[發(fā)明專利]探測器的成品標檢裝置及標檢系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811035103.6 | 申請日: | 2018-09-06 |
| 公開(公告)號: | CN108918788A | 公開(公告)日: | 2018-11-30 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李全斐;連西峰;劉鳳行;張偉偉;孫俊華 | 申請(專利權)人: | 漢威科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N33/00 | 分類號: | G01N33/00 |
| 代理公司: | 鄭州德勤知識產(chǎn)權代理有限公司 41128 | 代理人: | 黃紅梅;王帆 |
| 地址: | 450001 河南省*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 標檢 探測器 標定 控制器連接 推送機構 工件檢測傳感器 位置檢測傳感器 升降機構 氣輸送 針板 驅動探測器 探測器移動 檢測結果 生產(chǎn)效率 實時采集 控制器 檢測 省時 省力 反饋 供電 移動 生產(chǎn) | ||
本發(fā)明提供了一種探測器的成品標檢裝置及標檢系統(tǒng),該成品標檢裝置包括:針板升降機構,與標檢控制器連接,用于為待標定探測器供電并實時采集待標定探測器反饋的電參數(shù)值;標氣輸送機構,與標檢控制器連接,用于向待標定探測器輸送標定氣體;探測器推送機構,與標檢控制器連接,用于將待標定探測器移動至標檢位置;工件檢測傳感器,檢測探測器推送機構上是否放置有待標定探測器;位置檢測傳感器,檢測待標定探測器是否移動到標檢位置;標檢控制器,根據(jù)位置檢測傳感器和工件檢測傳感器的檢測結果,分別驅動探測器推送機構、標氣輸送機構和針板升降機構動作。本發(fā)明具有設計科學、實用性強、省時省力、生產(chǎn)效率高、生產(chǎn)質量可靠的優(yōu)點。
技術領域
本發(fā)明涉及探測器標定標檢技術領域,具體的說,涉及了一種探測器的成品標檢裝置及標檢系統(tǒng)。
背景技術
JJG 693–2011 《可燃氣體檢測報警器》檢定規(guī)程對于氣體報警器檢定條件,如氣體標準物質、標定罩選用等都提出了明確的要求,擴散式儀器應有專用標定罩。
氣體探測器的生產(chǎn)過程中,需要根據(jù)其所檢測的氣體類型來通相應的標準氣體進行標定,對氣體探測器產(chǎn)品進行標定和檢驗是必須的工藝過程。目前有兩種標定方法:(1)將待標定的探測器放入氣箱中,在氣箱里面注入不同濃度的氣體來進行標定,缺點是:標定方法比較繁瑣而且標定的時候數(shù)據(jù)不方便記錄和保存。(2)先在探測器上擰上標定罩,再在標定罩上插入氣管,然后對探測器吹氣,直接將標氣經(jīng)過每個待測的探測器,這種標定方式比較浪費氣體而且也存在數(shù)據(jù)不方便記錄的情況。
目前氣體探測器標定標檢的設備都較為落后,且操作過程既費事又費時,還浪費氣體;批量生產(chǎn)時,大大降低了生產(chǎn)效率。
為了解決以上存在的問題,人們一直在尋求一種理想的技術解決方案。
發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是針對現(xiàn)有技術的不足,從而提供一種設計科學、實用性強、省時省力、生產(chǎn)效率高和生產(chǎn)質量可靠的探測器的成品標檢裝置及標檢系統(tǒng)。
為了實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明所采用的技術方案是:一種探測器的成品標檢裝置,包括:
針板升降機構,與標檢控制器連接,用于為待標定探測器供電并實時采集待標定探測器反饋的電參數(shù)值;
標氣輸送機構,與標檢控制器連接,用于向待標定探測器輸送標定氣體,設置在所述針板升降機構的一側;
探測器推送機構,與標檢控制器連接,用于將待標定探測器移動至標檢位置,設置在所述針板升降機構的另一側;
工件檢測傳感器,與標檢控制器連接,用于檢測所述探測器推送機構上是否放置有待標定探測器;
位置檢測傳感器,與所述標檢控制器連接,用于檢測所述待標定探測器是否移動到標檢位置;
標檢控制器,根據(jù)所述位置檢測傳感器和所述工件檢測傳感器的檢測結果,分別驅動所述探測器推送機構、所述標氣輸送機構和所述針板升降機構動作。
基于上述,所述探測器推送機構包括推送架、探測器模板、導軌和推送驅動氣缸;
所述探測器模板,用于放置待標定探測器,設置在所述推送架上;
所述推送驅動氣缸的伸縮端與所述推送架相連,驅動所述推送架沿所述導軌移動。
基于上述,所述探測器模板底部開設有檢測孔,所述工件檢測傳感器對應所述檢測孔設置。
基于上述,該成品標檢裝置還包括設置在所述探測器推送機構上,與所述標檢控制器連接,用于壓緊待標定探測器的壓緊機構。
基于上述,所述壓緊機構包括設置在所述探測器推送機構上的壓緊氣缸,所述壓緊氣缸的伸縮端設置有壓板,所述壓板對應設置在所述探測器推送機構的上方。
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