[發明專利]一種基于X光的精準測量成像系統在審
| 申請號: | 201811096304.7 | 申請日: | 2018-09-19 |
| 公開(公告)號: | CN109247948A | 公開(公告)日: | 2019-01-22 |
| 發明(設計)人: | 張軍;何香穎;侯雨舟 | 申請(專利權)人: | 曉智科技(成都)有限公司 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 成都頂峰專利事務所(普通合伙) 51224 | 代理人: | 喻依豐 |
| 地址: | 610000 四川省成都市郫*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 射線 厚度測量模塊 測量成像 曝光參數 病患 可見光 近可見光 射線輻射 射線影像 實時測量 體型數據 發射 低成本 超聲 球管 成像 照射 發送 輻射 拍攝 | ||
本發明公開了一種基于X光的精準測量成像系統,包括用于實時測量照射對象厚度值的厚度測量模塊;還包括用來接受厚度測量模塊發送的厚度值,并將厚度值帶入設有的EI標準范圍表中得到相應的曝光參數然后發射X?射線進行成像的X光成像模塊。本發明通過一種完全不同的、一體的、全自動的、低成本的、實時精準的獲取待拍攝病患所需X?射線輻射質量的技術,通過另外的、獨立于原始X?射線影像鏈的系統,使用可見光、近可見光、超聲等,獲取病患體型數據,并通過查“EI標準范圍表”獲取對應的曝光參數,指導X?射線球管發射對應輻射質量的X?射線。
技術領域
本發明屬于X-射線成像技術領域,具體涉及一種通過厚度值調節曝光參數的成像系統。
背景技術
X-射線又稱倫琴射線,它是肉眼看不見的一種射線,但可使某些化合物產生熒光或使照相底片感光;它在電場或磁場中不發生偏轉,能發生反射、折射、干涉、衍射等;它具有穿透物質的本領,但對不同物質它的穿透本領不同;能使分子或原子電離;有破壞細胞作用,人體不同組織對于X-射線的敏感度不同,受損害程度也不同。因此,X-射線能使人體在熒屏上或膠片上形成影像,是基于人體組織有密度和厚度的差別。X-射線之所以能使人體在熒屏上或膠片上形成影像,一方面是基于X線的特性,即其穿透性、熒光效應和攝影效應;另一方面是基于人體組織有密度和厚度的差別。由于存在這種差別,當X線透過人體各種不同組織結構時,它被吸收的程度不同,所以到達熒屏或膠片上的X線量即有差異。這樣,在熒屏或膠片上就形成黑白對比不同的影像。
對于準確獲取待拍攝病患所需X-射線輻射質量,主要體現在X-射線球管的工作管電壓kvp,以及工作電流積mA·s。前者決定X-射線球管發出的X-射線的能級,更高的管電壓對應更高的X-射線能級,也就對應著更強的X-射線穿透力;后者為電流與時間的乘積,共同決定了發出X-射線的量,更高的電流,更長的時間,對應更多的射線量)的需求由來已久,其決定了:X-射線成像質量;病患所接受的X-射線的量。對于前者,合適的穿透力,配上合適的X-射線量,才能產生合適的(清晰的,準確的)圖像,方便診斷醫生診斷;對于后者,更高的能級以及更多的射線量自然會對患者產生更大的傷害。
現有技術中,有通過使用電離室測量X-射線吸收量來間接指導調整曝光參數的。該技術通過測量多塊位于探測器(X-射線探測接收裝置)不同方位的電離室對X-射線的吸收量,來“告知”高壓發生器(能量發生裝置)是否需要繼續供能:如果電離室的吸收量低于某個閾值,說明輻射量不夠,則“告知”高壓發生器繼續供能;如果電離室的吸收量達到或大于該閾值,說明輻射量充足或過量,則“告知”高壓發生器停止供能。該技術解決了部分問題:可以實時控制X-射線輻射量,即X-射線球管的工作電流積mA·s,但無法控制其輻射質,即工作管電壓kvp,且電離室造價昂貴,易損壞,維護成本高,對診斷醫師的專業要求極高,這對目前從業人員只擁有相對較低的整體素質的現狀是嚴峻的考驗。
發明內容
為了解決現有技術中無法準確根據實際情況獲取精準的曝光參數而只能憑操作人員的經驗調整導致效率較低且精度不穩定的問題,本發明提供一種可通過實施檢測照射對象厚度值并根據預先寫入系統內的EI標準范圍表找到對應參數進行準確成像的X光成像系統。
本發明所采用的技術方案為:一種基于X光的精準測量成像系統,包括:
用于實時測量照射對象厚度值的厚度測量模塊;
還包括用來接受厚度測量模塊發送的厚度值,并將厚度值帶入設有的EI標準范圍表中得到相應的曝光參數然后發射X-射線進行成像的X光成像模塊。
其中,所述X光成像模塊即為一個完整的X光成像設備,并預先寫入了EI標準范圍表。現有的X光成像設備在發射X-射線時,需要調整照射參數,從而達到最佳的照射劑量。現有技術在調整照射參數時,常常會根據操作人員的經驗,并根據不同的照射對象和照射部位進行調整,從而確定一個范圍值。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于曉智科技(成都)有限公司,未經曉智科技(成都)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811096304.7/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





