[發(fā)明專利]確定轉(zhuǎn)動操作構(gòu)件的轉(zhuǎn)動方向和轉(zhuǎn)動量的電子設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811035679.2
• 申請日: 2018-09-06
• 公開（公告）號: CN109459903B
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 渕上太郎;平山慧大
• 申請（專利權(quán)）人: 佳能株式會社
• 主分類號: H01H19/11
• 分類號: H01H19/11;G03B9/58;G01R33/02
• 代理公司: 北京魏啟學(xué)律師事務(wù)所 11398
• 代理人: 魏啟學(xué)

1.一種電子設(shè)備，其包括：

轉(zhuǎn)動操作構(gòu)件，其相對于轉(zhuǎn)動軸線被可轉(zhuǎn)動地保持；和

點(diǎn)擊機(jī)構(gòu)，其被構(gòu)造為通過使所述轉(zhuǎn)動操作構(gòu)件轉(zhuǎn)動而在各預(yù)定轉(zhuǎn)動角度處提供咔噠感，

其特征在于，所述電子設(shè)備還包括：

磁場產(chǎn)生構(gòu)件，其具有以規(guī)則間隔配置的不同磁性的磁極；

第一磁場檢測部，其具有第一檢測軸線并且被構(gòu)造為檢測通過所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件產(chǎn)生的與第一方向相關(guān)的磁場的變化；

第二磁場檢測部，其具有第二檢測軸線并且被構(gòu)造為檢測通過所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件產(chǎn)生的與第二方向相關(guān)的磁場的變化，所述第二方向與所述第一方向不同；和

計(jì)算單元，其被構(gòu)造為基于由所述第一磁場檢測部和所述第二磁場檢測部檢測到的磁場的與所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件的一個磁極對應(yīng)的改變來計(jì)算所述轉(zhuǎn)動操作構(gòu)件的轉(zhuǎn)動量和轉(zhuǎn)動方向，其中，所述磁場的所述改變是由于所述第一磁場檢測部和所述第二磁場檢測部與所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件的位置關(guān)系的改變而引起的，

其中，所述第一檢測軸線和所述第二檢測軸線以相對于所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件的極化表面的不同角度分別配置，并且

所述第一磁場檢測部和所述第二磁場檢測部位于相同的位置。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，

所述第一磁場檢測部根據(jù)所述與第一方向相關(guān)的磁場是否超過預(yù)定閾值來檢測第一磁場信號，

所述第二磁場檢測部根據(jù)所述與第二方向相關(guān)的磁場是否超過所述預(yù)定閾值來檢測第二磁場信號，并且

所述計(jì)算單元基于所述第一磁場信號和所述第二磁場信號來計(jì)算所述轉(zhuǎn)動操作構(gòu)件的轉(zhuǎn)動量和轉(zhuǎn)動方向。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，

所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件在與所述轉(zhuǎn)動操作構(gòu)件的所述轉(zhuǎn)動軸線正交的平面中在所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件與所述轉(zhuǎn)動軸線之間產(chǎn)生磁場，并且

所述第一磁場檢測部和所述第二磁場檢測部布置于所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件與所述轉(zhuǎn)動軸線之間。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子設(shè)備，其中，所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件僅從面對所述第一磁場檢測部和所述第二磁場檢測部的表面產(chǎn)生磁場。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述第一磁場檢測部和所述第二磁場檢測部布置在單個電子元件中。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件是環(huán)狀磁體，所述環(huán)狀磁體具有以規(guī)則間隔交替配置的N極和S極。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件包括以規(guī)則間隔配置成圓形的多個磁體。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述轉(zhuǎn)動操作構(gòu)件是繞著鏡筒布置的轉(zhuǎn)動環(huán)，并且所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件是繞著所述鏡筒布置的環(huán)狀構(gòu)件。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，沿著所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件的轉(zhuǎn)動方向布置所述第一磁場檢測部和所述第二磁場檢測部，并且所述第一磁場檢測部與所述第二磁場檢測部相距所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件的相鄰磁極之間的距離的偶數(shù)倍。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件的相鄰磁極之間的距離與所述預(yù)定轉(zhuǎn)動角度對應(yīng)。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述第一檢測軸線和所述第二檢測軸線彼此正交。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子設(shè)備，其中，所述第一檢測軸線和所述第二檢測軸線彼此正交，并且所述第一檢測軸線和所述第二檢測軸線分別配置在與所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件的所述極化表面正交的方向和與所述磁場產(chǎn)生構(gòu)件的所述極化表面平行的方向上。