[發明專利]一種漸開線內花鍵齒形微小角度偏移測量的方法

在審

• 申請號: 201811044200.1
• 申請日: 2018-09-07
• 公開（公告）號: CN109186421A
• 公開（公告）日: 2019-01-11
• 發明（設計）人: 郝慶麗;廖周文;吳亞渝;符亭
• 申請（專利權）人: 重慶鐵馬工業集團有限公司
• 主分類號: G01B5/24
• 分類號: G01B5/24
• 代理公司: 重慶縉云專利代理事務所(特殊普通合伙) 50237
• 代理人: 王翔

1.一種漸開線內花鍵齒形微小角度偏移量的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

1)將兩個待測零件(4)疊放在一起；其中，所述待測零件(4)上具有零件內花鍵(401)和零件基準孔(402)；

2)使用所述花鍵心軸(3)依次穿過兩個待測零件(4)的零件內花鍵(401)，將兩個待測零件(4)的位置固定。所述兩個待測零件(4)的零件內花鍵(401)重合，兩個待測零件(4)的零件基準孔(402)出現位置差異；其中，所述花鍵心軸(3)的外壁上設置有與零件內花鍵(401)參數相同的外花鍵(301)；

3)測量兩個待測零件(4)的零件基準孔(402)公共區域內壁值BB′。

2.根據權利要求1所述的一種漸開線內花鍵齒形微小角度偏移量的測量方法，其特征在于：步驟3)之后還具有通過公共區域內壁值BB′計算漸開線內花鍵微小角度偏移量б的相關步驟。