[發明專利]實現數據可靠讀寫的方法以及系統、存儲介質

在審

• 申請號: 201811082866.6
• 申請日: 2018-09-17
• 公開（公告）號: CN109375869A
• 公開（公告）日: 2019-02-22
• 發明（設計）人: 弗蘭克·陳;顏巍
• 申請（專利權）人: 至譽科技(武漢)有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06;G06F11/30;G06F11/10;G06F11/14
• 代理公司: 武漢智權專利代理事務所(特殊普通合伙) 42225
• 代理人: 張凱

本發明提供實現數據可靠讀寫的方法以及系統、存儲介質，涉及數據存儲裝置以及方法，屬于數據存儲的方法領域方法包括以下步驟：在存儲芯片寫入數據時，記錄寫入溫度T1；寫入完成后，實時監測存儲芯片所處的環境溫度T2；判斷環境溫度T2與寫入溫度T1之間的差值是否超過閾值t，如果超過進入下一步；當差值超過閾值t時，對存儲的數據進行檢驗并得到數據的誤碼率；判斷數據的誤碼率是否達到誤碼率閾值，如果達到誤碼率閾值則進行數據恢復。對應的還提供對應的系統和存儲介質。

技術領域

本發明涉及數據存儲裝置以及方法，屬于數據存儲的方法領域。

背景技術

隨著閃存的更新換代，閃存中存儲的數據對溫度的變化越來越敏感，譬如，高溫下寫入的數據,在低溫下讀取出錯的機率會大幅度增加,反之也是。

然而，越來越多的閃存比如SSD固態硬盤或是存儲陣列在工業場合被使用，而這些場合的環境溫度的變化是十分寬泛的：從-40℃-+85℃，這這種大溫差環境下工作環境下，閃存中寫入的數據會隨著外界環境溫度的變化發生變化，即存儲芯片中的0、1數碼狀態發生改變，當改變到一定程度后，會導致存儲的數據、文件發生損壞或是丟失。

現有技術中尚沒有較好的解決方案，業界通常的方法是建立備份，即在特定的恒溫環境中建立服務器或是存儲中心來備份保存關鍵的數據，顯然該種方案并不適合所有的用戶，特別是不適合個人消費用戶以及中小企業使用。

發明內容

本發明是為了解決上述寬溫差條件下，現有技術不能較好的實現數據可靠讀寫的問題而進行的，目的在于提供一種實現數據可靠讀寫的方法以及系統，該方法應用在使用閃存的存儲裝置上解決了寬溫差下數據可靠讀寫的問題。

本發明提供一種實現數據可靠性讀寫的方法，其特征在于，包括以下步驟：

在存儲芯片寫入數據時，記錄寫入完成時的寫入溫度T₁；

時監測存儲芯片所處的環境溫度T₂；

判斷環境溫度T₂與寫入溫度T₁之間的差值是否超過閾值t；

當差值超過閾值t時，對存儲的數據進行檢驗并得到數據的誤碼率；

判斷數據的誤碼率是否達到誤碼率閾值，如果達到誤碼率閾值則進行數據恢復。

本發明提供的實現數據可靠性讀寫的方法，還可以具有這樣的特征，其中，記錄寫入溫度T1的過程包括：

其中，記錄寫入溫度T1的過程包括：

將存儲芯片劃分為多個存儲區域，所述存儲區域包含多個存儲單位；

當存儲區域被寫滿時，記錄該時刻對應的溫度T1，并被作為元數據寫入存儲到存儲芯片的特定區域，得到每個存儲單位對應的寫入溫度T1。

本發明提供的實現數據可靠性讀寫的方法，還可以具有這樣的特征，其中，所述存儲單位為存儲塊或存儲頁。

本發明提供的實現數據可靠性讀寫的方法，還可以具有這樣的特征，其中，步驟二中實時監測環境溫度T₂的采樣頻率為每1-30秒一次。

本發明提供的實現數據可靠性讀寫的方法，還可以具有這樣的特征，其中，對存儲的數據進行檢驗的過程包括：

比較所有的存儲單位對應的環境溫度T₂與寫入溫度T₁之間的差值并根據數值大小進行排列，優先對差值數據大的存儲單位進行數據掃描。

本發明提供的實現數據可靠性讀寫的方法，還可以具有這樣的特征，其中，對存儲的數據進行檢驗的過程包括：

當沒有數據寫入時，對整個存儲芯片的所有存儲單位的數據進行掃描。