[發明專利]一種AEP內存DC測試方法及裝置

在審

• 申請號: 201811038514.0
• 申請日: 2018-09-06
• 公開（公告）號: CN109240864A
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發明（設計）人: 贠雄斌
• 申請（專利權）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 劉雪萍

本申請實施例提供一種AEP內存DC測試方法及裝置，包括：設置AEP內存初始參數；利用控制機對裝有AEP內存的測試機臺進行開機；掃描所述AEP內存的測試參數；根據所述初始參數和所述測試參數獲取所述AEP內存的性能狀態；利用腳本對所述測試機臺進行關機操作。本發明可以自動對AEP內存進行DC測試，無需人工進行操作，提高了測試效率和準確率，同時也節省了大量時間和人力。

技術領域

本發明屬于AEP內存性能測試技術領域，具體涉及一種AEP內存DC測試方法及裝置。

背景技術

AEP內存簡稱ApachePassDIMMs，是私有云、服務器、加速運算等上的不可或缺設備。主要定位是用于替代DRAM(動態隨機存取存儲器，服務器內存)，支撐持久Memory或In-Memory應用。服務器的運行需要高可靠性，當服務器含有AEP內存時，需要對其進行一系列可靠性測試，保證在未來用戶手中不會出現異常。

DC測試為遠程控制測試機臺多次開機進而測試硬件或軟件穩定性的一種測試。目前大多需要人工重復操作，浪費時間和人力。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明提供一種AEP內存DC測試方法及裝置，以解決上述技術問題。

第一方面，本申請實施例提供一種AEP內存DC測試方法，所述方法包括：

設置AEP內存初始參數；

利用控制機對裝有AEP內存的測試機臺進行開機；

掃描所述AEP內存的測試參數；

根據所述初始參數和所述測試參數獲取所述AEP內存的性能狀態；

利用腳本對所述測試機臺進行關機操作。

結合第一方面，在第一方面的第一種實施方式中，所述設置AEP內存初始參數包括：

利用ipmctl采集AEP內存ID并生成ID表；

根據所述AEP內存ID表獲取AEP內存初始數量；

根據所述AEP內存ID獲取AEP內存初始健康狀態；

利用ndctl重新創建AEP內存的空間數據塊并獲取所述空間數據塊的初始MD5值。

結合第一方面，在第一方面的第二種實施方式中，所述利用控制機對裝有AEP內存的測試機臺進行開機包括：

獲取被測機臺電源狀態；

判斷被測機臺電源是否處于關閉狀態：

是，則發送開機指令控制被測機臺通電開機；

否，則循環獲取被測機臺電源狀態操作。

結合第一方面，在第一方面的第三種是實施方式中，所述掃描所述AEP內存的測試參數包括：

利用ipmctl采集AEP內存ID并生成測試ID表；

根據所述AER內存ID檢索所述AEP內存的健康狀態；

根據所述AEP內存測試ID表檢索AEP內存的數量；

根據所述AEP內存ID檢索所述AEP內存的空間數據塊的MD5值。

結合第一方面，在第一方面的第四種實施方式中，所述根據初始參數和所述測試參數獲取所述AEP內存的性能狀態包括：

判斷AEP內存測試參數是否與初始參數一致：

是，則判定AEP內存正常；

否，則判定AEP內存異常并保存錯誤日志信息。