[發明專利]圖像配準方法、設備和存儲介質

有效

• 申請號: 201811042252.5
• 申請日: 2018-09-07
• 公開（公告）號: CN109389628B
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發明（設計）人: 李永;吳岳辛;王凡;李慧;張高鑫
• 申請（專利權）人: 北京郵電大學
• 主分類號: G06T7/33
• 分類號: G06T7/33
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 張子青;劉芳

1.一種圖像配準方法，其特征在于，包括：

獲取源圖像和目標圖像，所述源圖像和所述目標圖像分別為不同頻段傳感器檢測出的圖像；

提取所述源圖像和所述目標圖像的第一特征點和第一特征直線，其中，所述第一特征點和所述第一特征直線是根據預先定義的篩選條件，從圖像的所有特征點和特征直線中篩選出來的；

根據所述源圖像的第一特征點和第一特征直線，獲取所述源圖像的采樣點的描述符或者所述源圖像的樣本，并根據所述目標圖像的第一特征點和第一特征直線，獲取所述目標圖像的采樣點的描述符或者所述目標圖像的樣本；

所述根據所述源圖像的第一特征點和第一特征直線獲取所述源圖像的采樣點的描述符，包括：

獲取所述源圖像的第一特征點到第一特征直線之間的第一垂線；

在所述第一垂線上等距離進行采樣，得到所述源圖像的采樣點；

計算獲得所述源圖像的采樣點的邊緣方向直方圖EOH描述符；

相應的，所述根據所述目標圖像的第一特征點和第一特征直線獲取所述目標圖像的采樣點的描述符，包括：

獲取所述目標圖像的第一特征點到第一特征直線之間的第二垂線；

在所述第二垂線上等距離進行采樣，得到所述目標圖像的采樣點；

計算獲得所述目標圖像的采樣點的EOH描述符；

根據所述源圖像和所述目標圖像的采樣點的描述符或者所述源圖像和所述目標圖像的樣本，確定所述源圖像和所述目標圖像是否匹配；

所述根據所述源圖像的第一特征點和第一特征直線獲取所述源圖像的樣本，包括：根據所述源圖像的第一特征點到所述第一特征直線中點的距離，提取所述源圖像的樣本；其中，所述提取所述源圖像的樣本，包括：以所述第一特征直線中點的坐標為中心，截取圖像塊作為所述源圖像的樣本；相應的，所述根據所述目標圖像的第一特征點和第一特征直線獲取所述目標圖像的樣本，包括：根據所述目標圖像的第一特征點到所述第一特征直線中點的距離，提取所述目標圖像的樣本；其中，所述提取所述目標圖像的樣本，包括：以所述第一特征直線中點的坐標為中心，截取圖像塊作為所述目標圖像的樣本。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一特征直線的數量為兩條且相交，所述源圖像的兩條第一特征直線之間的交點為第一交點，所述目標圖像的兩條第一特征直線之間的交點為第二交點，所述根據所述源圖像的第一特征點和第一特征直線，獲取所述源圖像的采樣點的描述符，包括：

根據所述源圖像的第一特征點和所述源圖像第一交點，對所述源圖像的第一特征直線進行采樣，獲取所述源圖像的第一特征直線的采樣點；

通過計算所述源圖像的第一特征直線的采樣點的EOH描述符，得到所述源圖像的采樣點的描述符；

相應的，所述根據所述目標圖像的第一特征點和第一特征直線獲取所述目標圖像的采樣點的描述符，包括：

根據所述目標圖像的第一特征點和所述目標圖像的第一交點，對所述目標圖像的第一特征直線進行采樣，獲取所述目標圖像的第一特征直線的采樣點；

通過計算所述目標圖像的第一特征直線采樣點的EOH描述符，得到所述目標圖像的采樣點的描述符。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述提取所述源圖像和所述目標圖像的第一特征點和第一特征直線，包括：

獲取所述源圖像的所有特征點和所有特征直線；

計算得到所述源圖像的每個特征點到每條特征直線的距離；

判斷所述源圖像的每個特征點到每條特征直線的距離是否滿足第一預設范圍，若是，則根據特征點到特征直線端點的直線與特征直線的夾角，提取所述源圖像第一特征點和第一特征直線；

相應的，

獲取所述目標圖像的所有特征點和所有特征直線；

計算得到所述目標圖像的每個特征點到每條特征直線的距離；

判斷所述目標圖像的每個特征點到每條特征直線的距離是否滿足第一預設范圍，若是，則根據特征點到特征直線端點的直線與特征直線的夾角，提取所述目標圖像第一特征點和第一特征直線。