[發明專利]圖像形成裝置以及圖像形成裝置的控制方法

有效

• 申請號: 201811078244.6
• 申請日: 2018-09-17
• 公開（公告）號: CN109541909B
• 公開（公告）日: 2022-02-25
• 發明（設計）人: 小堀一樹
• 申請（專利權）人: 柯尼卡美能達株式會社
• 主分類號: G03G15/02
• 分類號: G03G15/02;G03G15/00
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 孫蕾

1.一種圖像形成裝置，具備：

感光體，在所述感光體的表面形成有感光層；

帶電裝置，通過與所述感光體之間的放電使所述感光體的表面帶電；

運算部，使用所述帶電裝置的預先測定出的相對介電常數的測定值來計算施加到所述帶電裝置的峰間電壓；以及

控制部，控制施加到所述帶電裝置的電壓，以使該電壓成為由所述運算部計算出的所述峰間電壓，

所述運算部使用根據對所述相對介電常數造成影響的指標的值來變更所述測定值而得到的相對介電常數的值來計算所述峰間電壓。

2.根據權利要求1所述的圖像形成裝置，其中，

所述指標為施加到所述帶電裝置的電壓的頻率。

3.根據權利要求1所述的圖像形成裝置，其中，

所述指標為所述感光體的圓周速度。

4.根據權利要求2或者3所述的圖像形成裝置，其中，

在使所述指標比預定的基準值大時，所述運算部使用變更得比所述測定值低的相對介電常數的值來進行計算，從而使所述峰間電壓比與所述測定值對應的值高。

5.根據權利要求1所述的圖像形成裝置，其中，

所述指標為所述帶電裝置的周邊的溫度。

6.根據權利要求1所述的圖像形成裝置，其中，

所述指標為所述帶電裝置的周邊的相對濕度。

7.根據權利要求5或者6所述的圖像形成裝置，其中，

在所述指標比預定的基準值大時，所述運算部使用變更得比所述測定值高的相對介電常數的值來進行計算，從而使所述峰間電壓比與所述測定值對應的值低。

8.根據權利要求1所述的圖像形成裝置，其中，

在所述感光體以及所述帶電裝置被驅動的定時，所述運算部計算所述峰間電壓。

9.根據權利要求1所述的圖像形成裝置，其中，

所述帶電裝置能夠更換為其它的所述帶電裝置，

所述測定值因各個所述帶電裝置的不同而不同，

所述圖像形成裝置還具備確定部，該確定部確定所述測定值，

所述運算部使用由所述確定部確定的所述測定值來計算所述峰間電壓。

10.一種圖像形成裝置的控制方法，控制圖像形成裝置，其中，

所述圖像形成裝置具備：

感光體，在所述感光體的表面形成有感光層；

帶電裝置，通過與所述感光體之間的放電使所述感光體的表面帶電；以及

控制裝置，控制所述圖像形成裝置的各部分，

所述控制方法包括：

所述控制裝置使用所述帶電裝置的預先測定出的相對介電常數的測定值來計算施加到所述帶電裝置的峰間電壓的步驟；以及

所述控制裝置控制施加到所述帶電裝置的電壓以使該電壓成為計算出的所述峰間電壓的步驟，

在所述計算的步驟中，使用根據對所述相對介電常數造成影響的指標的值來變更所述測定值而得到的相對介電常數的值來計算所述峰間電壓。

11.根據權利要求10所述的圖像形成裝置的控制方法，其中，

所述指標為施加到所述帶電裝置的電壓的頻率。

12.根據權利要求10所述的圖像形成裝置的控制方法，其中，

所述指標為所述感光體的圓周速度。

13.根據權利要求11或者12所述的圖像形成裝置的控制方法，其中，

在所述計算的步驟中，在使所述指標比預定的基準值大時，使用變更得比所述測定值低的相對介電常數的值來進行計算，從而使所述峰間電壓比與所述測定值對應的值高。

14.根據權利要求10所述的圖像形成裝置的控制方法，其中，

所述指標為所述帶電裝置的周邊的溫度。