[發(fā)明專利]一種自旋晶格弛豫時(shí)間測(cè)定方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811049017.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109932381B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 舒婕;王寧;朱惠芳;徐凌云;嚴(yán)麗娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N24/08 | 分類號(hào): | G01N24/08 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 常亮 |
| 地址: | 215123 *** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 自旋 晶格 弛豫時(shí)間 測(cè)定 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種自旋晶格弛豫時(shí)間測(cè)定方法及裝置,包括:基于預(yù)設(shè)脈沖序列對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行測(cè)定,獲得偽二維譜圖的原始數(shù)據(jù);對(duì)傅里葉變換后的偽二維譜圖進(jìn)行相位和基線校正,獲得校正后的二維譜圖;在校正后的偽二維譜圖中,對(duì)待測(cè)樣品中的各基團(tuán)的13C譜峰進(jìn)行積分,獲得不同延遲時(shí)間所對(duì)應(yīng)的譜峰的積分面積,對(duì)不同延遲時(shí)間所對(duì)應(yīng)的譜峰的積分面積隨延遲時(shí)間變化的數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合,獲得待測(cè)樣品的自旋晶格弛豫時(shí)間。該預(yù)設(shè)脈沖序列包括實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)樣品中分子局部運(yùn)動(dòng)性較強(qiáng)的部分或不含1H部分的測(cè)定,和實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)樣品中含氫的分子局部運(yùn)動(dòng)性較弱的剛性部分的測(cè)定,因此基于一次測(cè)量實(shí)現(xiàn)對(duì)共混體系中各基團(tuán)的13C的自旋晶格弛豫時(shí)間測(cè)定。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及固體核磁共振技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種自旋晶格弛豫時(shí)間測(cè)定方法及裝置。
背景技術(shù)
自旋晶格弛豫時(shí)間的測(cè)定構(gòu)成了NMR(Nuclear Magnetic Resonance,核磁共振)實(shí)驗(yàn)很重要的一個(gè)方面。這是由于自旋晶格弛豫時(shí)間在一定程度上表征了有關(guān)分子運(yùn)動(dòng)的重要信息,而這方面的信息對(duì)于化學(xué)工作者是很難通過(guò)其他手段獲得的。
對(duì)于測(cè)量樣品體系中個(gè)基團(tuán)的13C的自旋晶格弛豫時(shí)間,傳統(tǒng)的測(cè)量方法主要有反轉(zhuǎn)恢復(fù)實(shí)驗(yàn)(IR,inverse-recovery)和Torchia實(shí)驗(yàn)。關(guān)于IR實(shí)驗(yàn)的脈沖序列如圖1(a)所示,主要適用于分子運(yùn)動(dòng)性較強(qiáng)的樣品或不含1H的樣品中各基團(tuán)的13C的自旋晶格弛豫時(shí)間值的測(cè)定,并且對(duì)弛豫等待時(shí)間有一定的要求,對(duì)于自旋晶格弛豫時(shí)間較長(zhǎng)的樣品,其實(shí)驗(yàn)時(shí)間會(huì)大大增加。關(guān)于Torchia實(shí)驗(yàn)的脈沖序列如圖1(b)所示,主要適用于含有1H的剛性體系中各基團(tuán)的13C的自旋晶格弛豫時(shí)間值的測(cè)定。該方法中,13C的信號(hào)是通過(guò)1H到13C的交叉極化過(guò)程得到的,因此要求體系中存在較強(qiáng)的異核偶極耦合作用(即13C原子與1H原子的偶極耦合)。當(dāng)異核偶極耦合作用較強(qiáng)時(shí),通過(guò)交叉極化過(guò)程可以實(shí)現(xiàn)1H到13C的極化轉(zhuǎn)移,但是當(dāng)偶極耦合作用很弱時(shí),極化轉(zhuǎn)移效率將會(huì)降低,運(yùn)動(dòng)性比較強(qiáng)的體系就是這樣的原理,因此Torchia實(shí)驗(yàn)不適合分子運(yùn)動(dòng)性較強(qiáng)體系,即異核偶極耦合作用較弱體系的13C的自旋晶格弛豫時(shí)間的測(cè)定。
對(duì)于分子局部運(yùn)動(dòng)性差異較大的多相體系(即同時(shí)存在剛性相和柔性相的體系)或含1H/不含1H的共混樣品,IR和Torchia方法都不能實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品體系中所有組分的13C T1測(cè)量。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)于上述問(wèn)題,本發(fā)明提供一種自旋晶格弛豫時(shí)間測(cè)定方法及裝置,實(shí)現(xiàn)了通過(guò)一次測(cè)量可以得到共混體系中各基團(tuán)13C的自旋晶格弛豫時(shí)間的目的。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案:
一種自旋晶格弛豫時(shí)間測(cè)定方法,包括:
基于預(yù)設(shè)脈沖序列在固體核磁共振波譜儀中對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行測(cè)定,獲得偽二維譜圖的原始數(shù)據(jù),其中,所述待測(cè)樣品中包括若干個(gè)基團(tuán)且所述基團(tuán)中包含13C原子,所述預(yù)設(shè)脈沖序列包括第一脈沖序列單元和第二脈沖序列單元,基于所述第一脈沖序列單元實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)樣品中分子局部運(yùn)動(dòng)性較強(qiáng)的部分或不含1H部分的測(cè)定,基于所述第二脈沖序列單元實(shí)現(xiàn)對(duì)待測(cè)樣品中含氫的分子局部運(yùn)動(dòng)性較弱的剛性部分的測(cè)定;
對(duì)所述偽二維譜圖的原始數(shù)據(jù)進(jìn)行傅立葉變換,并對(duì)變換后的偽二維譜圖進(jìn)行相位和基線校正,獲得校正后的偽二維譜圖;
在所述校正后的偽二維譜圖中,對(duì)所述待測(cè)樣品中的各基團(tuán)的13C譜峰進(jìn)行積分,獲得不同延遲時(shí)間所對(duì)應(yīng)的譜峰的積分面積;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州大學(xué),未經(jīng)蘇州大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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