[發(fā)明專利]一種斷層側(cè)向封閉性定量評價(jià)方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811073289.4
• 申請日: 2018-09-14
• 公開（公告）號: CN109239778B
• 公開（公告）日: 2019-08-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔣有錄;趙凱;胡洪瑾;劉華
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油大學(xué)（華東）
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30
• 代理公司: 青島清泰聯(lián)信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 37256
• 代理人: 李祺;張潔

1.一種斷層側(cè)向封閉性定量評價(jià)方法，其特征在于，包括如下步驟：

(一)針對油氣成藏期至現(xiàn)今時(shí)期之前的每個(gè)時(shí)間單元，通過去壓實(shí)校正法，逐一恢復(fù)每一時(shí)間單元時(shí)被錯(cuò)斷的每一地層的古厚度和古斷距；針對每一地層中不同深度的單砂層，計(jì)算每一時(shí)間單元時(shí)累計(jì)涂抹過所述單砂層的泥巖古厚度；

(二)分別計(jì)算在油氣成藏期至現(xiàn)今時(shí)期之前每個(gè)時(shí)間單元時(shí)，不同深度單砂層所對應(yīng)的古泥巖涂抹因子、古泥巖涂抹勢和古斷層泥比率；針對某一時(shí)間單元，深度為h的單砂層的古泥巖涂抹因子、古泥巖涂抹勢和古斷層泥比率的計(jì)算公式分別如下：

CSP_古(h)＝∑{[D_m古(h)]²÷L_古(h)} (2)

SGR_古(h)＝∑[D_m古(h)]÷L_古(h) (3)

其中，SSF_古(h)為深度為h的單砂層在所述時(shí)間單元時(shí)對應(yīng)的古泥巖涂抹因子；CSP_古(h)為深度為h的單砂層在所述時(shí)間單元時(shí)對應(yīng)的古泥巖涂抹勢；SGR_古(h)為深度為h的單砂層在所述時(shí)間單元時(shí)對應(yīng)的古斷層泥比率；L_古(h)為所述時(shí)間單元時(shí)深度為h的單砂層所在地層的古斷距；D_m古(h)為所述時(shí)間單元時(shí)累計(jì)涂抹過深度為h的單砂層的泥巖古厚度；

(三)根據(jù)地質(zhì)資料，統(tǒng)計(jì)被錯(cuò)斷的每一地層的現(xiàn)今斷距，并針對每一地層中不同深度的單砂層，統(tǒng)計(jì)累計(jì)涂抹過所述單砂層的現(xiàn)今泥巖厚度，進(jìn)而計(jì)算不同深度單砂層所對應(yīng)的現(xiàn)今泥巖涂抹因子、現(xiàn)今泥巖涂抹勢和現(xiàn)今斷層泥比率，深度為h的單砂層的現(xiàn)今泥巖涂抹因子、現(xiàn)今泥巖涂抹勢和現(xiàn)今斷層泥比率的計(jì)算公式分別如下：

CSP_{現(xiàn)今}(h)＝∑{[D_{m現(xiàn)今}(h)]²÷L_{現(xiàn)今}(h)} (5)

SGR_{現(xiàn)今}(h)＝∑[D_{m現(xiàn)今}(h)]÷L_{現(xiàn)今}(h) (6)

其中，SSF_{現(xiàn)今}(h)為深度為h的單砂層的現(xiàn)今泥巖涂抹因子；CSP_{現(xiàn)今}(h)為深度為h的單砂層的現(xiàn)今泥巖涂抹勢；SGR_{現(xiàn)今}(h)為深度為h的單砂層的現(xiàn)今斷層泥比率；L_{現(xiàn)今}(h)為深度為h的單砂層所在地層的現(xiàn)今斷距；D_{m現(xiàn)今}(h)為現(xiàn)今時(shí)期時(shí)累計(jì)涂抹過深度為h的單砂層的現(xiàn)今泥巖厚度；

(四)根據(jù)斷層所在區(qū)域的油氣顯示情況，確定斷層側(cè)向封閉時(shí)所對應(yīng)的泥巖涂抹因子上限、泥巖涂抹勢下限和斷層泥比率下限，從而對斷層在不同深度的側(cè)向封閉性進(jìn)行評價(jià)；

評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)為：當(dāng)某深度范圍內(nèi)的所有單砂層對應(yīng)的全部古泥巖涂抹因子和現(xiàn)今泥巖涂抹因子均小于泥巖涂抹因子上限，全部古泥巖涂抹勢和現(xiàn)今泥巖涂抹勢均大于泥巖涂抹勢下限，且全部古斷層泥比率和現(xiàn)今斷層泥比率均大于斷層泥比率下限時(shí)，斷層在該深度范圍內(nèi)均側(cè)向封閉；否則，斷層在該深度范圍內(nèi)曾側(cè)向開啟。