[發(fā)明專利]一種電子元件檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811076281.3
• 申請日: 2018-09-14
• 公開（公告）號: CN109100595B
• 公開（公告）日: 2020-06-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王苗苗;梁碩;李娜;張玉霞;張建琨
• 申請（專利權(quán)）人: 邯鄲學(xué)院
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/40;G01B21/00;G01N21/84
• 代理公司: 蘇州拓云知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 32344
• 代理人: 趙艾亮

1.一種電子元件檢測裝置，其特征在于，其包括底座、支撐臺、檢測圓盤、檢測探針組件、尺寸檢測器和電子元件表面視覺檢測系統(tǒng)，其中，所述支撐臺采用所述底座進行支撐設(shè)置，所述支撐臺的中心采用分度主軸可轉(zhuǎn)動的支撐設(shè)置有檢測圓盤，所述檢測圓盤上設(shè)置有同軸分布的兩組階梯孔，每組階梯孔孔均圓周陣列布設(shè)在所述檢測圓盤上，且兩組階梯孔的個數(shù)相等，所述階梯孔的底部支撐連接有透明支撐玻璃片，待檢測的電子元件放置在階梯孔內(nèi)并由所述透明支撐玻璃片支撐，所述支撐臺上位于所述檢測圓盤的外側(cè)設(shè)置有至少一個檢測探針組件，所述支撐臺上位于所述檢測圓盤的兩組階梯孔的下方設(shè)置有兩組對稱布設(shè)的尺寸檢測器和兩組對稱布設(shè)的電子元件表面視覺檢測系統(tǒng)，其中一組尺寸檢測器和電子元件表面視覺檢測系統(tǒng)對電子元件正面進行檢測，另外一組尺寸檢測器和電子元件表面視覺檢測系統(tǒng)對電子元件反面進行檢測，所述支撐臺上還設(shè)置有位于所述檢測圓盤外側(cè)的對電子元件進行翻面處理的翻轉(zhuǎn)機械手，所述翻轉(zhuǎn)機械手采用機械手底座固定在所述支撐臺上。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件檢測裝置，其特征在于：所述檢測探針組件包括安裝座、轉(zhuǎn)動座、支撐柱、升降調(diào)節(jié)柱、檢測座和檢測盤，其中，所述安裝座固定在所述支撐臺上，所述安裝座上通過轉(zhuǎn)動座連接設(shè)置有所述支撐柱，所述支撐柱的頂部設(shè)置有向所述檢測圓盤側(cè)水平延伸的延伸段，所述延伸段上設(shè)置有升降調(diào)節(jié)柱，所述升降調(diào)節(jié)柱的底部設(shè)置有檢測座，所述檢測座的下部連接有檢測盤，所述檢測盤上設(shè)置有檢測探針固定組件，多個檢測探針可調(diào)節(jié)位置的設(shè)置在所述檢測探針固定組件上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件檢測裝置，其特征在于：每組尺寸檢測器和電子元件表面視覺檢測系統(tǒng)安裝布設(shè)在同一臺座上，所述臺座設(shè)置在升降支撐軸上，所述升降支撐軸的下端穿過所述支撐臺的通孔連接在升降氣缸上，所述升降氣缸固定在所述支撐臺底面，所述支撐臺的通孔內(nèi)固定設(shè)置有導(dǎo)向套，所述升降支撐軸與所述導(dǎo)向套滑動導(dǎo)向配合。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件檢測裝置，其特征在于：所述支撐臺的中心設(shè)置有向上延伸的輔助固定筒，所述分度主軸采用軸承支撐可轉(zhuǎn)動的設(shè)置在所述輔助固定筒內(nèi)，所述分度主軸的下端連接在分度驅(qū)動器的輸出軸上，所述分度驅(qū)動器通過驅(qū)動器固定架固定在所述支撐臺底部。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件檢測裝置，其特征在于：所述透明支撐玻璃片采用黏膠劑粘結(jié)支撐固定在所述階梯孔的階梯壁上。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電子元件檢測裝置，其特征在于：所述檢測探針固定組件包括內(nèi)固定盤、外鎖緊轉(zhuǎn)盤、連桿一、連桿二、鎖緊桿和固定桿，其中，所述內(nèi)固定盤同軸向下延伸固定設(shè)置在所述檢測盤上，所述內(nèi)固定盤的中心設(shè)置有固定設(shè)置在所述檢測盤上的中心定位盤，所述內(nèi)固定盤的外部同軸套設(shè)有外鎖緊轉(zhuǎn)盤，所述外鎖緊轉(zhuǎn)盤的內(nèi)壁與所述內(nèi)固定盤外壁之間設(shè)置有鎖緊操作腔，所述內(nèi)固定盤上圓周陣列設(shè)置有多個沿著其徑向方向延伸的鎖緊孔，所述鎖緊桿伸入且可沿著所述鎖緊孔滑動，所述內(nèi)固定盤的外圓周上位于所述鎖緊孔一側(cè)固定設(shè)置有所述連桿二，所述連桿一的一端鉸接設(shè)置在所述內(nèi)固定盤的內(nèi)壁上，所述連桿一的另一端鉸接設(shè)置在所述鎖緊桿的端部，所述連桿一的中部鉸接設(shè)置在所述連桿二的端部，所述連桿一為弧形桿，所述內(nèi)固定盤的內(nèi)壁和中心定位盤的外壁上均設(shè)置有位置相互對應(yīng)的定位槽，所述鎖緊孔位于所述定位槽處，所述固定桿的兩端分別定位在所述內(nèi)固定盤和中心定位盤的定位槽內(nèi)，且所述固定桿的外端設(shè)置有與所述鎖緊桿進行鎖緊配合的鎖緊盲孔，所述固定桿上密集設(shè)置有對檢測探針進行固定的固定孔，通過檢測探針安裝在不同的固定孔，實現(xiàn)檢測探針的位置調(diào)節(jié)，以便適應(yīng)不同型號或者不同類型電子元件的需要，所述內(nèi)固定盤、外鎖緊轉(zhuǎn)盤之間還設(shè)置有對外鎖緊轉(zhuǎn)盤進行鎖緊的鎖緊銷。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件檢測裝置，其特征在于：所述檢測探針組件包括兩組，其中一組用于檢測電子元件的電源線信號，另一組用于檢測電子元件的信號線信號。

8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電子元件檢測裝置，其特征在于：所述轉(zhuǎn)動座內(nèi)設(shè)置有轉(zhuǎn)動氣缸，所述支撐柱通過所述轉(zhuǎn)動氣缸進行驅(qū)動轉(zhuǎn)動。