[發明專利]一種紅外焦平面探測器非均勻性本體輸出校正方法及裝置有效
| 申請號： | 201811102187.0 | 申請日： | 2018-09-20 |
| 公開（公告）號： | CN109084899B | 公開（公告）日： | 2020-01-10 |
| 發明（設計）人： | 侯蒞聰;朱榮華;李世杰 | 申請（專利權）人： | 煙臺艾睿光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G01J5/00 | 分類號： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知識產權代理有限公司 | 代理人： | 羅滿 |
| 地址： | 264006 山東*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 非制冷紅外焦平面探測器 溫度區間 直線斜率 非均勻性 輸出校正 計算機可讀存儲介質 紅外焦平面探測器 工作溫度區間 輸出 普適性 溫度點 標定 探測器 觸發 快門 量產 場景 更新 預測 申請 | ||
1.一種非制冷紅外焦平面探測器非均勻性本體輸出校正方法，其特征在于，包括：
獲取非制冷紅外焦平面探測器的快門在三個連續相同間隔溫度點觸發更新時的第一本體輸出值和相對應的第一溫度值、第二本體輸出值和對應的第二溫度值、第三本體輸出值和對應的第三溫度值；
判斷所述非制冷紅外焦平面探測器的當前工作溫度所處的工作溫度區間，并根據該工作溫度區間對應的斜率計算當前工作溫度的本體輸出值；
其中，第一工作溫度區間小于所述第一溫度值，第二工作溫度區間大于所述第一溫度值且小于所述第二溫度值，第三工作溫度區間大于所述第二溫度值且小于所述第三溫度值，第四工作溫度區間大于所述第三溫度值；
根據所述第一本體輸出值、所述第一溫度值、所述第二本體輸出值、所述第二溫度值計算所述第二溫度區間的溫度-本體輸出值直線的第二斜率，根據所述第二本體輸出值、所述第二溫度值、所述第三本體輸出值、所述第三溫度值計算所述第三溫度區間的第三斜率；根據所述第二斜率、所述第三斜率和預設斜率調整值預測所述第一工作溫度區間和所述第四工作溫度區間的斜率。
2.根據權利要求1所述的非制冷紅外焦平面探測器非均勻性本體輸出校正方法，其特征在于，所述根據所述第二斜率、所述第三斜率和預設斜率調整值預測所述第一工作溫度區間和所述第四工作溫度區間的斜率包括：
根據下述公式計算第一預測斜率，以作為所述第一工作溫度區間的斜率：
Bk(n-1)'＝Bk(n)-(Bk(n+1)-Bk(n))*α；
根據下述公式計算第四預測斜率，以作為所述第四工作溫度區間的斜率：
Bk(n+2)'＝Bk(n+1)+(Bk(n+1)-Bk(n))*α；
其中，Bk(n-1)'為所述第一預測斜率，Bk(n)為所述第二斜率，Bk(n+1)為所述第三斜率，α為預設斜率調整值，Bk(n+2)'為所述第四預測斜率。
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