[發明專利]一種在線檢測玻璃原片雜質的方法

在審

• 申請號: 201811070593.3
• 申請日: 2018-09-13
• 公開（公告）號: CN108872256A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發明（設計）人: 張振華;賴博淵;劉東陽;代干;孟強;王蘇博
• 申請（專利權）人: 廣東中航特種玻璃技術有限公司;中航三鑫股份有限公司
• 主分類號: G01N21/896
• 分類號: G01N21/896
• 代理公司: 深圳市壹品專利代理事務所(普通合伙) 44356
• 代理人: 江文鑫;周婷

本發明涉及玻璃原片雜質檢測的技術領域，公開了一種在線檢測玻璃原片雜質的方法，包括以下步驟：(1)、將玻璃原片放置在玻璃原片傳輸臺上；(2)通過低倍觀測線陣對玻璃原片進行檢測，發現玻璃原片的雜質并獲取雜質的坐標數據；(3)計算機滑臺控制模塊控制高倍定位識別模塊移動至底部觀測線陣所發現的雜質的正上方，高倍定位識別模塊與雜質同步移動一段時間，高倍定位識別模塊通過投影獲得雜質輪廓圖像數據；(4)高倍定位識別模塊將獲取的雜質輪廓圖像數據傳輸至計算機圖像處理模塊，計算機圖像處理模塊進行特征缺陷類型輪廓判定；(5)循環步驟(3)至(4)，直至完成對低倍觀測線陣所發現的所有雜質點的檢測；操作簡單，檢測效率高。

技術領域

本發明涉及玻璃原片雜質檢測的技術領域，尤其是一種在線檢測玻璃原片雜質的方法。

背景技術

玻璃原片是玻璃廠生產的固定尺寸的玻璃，在后續的終端用戶需求的玻璃尺寸及類型是各式各樣的，因此玻璃原片的質量也直接影響了后續加工玻璃的質量，其中鋼化玻璃是普通的玻璃切割成要求尺寸通過一系列處理加工而成，但已處理好的鋼化玻璃不能進行再切割，磨削等加工，如果玻璃原片中存在缺陷還有可能引起鋼化玻璃破損。

而現有技術中，對玻璃原片缺陷的在線檢測只是區分為點狀缺陷、線道、裂紋、劃傷等幾大類，以及測試這些缺陷的尺寸，其中點狀缺陷的原片生產廠商重點控制的一項。國標GB 11614-2009《平板玻璃》給出了優等品的點狀缺陷允許范圍；即使對于國外標準，如美標0.02英寸(約0.5mm)大小的缺陷點也是符合原片的出廠要求的。

平板玻璃優等品外觀質量點狀缺陷要求(GB 11614-2009)

對點狀缺陷，尤其是不透明的結石缺陷的識別可以用于判斷玻璃原片生產線的熔窯及熱工藝問題，而這些結石通常都需要經過取樣送檢，通過能譜儀等設備進行識別，操作復雜，檢測效率低，檢測效果差。本發明提出一種通過投影輪廓對不透明點狀缺陷進行在線區分與識別的方法。

發明內容

本發明的目的在于提供一種在線檢測玻璃原片雜質的方法，旨在解決現有技術中玻璃原片檢測效率低的問題。

本發明是這樣實現的，一種在線檢測玻璃原片雜質的方法，使用在線缺陷檢測裝置對玻璃原片的不透明雜質點進行觀測，并通過投影輪廓對雜質類型進行識別；所述在線缺陷檢測裝置包括玻璃原片傳輸臺、低倍觀測線陣、高倍定位識別模塊、計算機滑臺控制模塊、計算機圖像處理模塊組成；包括以下步驟：

(1)、將玻璃原片放置在所述玻璃原片傳輸臺上；

(2)通過所述低倍觀測線陣對所述玻璃原片進行檢測，發現所述玻璃原片的雜質并獲取雜質的坐標數據，將雜質的坐標數據傳輸至所述計算機滑臺控制模塊；

(3)所述計算機滑臺控制模塊接收雜質的坐標數據，并控制所述高倍定位識別模塊移動至所述底部觀測線陣所發現的雜質的正上方，然后高倍定位識別模塊與雜質同步移動一段時間，在同步移動的這段時間內，高倍定位識別模塊通過投影獲得雜質輪廓圖像數據；

(4)高倍定位識別模塊將獲取的雜質輪廓圖像數據傳輸至計算機圖像處理模塊，計算機圖像處理模塊進行特征缺陷類型輪廓判定，若判定結果為特定雜質類型則記錄該雜質點坐標；

(5)循環步驟(3)至(4)，直至完成對所述低倍觀測線陣所發現的所有雜質點的檢測。

進一步地，所述高倍定位識別模塊包括可水平移動的水平滑臺以及與所述水平滑臺固定連接的輪廓識別組件，所述輪廓識別組件用于通過投影獲得雜質輪廓圖像數據，所述水平滑臺連接所述計算機滑臺控制模塊。

進一步地，所述輪廓識別組件包括激光束發射器以及用于接收所述激光束發射器發射出的激光束的高分辨率接收器，所述高分辨率接收器連接所述計算機圖像處理模塊。