[發(fā)明專(zhuān)利]云手機(jī)硬件質(zhì)量批量測(cè)試方法與系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811046382.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-09-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109309748B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 雷磊;石啟錚;黃毅堅(jiān);李全斌 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 廣州微算互聯(lián)信息技術(shù)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H04M1/24 | 分類(lèi)號(hào): | H04M1/24;H04L12/26 |
| 代理公司: | 佛山幫專(zhuān)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44387 | 代理人: | 顏德昊 |
| 地址: | 510000 廣東省廣州市海珠區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 手機(jī) 硬件 質(zhì)量 批量 測(cè)試 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種云手機(jī)硬件質(zhì)量批量測(cè)試方法,其特征在于,包括:
步驟1,連接包括若干臺(tái)云手機(jī)的云手機(jī)集群;
步驟2,設(shè)置用于對(duì)云手機(jī)集群硬件測(cè)試的測(cè)試參數(shù);
步驟3,對(duì)云手機(jī)集群中每臺(tái)云手機(jī)按預(yù)設(shè)時(shí)間進(jìn)行硬件測(cè)試;其中,預(yù)設(shè)時(shí)間包括第一時(shí)間、第二時(shí)間、第三時(shí)間、第四時(shí)間和第五時(shí)間,第三時(shí)間大于第四時(shí)間,第四時(shí)間大于第五時(shí)間;第一時(shí)間大于第二時(shí)間,第二時(shí)間大于第三時(shí)間;具體的,步驟3包括
對(duì)云手機(jī)集群中每臺(tái)云手機(jī)先按第三時(shí)間進(jìn)行第一輪的硬件測(cè)試;
若第一輪的硬件測(cè)試結(jié)果為通過(guò)則按第四時(shí)間進(jìn)行第二輪的硬件測(cè)試,若第二輪的硬件測(cè)試結(jié)果為通過(guò)則按第五時(shí)間進(jìn)行第三輪的硬件測(cè)試;根據(jù)第三輪的硬件測(cè)試結(jié)果輸出該云手機(jī)的最終硬件測(cè)試結(jié)果;
若第一輪的硬件測(cè)試結(jié)果為不通過(guò)則按第二時(shí)間進(jìn)行第二輪的硬件測(cè)試,若第二輪的硬件測(cè)試結(jié)果為不通過(guò)則按第一時(shí)間進(jìn)行第三輪的硬件測(cè)試;根據(jù)第三輪的硬件測(cè)試結(jié)果輸出該云手機(jī)的最終硬件測(cè)試結(jié)果;
步驟4,獲取云手機(jī)集群每臺(tái)云手機(jī)的最終硬件測(cè)試結(jié)果;
步驟5,對(duì)云手機(jī)集群中每臺(tái)云手機(jī)的PCB板進(jìn)行掃描并結(jié)合最終硬件測(cè)試結(jié)果判斷該云手機(jī)是否通過(guò)硬件測(cè)試直至掃描完畢,完成云手機(jī)集群的硬件質(zhì)量批量測(cè)試。
2.如權(quán)利要求1所述云手機(jī)硬件質(zhì)量批量測(cè)試方法,其特征在于,步驟2包括:
將包括CPU,DDR,EMMC,GPU,網(wǎng)絡(luò)通訊器在內(nèi)的任意一項(xiàng)或多項(xiàng)的硬件質(zhì)量設(shè)置為用于對(duì)云手機(jī)集群硬件測(cè)試的測(cè)試參數(shù)。
3.如權(quán)利要求1所述云手機(jī)硬件質(zhì)量批量測(cè)試方法,其特征在于,步驟5包括:
