[發(fā)明專利]三維彈頭痕跡測量儀器的精度評價方法

有效

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• 申請日: 2018-09-19
• 公開（公告）號: CN109115111B
• 公開（公告）日: 2020-07-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 位恒政;王為農(nóng);裴麗梅;任國營;鄭慶國
• 申請（專利權(quán)）人: 中國計量科學(xué)研究院
• 主分類號: G01B9/04
• 分類號: G01B9/04;G01N21/84;G06Q10/06;G06F30/20
• 代理公司: 北京慧誠智道知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11539
• 代理人: 戴燕

本發(fā)明實(shí)施例涉及一種三維彈頭痕跡測量儀器的精度評價方法,包括：從彈頭痕跡數(shù)據(jù)庫中調(diào)用彈頭痕跡三維數(shù)據(jù)，確定隨機(jī)信號的隨機(jī)參數(shù)的范圍；根據(jù)隨機(jī)參數(shù)確定隨機(jī)信號，組合成組合隨機(jī)信號；利用組合隨機(jī)信號生成多個隨機(jī)痕跡信息，排列成二維截面痕跡信息；確定二維截面痕跡信息對應(yīng)的長度信息；根據(jù)二維截面痕跡信息和長度信息確定彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器的三維模型數(shù)據(jù)，利用三維模型數(shù)據(jù)制造彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器；將彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行光譜共焦測量和處理得到三維模型數(shù)據(jù)；利用彈頭痕跡測量儀器測量彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器得到第二測量數(shù)據(jù)；將三維模型數(shù)據(jù)與第二測量數(shù)據(jù)進(jìn)行比對，得到比對結(jié)果信息；根據(jù)比對結(jié)果信息生成彈頭痕跡測量儀器的精度評價信息。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及彈頭痕跡測量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種三維彈頭痕跡測量儀器的精度評價方法。

背景技術(shù)

隨著國內(nèi)槍案發(fā)生率的上升，公安機(jī)關(guān)在案件偵破過程中面臨的一個艱巨任務(wù)就是各地槍案的并案處理，即對流竄作案的槍支進(jìn)行同一認(rèn)定，為持槍犯罪的量刑提供有力的證據(jù)。彈頭痕跡是非常重要的信息，如同每個人獨(dú)特的指紋,每只槍也有獨(dú)特的彈痕，通過對作案現(xiàn)場遺留的不同彈痕的甄別,能夠確定作案槍支的具體情況,從而為案件偵破提供重要技術(shù)保證。

彈痕測量的準(zhǔn)確性直接決定了彈痕鑒別的可靠性。目前國內(nèi)彈頭痕跡的檢測技術(shù)多以定性分析為主，主要是借助比較顯微鏡進(jìn)行人工觀察比對，受人為影響較大，周期長。基于圖像相關(guān)的彈痕比對方法的研究非常廣泛，在國內(nèi)公安系統(tǒng)內(nèi)應(yīng)用較多，其原理是用CCD相機(jī)進(jìn)行痕跡圖像的獲取，進(jìn)行相關(guān)性判斷。由于彈頭是金屬材質(zhì)，對光照比較敏感，易產(chǎn)生反光，光照角度不同導(dǎo)致拍攝的圖像差異較大；其次，該方法只能夠獲取二維圖像，無法獲取深度信息；這些因素都會影響相關(guān)系數(shù)的計算，造成誤判。彈頭痕跡的三維測量方法可有效獲得深度信息，并且復(fù)現(xiàn)性好、客觀性強(qiáng)，是彈頭痕跡測量的發(fā)展趨勢。

上述方法均實(shí)現(xiàn)了彈痕三維數(shù)據(jù)的采集和分析，但現(xiàn)有技術(shù)中的儀器說明只給出分辨率或者重復(fù)性參數(shù)，不能代表真實(shí)的測量精度。數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性是彈痕比較的基礎(chǔ)，如何評價彈痕測量儀器的測量精度成為有待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種三維彈頭痕跡測量儀器的精度評價方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種三維彈頭痕跡測量儀器的精度評價方法，包括：

從彈頭痕跡數(shù)據(jù)庫中調(diào)用彈頭痕跡三維數(shù)據(jù)，根據(jù)所述彈頭痕跡三維數(shù)據(jù)確定隨機(jī)信號的隨機(jī)參數(shù)的數(shù)值范圍，所述隨機(jī)參數(shù)包括頻率、振幅和相位；

根據(jù)所述隨機(jī)參數(shù)的數(shù)值范圍確定多個所述隨機(jī)信號，并將多個所述隨機(jī)信號進(jìn)行組合，得到組合隨機(jī)信號；

利用所述組合隨機(jī)信號生成多個隨機(jī)痕跡信息，將所述多個隨機(jī)痕跡信息按照預(yù)設(shè)方式進(jìn)行排列，得到二維截面痕跡信息；

根據(jù)子彈長度信息確定二維截面痕跡信息對應(yīng)的長度信息；

根據(jù)所述二維截面痕跡信息和所述長度信息確定彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器的三維模型數(shù)據(jù)，利用所述三維模型數(shù)據(jù)制造所述彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器；

將所述彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行光譜共焦測量，得到所述彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器的第一測量數(shù)據(jù)；

將所述第一測量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，得到所述彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器的三維模型數(shù)據(jù)；

利用彈頭痕跡測量儀器測量所述彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器，得到所述彈頭痕跡標(biāo)準(zhǔn)器的第二測量數(shù)據(jù)；

將所述三維模型數(shù)據(jù)與所述第二測量數(shù)據(jù)進(jìn)行比對，得到比對結(jié)果信息；

根據(jù)所述比對結(jié)果信息生成所述彈頭痕跡測量儀器的精度評價信息。

進(jìn)一步的，所述從彈頭痕跡數(shù)據(jù)庫中調(diào)用彈頭痕跡三維數(shù)據(jù)，根據(jù)所述彈頭痕跡三維數(shù)據(jù)確定隨機(jī)信號的隨機(jī)參數(shù)的范圍具體包括：