[發明專利]基于光學分頻鎖相非線性校正的動態掃頻干涉測距系統及測距方法在審
| 申請號: | 201811057540.8 | 申請日: | 2018-09-11 |
| 公開(公告)號: | CN109029246A | 公開(公告)日: | 2018-12-18 |
| 發明(設計)人: | 甘雨;劉國棟;路程;陳鳳東 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號: | G01B9/02 | 分類號: | G01B9/02 |
| 代理公司: | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人: | 岳泉清 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 掃頻 測距 測距系統 干涉儀 干涉 非線性校正 干涉測量 運動測量 探測器 分頻 外腔式激光器 單頻激光器 非線性采樣 光纖耦合器 可見激光器 數據采集卡 測距光路 激光雷達 相位測量 信號產生 信號頻譜 影響運動 鎖相環 信噪比 光路 | ||
1.基于光學分頻鎖相非線性校正的動態掃頻干涉測距系統,其特征在于:所述系統包括掃頻干涉測距光路、運動測量光路、鎖相環模塊(24)、1號輔助干涉儀(2)、2號輔助干涉儀(26)、外腔式激光器(1)、可見激光器(5)、單頻激光器(16)、1號光纖耦合器(15)、數據采集卡(4)、1號探測器(3)、3號探測器(25);
所述掃頻干涉測距光路由2號光纖耦合器(6),6號光纖耦合器(7)、7號光纖耦合器(8)、8號光纖耦合器(10)、偏振保持分束器PBS(9)、波分復用器WDM(11)、聚焦光學子系統(12)、1/4波片(13)以及平衡探測器(14)組成;
所述運動測量光路由3號光纖耦合器(17)、1號聲光調制器(18)、2號聲光調制器(19)、4號光纖耦合器(20)、5號光纖耦合器(21)、9號光纖耦合器(22)以及2號光電探測器(23)構成;
外腔式激光器(1)輸出的激光入射至1號光纖耦合器(15)進行分路;
1號光纖耦合器(15)輸出的1路光經1號輔助干涉儀(2)后入射至1號探測器(3),經1號探測器(3)后輸出信號輸入至數據采集卡(4);
1號輔助干涉儀(2)信號作為數據采集卡(4)的外部時鐘輸入信號,控制數據采集卡(4)對1號探測器(3)、2號光電探測器(23)、平衡探測器(14)的信號進行采樣;
1號光纖耦合器(15)輸出的1路光依次經2號輔助干涉儀(26)和3號探測器(25),經3號探測器(25)后的輸出信號輸入至鎖相環模塊(24);
2號輔助干涉儀(26)為鎖相環模塊(24)提供鎖相參考信號;
1號光纖耦合器(15)輸出的98路光入射至2號光纖耦合器(6)進行分路;
單頻激光器(16)輸出的激光入射至3號光纖耦合器(17)進行分路,3號光纖耦合器(17)輸出的99路光經1號聲光調制器(18)入射至4號光纖耦合器(20)進行分路,3號光纖耦合器(17)輸出的1路光經2號聲光調制器(19)入射至5號光纖耦合器(21)進行分路;
2號光纖耦合器(6)輸出的99路光與4號光纖耦合器(20)輸出的99路光經6號光纖耦合器(7)合束后入射至偏振保持分束器PBS(9)的A號端口,經偏振保持分束器PBS(9)的B號端口輸出的光與可見激光器(5)輸出的激光經波分復用器WDM(11)復用后,依次經光纖端面、聚焦光學子系統(12)和1/4波片(13)后入射至被測目標,經被測目標反射后返回至波分復用器WDM(11),經波分復用器WDM(11)解復用后的光入射至偏振保持分束器PBS(9)的B號端口,再在偏振保持分束器PBS(9)的C號端口出射;
2號光纖耦合器(6)輸出的1路光與5號光纖耦合器(21)輸出的50路光經7號光纖耦合器(8)進行合束,7號光纖耦合器(8)合束后的光與偏振保持分束器PBS(9)的C號端口出射的光經8號光纖耦合器(10)合束后入射至平衡探測器(14),平衡探測器(14)輸出的信號入射至數據采集卡(4);
4號光纖耦合器(20)輸出的1路光與5號光纖耦合器(21)輸出的50路光經9號光纖耦合器(22)合束后入射至2號光電探測器(23),2號光電探測器(23)輸出的信號分別入射至數據采集卡(4)和鎖相環模塊(24);
經鎖相環模塊(24)輸出的信號相位同步入射至2號聲光調制器(19),通過改變2號聲光調制器(19)的移頻量,使2號光電探測器(23)輸出的信號與鎖相環模塊(24)參考信號相位相同。
2.根據權利要求1所述基于光學分頻鎖相非線性校正的動態掃頻干涉測距系統,其特征在于:所述5號光纖耦合器(21)、6號光纖耦合器(7)、7號光纖耦合器(8)、8號光纖耦合器(10)、9號光纖耦合器(22)均為3dB耦合器。
3.根據權利要求2所述基于光學分頻鎖相非線性校正的動態掃頻干涉測距系統,其特征在于:所述1號光纖耦合器(15)為1:98:1分路光纖耦合器。
4.根據權利要求3所述基于光學分頻鎖相非線性校正的動態掃頻干涉測距系統,其特征在于:所述2號光纖耦合器(6)、3號光纖耦合器(17)、4號光纖耦合器(20)均為99:1分路光纖耦合器。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于哈爾濱工業大學,未經哈爾濱工業大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811057540.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:透射波前檢測干涉儀
- 下一篇:高效多平臺顯微測量方法





