[發(fā)明專利]一種全息微波彈性成像系統(tǒng)及其成像方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811061290.5 | 申請日: | 2018-09-11 |
| 公開(公告)號: | CN109199381B | 公開(公告)日: | 2021-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王露露 | 申請(專利權(quán))人: | 合肥工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | A61B5/0507 | 分類號: | A61B5/0507;A61B8/00;A61B8/08 |
| 代理公司: | 北京海虹嘉誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11129 | 代理人: | 何志欣;侯越玲 |
| 地址: | 230009 *** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 全息 微波 彈性 成像 系統(tǒng) 及其 方法 | ||
1.一種全息微波彈性成像系統(tǒng),其特征在于,包括微波信號收發(fā)模塊(10)、超聲波信號收發(fā)模塊(20)和信號處理模塊(31),所述微波信號收發(fā)模塊(10)包括至少一個微波發(fā)射天線(11)和布置在同一平面上的至少三個微波接收天線(12),其中,所述微波信號收發(fā)模塊(10)不間斷地朝目標(biāo)區(qū)域發(fā)射單一頻率的微波信號作為入射電場,同時所述超聲波信號收發(fā)模塊(20)不間斷地朝目標(biāo)區(qū)域發(fā)射單一頻率的超聲波信號作為入射超聲波場;
所述微波信號穿透位于所述目標(biāo)區(qū)域的目標(biāo)物后至少部分微波信號被所述目標(biāo)物內(nèi)部的具有不同介電常數(shù)的若干部分反射而形成散射電場并由所述至少三個微波接收天線(12)對所述散射電場進行探測得到散射電場回波信號;
所述超聲波信號收發(fā)模塊(20)發(fā)射超聲波信號到所述目標(biāo)區(qū)域的目標(biāo)物從而對目標(biāo)物施加一個外力并接收目標(biāo)物反射的超聲波回波信號;
所述信號處理模塊(31)對超聲波回波信號和散射電場回波信號進行處理以構(gòu)建目標(biāo)物的二維圖像,所述信號處理模塊(31)對超聲波回波信號和散射電場回波信號進行處理以構(gòu)建目標(biāo)物的二維圖像的處理包括:
信號處理模塊(31)對所述至少三個微波接收天線(12)探測到的散射電場回波信號進行對比獲得的可見度函數(shù)結(jié)合超聲波信號收發(fā)模塊(20)接收到的超聲波回波信號通過信號處理方式用于構(gòu)建目標(biāo)物的二維圖像,所述信號處理模塊(31)對所述至少三個微波接收天線(12)探測到的散射電場回波信號進行對比獲得的可見度函數(shù)結(jié)合超聲波信號收發(fā)模塊(20)接收到的超聲波回波信號通過信號處理方式用于構(gòu)建目標(biāo)物的二維圖像的處理包括:
對所有微波接收天線(12)中任意兩個微波接收天線(12)探測到的散射電場信號進行對比得到可見度函數(shù);
根據(jù)對比得到的可見度函數(shù)獲得能夠反映目標(biāo)物的電磁屬性分布信息;
對超聲傳感器(21)接收的施加外力前和施加外力后目標(biāo)物的超聲波回波信號進行對比得到形態(tài)變化信號;
根據(jù)對比得到的形態(tài)變化信號獲得目標(biāo)物內(nèi)部位移以及振動強度分布信息;
基于電磁屬性分布信息、內(nèi)部位移和振動強度分布信息通過傅里葉逆變換處理構(gòu)建目標(biāo)物的二維圖像。
2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述信號處理模塊(31)對超聲波回波信號和散射電場回波信號進行處理以構(gòu)建目標(biāo)物的二維圖像的處理包括:
基于微波接收天線(12)的分布排列建立目標(biāo)物的電磁屬性和散射電場之間的非線性觀測模型;
至少部分地基于所述非線性觀測模型實現(xiàn)對散射回波信號進行兩兩對比。
3.如權(quán)利要求2所述的系統(tǒng),其特征在于,
所述非線性觀測模型包括內(nèi)部場效應(yīng)模型和外部場效應(yīng)模型;
其中,內(nèi)部場效應(yīng)模型描述為:
其中,表示入射電場,表示入射電場到目標(biāo)物的位置矢量,為場源點到目標(biāo)物內(nèi)一點的位置矢量,f1表示微波工作頻率,t表示時間,c1表示光速,為TE模式波振幅,AN和BB分別為微波發(fā)射天線(11)的窄孔徑尺寸和寬孔徑尺寸,表示天線輻射場,表示極化矢量;
外部場效應(yīng)模型描述為:
其中,表示散射電場,表示從場源點到場域內(nèi)任一點的位置矢量,k0表示自由空間的波數(shù),εr表示目標(biāo)物的介電常數(shù),εb表示背景和/或媒介質(zhì)的介電常數(shù),表示總場強,G表示格林函數(shù),dV表示體積分,V表示目標(biāo)物體積,I表示目標(biāo)物可見度強度;
結(jié)合內(nèi)部場效應(yīng)模型和外部場效應(yīng)模型得到用于定義目標(biāo)物的可見度強度的非線性觀測模型描述為:
上式中,表示單位矢量,k0表示自由空間的波數(shù),εr表示目標(biāo)物的介電常數(shù),εb表示背景和/或媒介質(zhì)的介電常數(shù),表示總場強,*表示復(fù)數(shù)共軛。
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