[發明專利]用于深度感測的非機械光束轉向

在審

• 申請號: 201811031191.2
• 申請日: 2018-09-05
• 公開（公告）號: CN109459849A
• 公開（公告）日: 2019-03-12
• 發明（設計）人: 邁克爾·霍爾;朝晴;拜倫·泰勒;劉新橋
• 申請（專利權）人: 臉譜科技有限責任公司
• 主分類號: G02B26/08
• 分類號: G02B26/08;G02B27/01
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 梁麗超;劉彬

1.一種深度相機組件(DCA)，包括：

發射器，被配置為根據發射指令利用出射光照亮局部區域，所述發射器包括：

照明源，被配置為發射一個或多個光束；

精細轉向元件，被配置為部分地基于所述發射指令以第一偏轉角度偏轉所述一個或多個光束，以產生一個或多個一階偏轉掃描光束，

粗略轉向元件，被配置為以大于所述第一偏轉角度的第二偏轉角度使所述一個或多個一階偏轉掃描光束偏轉，以產生所述出射光，以及

投影組件，被配置為將所述出射光投射到所述局部區域中；

接收器，被配置為根據接收指令捕獲所述局部區域的一個或多個圖像，所述一個或多個圖像包括反射光，所述反射光由從所述局部區域中的一個或多個對象反射的部分所述出射光組成；以及

控制器，被配置為：

產生所述發射指令和所述接收指令，

將所述發射指令提供至所述精細轉向元件，并且

部分地基于捕獲的所述一個或多個圖像來確定所述局部區域中的所述一個或多個對象的深度信息。

2.根據權利要求1所述的深度相機組件，其中，所述接收器包括檢測器，所述檢測器被配置為：

通過針對一個或多個時刻的每個時刻在所述檢測器的每個像素處捕獲與所述反射光有關的光信號來捕獲所述局部區域的所述一個或多個圖像。

3.根據權利要求2所述的深度相機組件，其中，所述控制器進一步被配置為：基于與在所述一個或多個時刻期間在所述檢測器的每個像素處捕獲的所述反射光有關的一個或多個光信號，確定所述深度信息。

4.根據權利要求2所述的深度相機組件，其中，所述檢測器包括單光子雪崩二極管(SPAD)像素陣列。

5.根據權利要求1所述的深度相機組件，其中，所述接收器包括檢測器，所述檢測器具有用于捕獲所述局部區域的所述一個或多個圖像的單個輸出，所述檢測器選自由以下各項組成的組：光電二極管、雪崩光電二極管(APD)、硅光電倍增器(SiPM)。

6.根據權利要求1所述的深度相機組件，其中：

所述接收器包括硅光電倍增器(SiPM)，所述硅光電倍增器包括單光子雪崩二極管(SPAD)像素陣列，

所述單光子雪崩二極管(SPAD)像素陣列中的每個像素在一個或多個時刻的每個時刻捕獲與所述反射光相關聯的光信號；

針對每個時刻，將所述單光子雪崩二極管(SPAD)像素陣列捕獲的光信號進行求和，以產生模擬輸出信號；

所述接收器進一步包括電路，所述電路被配置為：

針對每個時刻，將所述模擬輸出信號轉換成與這個時刻相關聯的數字時間戳信號，并且

在所述一個或多個時刻內，將與每個時刻相關聯的所述數字時間戳信號聚合成聚合數字信號；

所述控制器進一步被配置為基于所述聚合數字信號確定所述深度信息。

7.根據權利要求1所述的深度相機組件，其中，所述接收器包括：

另一個粗略轉向元件，被配置為以第三偏轉角度偏轉所述反射光，以產生一個或多個一階偏轉反射光束，

另一個精細轉向元件，被配置為部分地基于所述接收指令以小于所述第三偏轉角度的第四偏轉角度偏轉所述一個或多個一階偏轉反射光束，以產生一個或多個二階偏轉反射光束，以及

檢測器，被配置為通過捕獲所述一個或多個二階偏轉反射光束來捕獲所述一個或多個圖像。

8.根據權利要求7所述的深度相機組件，其中：

所述精細轉向元件和所述另一個精細轉向元件是所述發射器和所述接收器共用的單個部件；以及

所述粗略轉向元件和所述另一個粗略轉向元件是所述發射器和所述接收器共用的另一個單個部件。