[發明專利]校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法

有效

• 申請號: 201811091843.1
• 申請日: 2018-09-19
• 公開（公告）號: CN109188836B
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 葉永青;岑權;羅菁冬
• 申請（專利權）人: 深圳睿晟自動化技術有限公司
• 主分類號: G03B21/20
• 分類號: G03B21/20
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 張全文

1.一種校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：包括以下步驟：

預備

光源，所述光源可形成特定的光源圖案，所述光源圖案具有中心點和外輪廓，所述外輪廓由多個輪廓點組合而成；

投影光學器件，所述投影光學器件具有中心軸，所述投影光學器件用于將所述光源圖案形成特定的結構光圖案，所述光源與所述投影光學器件組合形成結構光投影模組；

投影圖案檢測系統，所述投影圖案檢測系統內設有所述中心點與各所述輪廓點之間的標準距離參數，所述投影圖案檢測系統用于將所述中心點與所述中心軸的距離差值反饋至結構光投影模組調節系統；

及結構光投影模組調節系統；

通過所述投影圖案檢測系統檢測所述輪廓點，并根據所述標準距離參數獲取所述中心點的位置信息；

所述結構光投影模組調節系統根據所述中心點的位置信息調整所述光源與所述投影光學器件間的相對位置使所述中心點與所述中心軸位于同一直線上。

2.根據權利要求1所述的校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：所述結構光投影模組調節系統將所述光源與所述投影光學器件間的相對位置調整至所述中心點與所述中心軸位于同一直線上的過程中，所述投影圖案檢測系統實時監測各所述輪廓點，根據所述標準距離參數計算所述中心點的實時位置，并計算所述中心點與所述中心軸的實時距離差值以及實時調整方向。

3.根據權利要求2所述的校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：所述光源圖案為規則的多邊形結構圖案或者圓形結構圖案。

4.根據權利要求1所述的校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：所述投影圖案監測系統包括用于對所述結構光圖案進行圖像顯影的結構光圖案承載面以及獲取所述輪廓點信息的圖像信息獲取結構，所述圖像信息獲取結構位于所述結構光圖案承載面一側，且所述光源和所述投影光學器件位于所述結構光圖案承載面同一側。

5.根據權利要求4所述的校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：所述結構光圖案與所述光源圖案完全投射于所述結構光圖案承載面上，所述圖像信息獲取結構可獲取所述結構光圖案承載面上的所有信息。

6.根據權利要求5所述的校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：所述光源為多個按特定規則排列以形成所述光源圖案的垂直腔面發射激光器。

7.根據權利要求4～6任一項所述的校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：以所述結構光圖案承載面所在平面為基準面，所述基準面具有相互垂直的X軸、Y軸，垂直于所述基準面為Z軸，所述結構光投影模組調節系統可帶動所述投影光學器件分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸移動，和/或所述結構光投影模組調節系統可帶動所述投影光學器件分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸轉動。

8.根據權利要求4～6任一項所述的校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：以所述結構光圖案承載面所在平面為基準面，所述基準面具有相互垂直的X軸、Y軸，垂直于所述基準面為Z軸，所述結構光投影模組調節系統可帶動所述光源分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸移動，和/或所述結構光投影模組調節系統可帶動所述光源分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸轉動。

9.根據權利要求4～6任一項所述的校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：以所述結構光圖案承載面所在平面為基準面，所述基準面具有相互垂直的X軸、Y軸，垂直于所述基準面為Z軸，所述結構光投影模組調節系統可同時分別帶動所述光源和所述投影光學器件分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸移動，和/或所述結構光投影模組調節系統可同時分別帶動所述光源和所述投影光學器件分別沿X軸、和/或Y軸、和/或Z軸轉動。

10.根據權利要求4～6任一項所述的校正光源圖案的中心點至投影光學器件的中心軸的方法，其特征在于：所述結構光投影模組與圖像信息獲取結構位于所述結構光圖案承載面的同側；或所述結構光投影模組與圖像信息獲取結構位于所述結構光圖案承載面的相對兩側。