[發明專利]用于三攝的解像力測試方法及其應用

有效

• 申請號: 201811068150.0
• 申請日: 2018-09-13
• 公開（公告）號: CN110896469B
• 公開（公告）日: 2022-05-27
• 發明（設計）人: 吳高德;陳哲;黃宇;廖海龍;馬江敏;張勝;陳婉婷
• 申請（專利權）人: 寧波舜宇光電信息有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;H04M1/24
• 代理公司: 上海聯益知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 31427
• 代理人: 尹飛宇

1.一用于三攝的解像力測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

(A)一主攝像模組，一廣角攝像模組以及一長焦攝像模組拍攝同一標板；

(B)獲取三個圖像，其中一所述圖像對應于所述主攝像模組，一所述圖像對應于所述廣角攝像模組以及另一所述圖像對應于所述長焦攝像模組，其中每一所述圖像至少包括一第一大色塊，一第二大色塊，一第一小色塊以及一第二小色塊，其中所述第一大色塊和所述第二大色塊在一橫向和一縱向方向分別交替排列，其中所述第二小色塊位于所述第一大色塊，所述第一小色塊位于所述第二大色塊，其中所述第一大色塊是黑色色塊而形成一大黑色塊，所述第二大色塊是白色色塊而形成一大白色塊，所述第二小色塊是白色色塊而形成一小白色塊，所述第一小色塊是黑色色塊而形成一小黑色塊；

(C)基于所述圖像來源的攝像模組的類型不同處理所述圖像并且獲得一測試區域：

在所述圖像來自于所述長焦攝像模組，通過給定點尋找最鄰近的Mark點，如果所述給定點落在所述大白色塊和所述小黑色塊區域中，通過一圖像識別技術朝上下左右四個方向搜索所述大白色塊四邊和所述小黑色塊四邊的邊緣位置點，再通過所述邊緣位置點到所述給定點的距離以及視場偏差來選擇出視場偏差相對小的測試區域，作為評價所述長焦攝像模組在該視場水平及垂直方向圖像清晰度的測試區域；如果所述給定點落在所述大黑色塊和所述小白色塊區域中，通過一圖像識別技術朝上下左右四個方向搜索所述大黑色塊的四邊和所述小白色塊的四邊的邊緣位置點，再通過所述邊緣位置點到所述給定點的距離以及視場偏差來選擇出視場偏差相對較小的測試區域，作為評價所述長焦攝像模組在該視場水平及垂直方向圖像清晰度的測試區域；

(D)處理所述測試區域以獲得一EFS曲線并且根據所述EFS曲線獲得一LSF曲線；以及

(E)處理所述LSF曲線以得到SFR值。

2.根據權利要求1所述的解像力測試方法，其中所述步驟(C)進一步包括如下步驟：

縮小所述圖像的尺寸并且提取一Y分量；和

基于所述圖像來源的攝像模組的類型處理所述圖像以自動尋找最鄰近的所述測試區域。

3.根據權利要求1或2的解像力測試方法，其中在上述方法中，進一步包括如下步驟：

自適應分割二值圖，并且在所述圖像來自于所述主攝像模組，填充所述第一大色塊內的所述第二小色塊和所述第一大色塊一致；和

根據給定的一坐標點和作為所述Mark點的所述第二小色塊自動尋找最鄰近的測試色塊。

4.根據權利要求3所述的解像力測試方法，其中在上述方法中，以所述Mark點的中心為起點朝上下左右四個方向尋找邊緣位置。

5.根據權利要求1或2所述的解像力測試方法，其中在上述方法中，進一步包括如下步驟：

自適應分割二值圖，并且在所述圖像來自于所述廣角攝像模組，填充所述第一大色塊內的所述第二小色塊至和所述第一大色塊一致并且填充所述第二大色塊內的所述第一小色塊至和所述第二大色塊一致；和

根據給定的一坐標點和作為所述Mark點的所述第一小色塊自動尋找最鄰近的測試色塊。

6.根據權利要求5所述的解像力測試方法，其中在上述方法中，以所述Mark點中心為起點朝上下左右四個方向尋找邊緣位置。

7.根據權利要求1或2所述的解像力測試方法，其中在上述方法中，進一步包括如下步驟：

自適應分割二值圖；和

在所述圖像來自于所述長焦攝像模組，根據分別作為所述Mark點的所述第一小色塊和所述第二小色塊以及給定的一坐標自動尋找最鄰近的測試色塊。

8.根據權利要求7所述的解像力測試方法，其中在上述方法中，在給定的所述坐標到所述Mark點的距離大于所述第二小色塊斜對角的一半，以所述Mark點的中心為起點在上下左右四個方向尋找所述第二小色塊的邊緣位置或者是所述第一小色塊的邊緣位置。