[發明專利]DFB陣列掃頻光源光纖頻域干涉測距系統和方法有效
| 申請號: | 201811034265.8 | 申請日: | 2018-09-05 |
| 公開(公告)號: | CN109029271B | 公開(公告)日: | 2021-01-19 |
| 發明(設計)人: | 段發階;程沁蕊;黃婷婷;馬凌;李秀明;傅驍 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人: | 劉國威 |
| 地址: | 300072*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | dfb 陣列 光源 光纖 干涉 測距 系統 方法 | ||
1.一種DFB陣列掃頻光源光纖頻域干涉測距系統,其特征是,DFB陣列掃頻光源產生的掃頻激光首先進入分光比為20:80寬帶光纖耦合器,分出的20%光進入參考的馬赫澤德干涉儀MZI,由參考的馬赫澤德干涉儀MZI的光電二極管PD2采集的干涉信號為等波數的參考時鐘信號,用于后期主干涉儀的信號重建;另外的80%光通過分光比為10:90寬帶光纖耦合器,10%進入兩干涉臂中的參考臂,利用帶電動位移臺的光纖延遲線來調節干涉臂的平衡,同時在線匹配兩干涉光的光強;另外90%進入測試臂,測試臂采用三端環形器結構,所述掃頻激光由三端環形器進入光纖探頭后射到待測工件表面,從待測工件表面的反射光被同一光纖探頭收集,再由三端環形器進入用于合束的耦合器,與參考光發生干涉;干涉光由銦鎵砷InGaAs PIN型光電探測器進行光電轉換,經過放大器和濾波器放大并濾波后被模數轉換器ADC采集,其中ADC采集的時鐘信號是由掃頻光源的觸發信號時鐘產生的,并根據參考的馬赫澤德干涉儀MZI的PD2采集來的干涉信號作為信號重建的時鐘信號;DFB陣列的掃頻光源為C波段DFB陣列模塊激光光源,由FPGA構成的電流控制電路板為每個DFB陣列模塊提供電流以進行掃描,將DFB陣列模塊連接以利用陣列的整個帶寬產生等效掃描;其中,FPGA通過比較參考時鐘信號和參考的馬赫澤德干涉儀MZI干涉信號進行過零采樣后的信號產生脈沖寬度調制PWM誤差信號,提供掃描電流,同時根據每次電流掃描的開始輸出TTL觸發電平信號,觸發采集數據的時鐘信號;還包括計算機,FPGA的數據由USB芯片傳輸到計算機上做快速傅里葉變換,得到待測的距離值;所述光纖探頭采用自聚焦透鏡,自聚焦透鏡鍍上增透膜;自聚焦透鏡采用短焦距設計。
2.一種DFB陣列掃頻光源光纖頻域干涉測距方法,其特征是,將DFB陣列掃頻光源產生的掃頻激光送入分光比為20:80寬帶光纖耦合器,分出的20%光進入參考的馬赫澤德干涉儀MZI,由參考的馬赫澤德干涉儀MZI的光電二極管PD2采集的干涉信號為等波數的參考時鐘信號,用于后期主干涉儀的信號重建;另外的80%光通過分光比為10:90寬帶光纖耦合器,10%進入兩干涉臂中的參考臂,利用帶電動位移臺的光纖延遲線,用來調節干涉臂的平衡,同時在線匹配兩干涉光的光強;另外90%進入測試臂,測試臂采用三端環形器結構,所述掃頻激光由三端環形器進入光纖探頭后射到待測工件表面,從待測工件表面的反射光被同一光纖探頭收集,再由三端環形器進入用于合束的耦合器,與參考光發生干涉;干涉光由銦鎵砷InGaAs PIN型光電探測器進行光電轉換,經過放大器和濾波器放大并濾波后被模數轉換器ADC采集,其中ADC采集的時鐘信號是由掃頻光源的觸發信號時鐘產生的,并根據參考參考的馬赫澤德干涉儀MZI的PD2采集來的干涉信號作為信號重建的時鐘信號;DFB陣列的掃頻光源為C波段DFB陣列模塊激光光源,由FPGA構成的電流控制電路板為每個DFB陣列模塊提供電流以進行掃描,將DFB陣列模塊連接以利用陣列的整個帶寬產生等效掃描;其中,FPGA通過比較參考時鐘信號和參考的馬赫澤德干涉儀MZI干涉信號進行過零采樣后的信號產生脈沖寬度調制PWM誤差信號,提供掃描電流,同時根據每次電流掃描的開始輸出TTL觸發電平信號,觸發采集數據的時鐘信號。
3.如權利要求2所述的DFB陣列掃頻光源光纖頻域干涉測距方法,其特征是,對采集到的數據進行如下處理:光纖探頭端面距離待測工件表面的距離為d,探頭收集的工件表面反射光與參考光將發生干涉,干涉公式為:
其中,L=2d,n是光纖折射率,λ(t)為掃頻光源波長掃描函數;對一個特定的距離d,掃頻光源在時域上對波長λ進行快速掃描,產生時域干涉信號,對此干涉信號做FFT,得出的特定的頻率f,與距離d一一對應。
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