對(duì)云手機(jī)集群中每臺(tái)云手機(jī)的PCB板上預(yù)設(shè)的標(biāo)識(shí)碼進(jìn)行掃描,若當(dāng)前掃描的云手機(jī)的最終硬件測(cè)試結(jié)果為通過(guò)硬件質(zhì)量測(cè)試則掃描下一臺(tái)云手機(jī)直至掃描完畢;否則,記載該云手機(jī)的故障原因并將該云手機(jī)當(dāng)做不良品處理;其中,故障原因?yàn)樵撛剖謾C(jī)存在包括內(nèi)存、存儲(chǔ)芯片和網(wǎng)卡芯片中的任意一種硬件故障。
4.一種云手機(jī)硬件質(zhì)量批量測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括:
連接模塊,用于連接包括若干臺(tái)云手機(jī)的云手機(jī)集群;
設(shè)置模塊,用于設(shè)置用于對(duì)云手機(jī)集群硬件測(cè)試的測(cè)試參數(shù);
測(cè)試模塊,用于對(duì)云手機(jī)集群中每臺(tái)云手機(jī)按預(yù)設(shè)時(shí)間進(jìn)行硬件測(cè)試;其中,預(yù)設(shè)時(shí)間包括第一時(shí)間、第二時(shí)間、第三時(shí)間、第四時(shí)間和第五時(shí)間,第三時(shí)間大于第四時(shí)間,第四時(shí)間大于第五時(shí)間;第一時(shí)間大于第二時(shí)間,第二時(shí)間大于第三時(shí)間;測(cè)試模塊具體還用于對(duì)云手機(jī)集群中每臺(tái)云手機(jī)先按第三時(shí)間進(jìn)行第一輪的硬件測(cè)試,其中
若第一輪的硬件測(cè)試結(jié)果為通過(guò)則按第四時(shí)間進(jìn)行第二輪的硬件測(cè)試,若第二輪的硬件測(cè)試結(jié)果為通過(guò)則按第五時(shí)間進(jìn)行第三輪的硬件測(cè)試;根據(jù)第三輪的硬件測(cè)試結(jié)果輸出該云手機(jī)的最終硬件測(cè)試結(jié)果;
若第一輪的硬件測(cè)試結(jié)果為不通過(guò)則按第二時(shí)間進(jìn)行第二輪的硬件測(cè)試,若第二輪的硬件測(cè)試結(jié)果為不通過(guò)則按第一時(shí)間進(jìn)行第三輪的硬件測(cè)試;根據(jù)第三輪的硬件測(cè)試結(jié)果輸出該云手機(jī)的最終硬件測(cè)試結(jié)果;
結(jié)果獲取模塊,用于獲取云手機(jī)集群每臺(tái)云手機(jī)的最終硬件測(cè)試結(jié)果;
掃描判斷模塊,用于對(duì)云手機(jī)集群中每臺(tái)云手機(jī)的PCB板進(jìn)行掃描并結(jié)合最終硬件測(cè)試結(jié)果判斷該云手機(jī)是否通過(guò)硬件測(cè)試直至掃描完畢,完成云手機(jī)集群的硬件質(zhì)量批量測(cè)試。
5.如權(quán)利要求4所述云手機(jī)硬件質(zhì)量批量測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,設(shè)置模塊具體用于將包括CPU,DDR,EMMC,GPU,網(wǎng)絡(luò)通訊器在內(nèi)的任意一項(xiàng)或多項(xiàng)的硬件質(zhì)量設(shè)置為用于對(duì)云手機(jī)集群硬件測(cè)試的測(cè)試參數(shù)。
6.如權(quán)利要求4所述云手機(jī)硬件質(zhì)量批量測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,掃描判斷模塊具體用于對(duì)云手機(jī)集群中每臺(tái)云手機(jī)的PCB板上預(yù)設(shè)的標(biāo)識(shí)碼進(jìn)行掃描,若當(dāng)前掃描的云手機(jī)的最終硬件測(cè)試結(jié)果為通過(guò)硬件質(zhì)量測(cè)試則掃描下一臺(tái)云手機(jī)直至掃描完畢;否則,記載該云手機(jī)的故障原因并將該云手機(jī)當(dāng)做不良品處理;其中,故障原因?yàn)樵撛剖謾C(jī)存在包括內(nèi)存、存儲(chǔ)芯片和網(wǎng)卡芯片中的任意一種硬件故障。
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