[發明專利]基于SERS技術的芯片級試紙血糖檢測方法

在審

• 申請號: 201811052256.1
• 申請日: 2018-09-10
• 公開（公告）號: CN109406480A
• 公開（公告）日: 2019-03-01
• 發明（設計）人: 段晨旭;鄒強
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: G01N21/65
• 分類號: G01N21/65
• 代理公司: 天津市三利專利商標代理有限公司 12107
• 代理人: 楊歡

1.一種基于SERS技術的芯片級試紙血糖檢測方法,其特征在于，包括下述步驟：

1)組裝納米陣列，制成具有拉曼增強襯底結構的有序銀納米點陣活性基底納米陣列芯片；

2)將不同濃度的人血葡萄糖含量標準樣品滴加在納米陣列芯片上，分別進行拉曼光譜測試，找到某一特征峰信息，加以比對地址信息與強度信息，進行數據統計，構造形成數據庫；

3)將待測血液滴加在有序銀納米點陣活性基底的納米陣列芯片上，進行拉曼光譜測試，將獲得的拉曼光譜與數據庫里存儲的信息相互比對，得到待測血液葡萄糖的濃度。

2.根據權利要求1所述的基于SERS技術的芯片級試紙血糖檢測方法,其特征在于，銀納米點陣活性基底納米陣列芯片的制備方法包括下述步驟：

1)超薄氧化鋁模板的制備：高純鋁片經清洗、退火和拋光處理后，采用兩步氧化法進行陽極氧化；氧化結束后，用高純去離子水將樣品沖洗干凈，自然風干，在樣品表面旋涂光刻膠，置于60℃恒溫干燥箱內烘干，約4h后取出.以CuCl2溶液去除鋁基底，最后在溫度為30℃的5％磷酸溶液中進行擴孔，擴孔時間分別為55，60，65和70min.最后，將樣品轉移到硅片上得到結構參數不同的UTAM；

2)有序銀納米點陣活性基底的制備：將步驟1)制備的結構參數不同的UTAM樣品置于蒸發鍍膜設備中，在真空度為8×10^-4Pa、蒸發速率為0.3-0.5nm/s的條件下，蒸發銀粉厚度為60nm.然后，用0.1mol/L的Na0H溶液去除UTAM，得到在硅襯底上的大面積高度有序、結構參數不同的銀納米點陣結構。

3.根據權利要求2所述的基于SERS技術的芯片級試紙血糖檢測方法,其特征在于，步驟1)中的兩步氧化法為在溫度為2℃、電壓為40V、濃度為0.3mol/L的草酸溶液中，進行第一次氧化的時間為12h，一次氧化結束后，鋁片表面生成一層氧化鋁膜.將帶有氧化層的鋁片放入體積比為l：1的1.8％鉻酸和6％磷酸的混合溶液中，在溫度為60℃時去除氧化鋁膜；用高純去離子水反復沖洗后，放入電解槽中進行二次氧化；二次氧化與一次氧化條件相同，氧化時間為5min。

4.根據權利要求1所述的基于SERS技術的芯片級試紙血糖檢測方法,其特征在于，對步驟1)制備的結構參數不同的銀納米點陣需要進行預處理；首先將銀納米點陣浸于濃度為lmmol/L的癸硫醇溶液中，浸泡45min后取出，轉移到濃度為1mmol/L的6-巰基-l-己醇溶液中，浸泡至少12h后取出，氮氣吹干；所有預處理的銀納米點陣均置于真空干燥箱內備用。