[發明專利]一種芯片引腳連通性智能測試系統

在審

• 申請號: 201811031304.9
• 申請日: 2018-09-05
• 公開（公告）號: CN109061444A
• 公開（公告）日: 2018-12-21
• 發明（設計）人: 黃歡
• 申請（專利權）人: 四川知創知識產權運營有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種芯片引腳連通性智能測試系統，其特征在于，所述系統包括：

第一傳輸帶、第二傳輸帶、第三傳輸帶、支架、第一控制器、第一檢測桿、壓敏傳感器、檢測單元，機械臂、檢測平臺、第二控制器、真空吸盤、排氣管、電磁閥、第一伸縮桿、導軌、電動小車、第三控制器、2個不同型號的芯片測試連接端、芯片測試儀、圓筒、隔板、推送結構；其中，第一傳輸帶用于向檢測平臺傳輸待檢測芯片；第一控制器用于控制第一傳輸帶的開啟與關閉；第一檢測桿一端通過支架與第一傳輸帶底座側面固定連接，第一檢測桿另一端延伸至第一傳輸帶上表面；壓敏傳感器安裝在第一檢測桿另一端，壓敏傳感器與第一控制器和第二控制器均連接，機械臂一端與真空吸盤的上端連接，真空吸盤上設有排氣孔，排氣管一端穿過排氣孔延伸至真空吸盤內，排氣管內安裝有電磁閥，第一伸縮桿上端與真空吸盤內表面連接，第一伸縮桿下端豎直向下；導軌一端與檢測平臺側邊連接，檢測平臺另一端延伸至待檢測區域側邊；電動小車安裝在導軌上，第三控制器用于控制電動小車的運動；圓筒安裝在電動小車上表面，圓筒一端為開口狀，圓筒的開口端向待檢測區域延伸，圓筒內通過隔板將圓筒分為2個芯片測試連接端存放區，2個不同型號的芯片測試連接端分別存放在2個芯片測試連接端存放區內，2個芯片測試連接端存放區內均設有一推送結構，推送結構包括：第四控制器、第二伸縮桿，第四控制器用于控制第二伸縮桿的伸縮，第二伸縮桿一端與圓筒底部連接，第二伸縮桿另一端延伸至開口處與芯片測試連接端連接；2個不同型號的芯片測試連接端均與芯片測試儀連接，第二傳輸帶、第三傳輸帶分別位于檢測平臺左右兩側；壓敏傳感器將采集到的待檢測芯片對壓敏傳感器壓力信息傳輸給第一控制器和第二控制器，第一控制器基于壓力信息停止第一傳輸帶的傳輸，第二控制器基于壓力信息生成檢測指令、吸附指令、下放指令，并將吸附指令傳輸至機械臂和電磁閥，基于檢測指令，檢測單元對待檢測芯片進行圖像采集和圖像分析，生成待檢測芯片對應型號；基于吸附指令電磁閥關閉，基于吸附指令機械臂利用真空吸盤將待檢測芯片吸附至檢測平臺的待檢測區域；然后基于下放指令電磁閥開啟，第一伸縮桿向下延伸，延伸預設距離將待檢測芯片從真空吸盤推出后收回；當待檢測芯片放置在待檢測區域后，第三控制器控制電動小車行進到待檢測區域側邊，當待檢測芯片檢測完成后，第三控制器控制電動小車回退到初始位置；當電動小車行進到待檢測區域側邊后，基于生成待檢測芯片對應型號，第四控制器控制推送結構將相應型號的芯片測試連接端推出，與待檢測芯片進行連接測試；基于芯片測試儀的檢測結果，芯片測試儀生成合格指令和不合格指令；基于合格指令電磁閥關閉，基于合格指令機械臂利用真空吸盤將合格檢測芯片吸附至第二傳輸帶上方，然后電磁閥開啟，第一伸縮桿向下延伸，延伸預設距離將合格芯片從真空吸盤推出至第二傳輸帶表面后收回；第二傳輸帶將芯片傳輸至合格品區；基于不合格指令電磁閥關閉，基于不合格指令機械臂利用真空吸盤將不合格檢測芯片吸附至第三傳輸帶上方，然后電磁閥開啟，第一伸縮桿向下延伸，延伸預設距離將不合格芯片從真空吸盤推出至第三傳輸帶表面后收回；第三傳輸帶將芯片傳輸至不合格品區；待芯片推出至第二傳輸帶或第三傳輸帶后，第一控制器開啟第一傳輸帶的傳輸，其中，所述系統還報警生成單元、報警單元、通信單元，生成單元用于基于芯片測試儀的檢測結果，生成檢測報告，通信單元將檢測報告傳輸至預設終端，當檢測結果為芯片不合格時，報警單元進行報警。

2.根據權利要求1所述的芯片引腳連通性智能測試系統，其特征在于，第一傳輸帶、第二傳輸帶、第三傳輸帶的表面均設有絕緣層。

3.根據權利要求1所述的芯片引腳連通性智能測試系統，其特征在于，第一檢測桿具體為波紋軟管。

4.根據權利要求1所述的芯片引腳連通性智能測試系統，其特征在于，第一傳輸帶上表面設有多個凸塊，待檢測芯片放置在凸塊上。