[發(fā)明專利]電源測試系統(tǒng)與測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811049144.0
• 申請日: 2018-09-10
• 公開（公告）號: CN109164399B
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 封雨鑫;陳焱;高云峰
• 申請（專利權(quán)）人: 大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團股份有限公司;深圳市大族智能控制科技有限公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40;G01R31/42
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

本發(fā)明涉及一種電源測試系統(tǒng)，包括：主處理器；交流上電模塊，連接于主處理器與待測電源之間，用于接收主處理器的控制信號并為待測電源提供預(yù)設(shè)電壓；采樣控制模塊，連接于主處理器與待測電源輸出端之間且受控于主處理器，用于接收主處理器的控制信號并依次接通各待測電源；負載模塊，與主處理器連接且用于連接至各待測電源的輸出端，用于為各待測電源提供預(yù)設(shè)負載。該測試系統(tǒng)在一個測試周期內(nèi)完成對多個電源的測試，提升測試效率。本發(fā)明還涉及一種電源測試方法，包括，為各待測電源提供預(yù)設(shè)電壓；依次接通主處理器與待測電源的輸出端的連接并提供預(yù)設(shè)負載，依次采樣待測電源的輸出電壓；調(diào)節(jié)預(yù)設(shè)電壓或預(yù)設(shè)負載，重復(fù)上述步驟。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電源測試領(lǐng)域，特別是涉及一種直流電源測試系統(tǒng)與測試方法。

背景技術(shù)

在電源制造過程中，通常需要對電源的性能進行測試，電源性能指標參數(shù)為源調(diào)整率和負載調(diào)整率，其中，源調(diào)整率為電源輸出所接負載為滿載的情況，輸出電壓隨輸入電壓變化的波動，負載調(diào)整率為輸入為額定電壓時，輸出電壓隨負載變化的波動。電源測試是電源生產(chǎn)體系中的一個重要的流程，對電源的生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量都有重要的影響。目前，對電源的測試都是電源產(chǎn)品裝配好后逐個接入測試系統(tǒng)進行測試，每測試一個電源都需要重新啟動一次測試系統(tǒng)，而生產(chǎn)廠家需要對大批量的電源進行測試時，整體測試時間就會增長，降低電源的測試效率，從而影響整體的生產(chǎn)效率。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，針對電源測試系統(tǒng)測試效率低的問題，提供一種新的電源測試系統(tǒng)和測試方法。

一種電源測試系統(tǒng)，用于對M個待測電源進行上電測試，M≥2，所述電源測試系統(tǒng)包括：

主處理器，用于輸出多路控制信號并依次對各待測電源的輸出電壓進行采樣；

交流上電模塊，一端與所述主處理器連接，另一端用于與各待測電源的輸入端連接，用于接收所述主處理器的第一控制信號并為各待測電源提供預(yù)設(shè)電壓；

采樣控制模塊，包括第一控制端、第一輸出端和M個第一輸入端，每個第一輸入端用于與一個待測電源的輸出端連接，所述第一輸出端與所述主處理器連接，所述第一控制端與所述主處理器連接，用于接收所述主處理器的第二控制信號并依次接通各第一輸入端與所述第一輸出端；和

負載模塊，與所述主處理器連接且用于連接至各所述待測電源的輸出端，用于接收所述主處理器的第三控制信號并為各待測電源提供預(yù)設(shè)負載。

上述電源測試系統(tǒng)，啟動一次測試系統(tǒng)時，可以對多個電源進行測試，通過采樣控制模塊，可以使主處理器按照一定的順序依次與多個電源的輸出端連接以依次采樣電源的輸出電壓。同時，測試系統(tǒng)還包括交流上電模塊和負載模塊，交流上電模塊可以向電源輸入預(yù)設(shè)電壓，負載模塊可以為電源接入預(yù)設(shè)負載，且交流上電模塊和負載模塊均可調(diào)節(jié)，通過調(diào)節(jié)交流上電模塊，可以改變預(yù)設(shè)電壓，即改變電源的輸入電壓，依次采樣各電源的輸出電壓，可以計算出各電源的源調(diào)整率，通過調(diào)節(jié)負載模塊，可以改變電源所接負載，依次采樣各電源的輸出電壓，可以計算出各電源的負載調(diào)整率，從而在系統(tǒng)的一次啟動周期內(nèi)完成對多個電源的測試。相比啟動一次測試系統(tǒng)只能測試一個電源的方法，該測試系統(tǒng)啟動一次可測試多個電源，大大節(jié)省了測試時間，提升測試效率。且當需測試M個電源時，利用該系統(tǒng)進行測試，由于改變一次預(yù)設(shè)電壓和預(yù)設(shè)負載可采樣所有電源的相應(yīng)輸出電壓，即一次啟動周期內(nèi)改變預(yù)設(shè)電壓和預(yù)設(shè)負載的次數(shù)與所接入的電源的數(shù)量無關(guān)，設(shè)變化次數(shù)為N，而測試系統(tǒng)一次啟動周期內(nèi)只能測試一個電源時，預(yù)設(shè)電壓和預(yù)設(shè)負載的變化次數(shù)則為M*N，相關(guān)模塊的變化次數(shù)越多，模塊的變化頻率越高，模塊的工作溫度越高，模塊的性能越差，從而影響最終的測試精度。