，得到二級原因；分析不良的二級原因；

依據所述不良信息及所述不良產生的原因生成不良信息的報表；

控制所述顯示器顯示所述不良信息的報表。

2.如權利要求1所述的生產管理方法，其特征在于：所述不良信息數據庫中存儲有同一類型的大量目標產品出現(xiàn)不良的項目和出現(xiàn)所述不良的原因；所述生產信息數據庫中存儲有目標產品的組裝線體信息及物料的配置信息；所述測試信息數據庫中存儲有目標產品的所有測試信息。

3.如權利要求1所述的生產管理方法，其特征在于：在控制顯示器顯示所述不良信息的報表之后，所述方法還包括步驟：

判斷所述不良產生的原因是否有集中性；

在判斷所述不良產生的原因有集中性時，查找所述原因相對應的歷史處置決策和責任工程師，并向所述責任工程師發(fā)送包括所述歷史處置決策的提醒信息；

接收并存儲所述責任工程師輸入的實際處置決策；

判斷產品是否仍存在所述不良；

在判斷產品不存在所述不良時，控制顯示器解除所述預警。

4.如權利要求3所述的生產管理方法，其特征在于：將所述不良產生的原因與優(yōu)先處置信息數據庫相匹配，以查找所述原因相對應的所述歷史處置決策和所述責任工程師，所述優(yōu)先處置信息數據庫中存儲有工程師通訊錄、各不良產生的原因對應的歷史處置決策和提醒信息生成模板。

5.一種生產管理裝置，用于對產品組裝生產中的不良進行自動預警和分析，其特征在于：所述生產管理裝置包括顯示器，所述生產管理裝置運行有生產管理系統(tǒng)，所述生產管理系統(tǒng)包括：

預警模塊，用于采集產品的不良信息；

所述預警模塊還用于判斷所述產品的不良信息是否符合預設的預警規(guī)則；

大數據分析模塊，用于在判斷所述產品的不良信息符合預設的預警規(guī)則時，分析不良產生的原因，包括：以不良項目為根節(jié)點，與不良信息數據庫匹配，分析不良的一級原因，所述一級原因包括物料原因、制程原因和假性不良原因；以及獲取所述一級原因中的關鍵因子，與生產信息數據庫和測試信息數據庫中的至少一種相匹配，包括：當所述一級原因是物料時，將所述物料的物料名稱與所述生產信息數據庫進行匹配，在匹配一致時，形成不良項目為物料時的分裂式聚類，得到二級原因；當所述一級原因是制程時，將所述制程與所述生產信息數據庫進行匹配，在匹配一致時，形成不良項目為制程的分裂式聚類，得到二級原因；當所述一級原因是假性不良時，將所述假性不良與所述測試信息數據庫進行匹配，在匹配一致時，形成不良項目為假性不良時的分裂式聚類，得到二級原因；分析不良的二級原因；

報表模塊，用于依據所述不良信息及所述不良產生的原因生成不良信息的報表；及

顯示控制模塊，用于控制顯示器進行預警和顯示所述不良信息的報表。

6.如權利要求5所述的生產管理裝置，其特征在于：所述不良信息數據庫中存儲有同一類型的大量目標產品出現(xiàn)不良的項目和出現(xiàn)所述不良的原因；所述生產信息數據庫中存儲有目標產品的組裝線體信息及物料的配置信息；所述測試信息數據庫中存儲有目標產品的所有測試信息。