[發(fā)明專利]電源模塊的測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811030848.3 | 申請日: | 2018-09-05 |
| 公開(公告)號: | CN109116266B | 公開(公告)日: | 2020-05-26 |
| 發(fā)明(設計)人: | 隋鑫 | 申請(專利權)人: | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/40 | 分類號: | G01R31/40 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 11227 | 代理人: | 田媛媛;王寶筠 |
| 地址: | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電源模塊 測試 方法 | ||
本申請公開了一種電源模塊的測試方法,包括:將電源模塊的輸出電容與負載儀連接;將電源模塊的輸入信號、使能信號、PowerGood信號和輸出信號分別接入示波器的第一通道、第二通道、第三通道和第四通道;將負載儀調(diào)整至空載狀態(tài),抓取并保存電源模塊的四路信號的上電波波形和掉電波形;將負載儀調(diào)整至滿載狀態(tài),抓取并保存電源模塊的四路信號的上電波波形和掉電波形;基于負載儀在空載狀態(tài)和滿載狀態(tài)下保存的四路信號的上電波形和掉電波形,確定電源模塊的上電時序、掉電時序、過沖電壓值和下沖電壓值是否正常。本申請公開的測試方法,只需進行一次接線操作,就可以完成針對電源模塊的時序測試、電壓過沖及下沖測試,提高了測試效率。
技術領域
本申請屬于電源測試技術領域,尤其涉及一種電源模塊的測試方法。
背景技術
電子設備(如計算機和服務器)的主板和其他板卡在開發(fā)階段需要對電源模塊(Voltage Regulation,VR)進行測試。針對電源模塊的測試主要包括時序測試、電壓過沖測試和電壓下沖測試。
目前,針對電源模塊的時序測試、電壓過沖測試和電壓下沖測試是單獨進行的,整個測試過程較為復雜,測試效率低下。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本申請的目的在于提供一種電源模塊的測試方法,能夠提高針對電源模塊進行的時序測試、電壓過沖測試和電壓下沖測試的測試效率。
為實現(xiàn)上述目的,本申請?zhí)峁┤缦录夹g方案:
一種電源模塊的測試方法,所述電源模塊位于測試主板內(nèi),所述測試方法包括:
將所述電源模塊的輸出電容的兩端分別與負載儀連接;
將所述電源模塊的輸入信號接入示波器的第一通道,將所述電源模塊的使能信號接入所述示波器的第二通道,將所述電源模塊的PowerGood信號接入所述示波器的第三通道,將所述電源模塊的輸出信號接入所述示波器的第四通道;
將所述示波器的第一通道、第二通道和第三通道設置為Max測試項,將所述示波器的第四通道設置為Max/Min/Pk-Pk/Rise/Fall測試項;
控制所述負載儀上電,將所述負載儀設置為靜態(tài)拉載模式;
將所述負載儀調(diào)整至空載狀態(tài),將所述示波器調(diào)整至EN信號上升沿觸發(fā),控制所述測試主板上電,抓取并保存所述電源模塊的輸入信號、使能信號、PowerGood信號和輸出信號的上電波形,將所述示波器調(diào)整至EN信號下降沿觸發(fā),控制所述測試主板掉電,抓取并保存所述電源模塊的輸入信號、使能信號、PowerGood信號和輸出信號的掉電波形;
基于所述負載儀在空載狀態(tài)下保存的所述電源模塊的四路信號的上電波形和掉電波形,確定所述電源模塊的上電時序和掉電時序是否正常,確定所述電源模塊的過沖電壓值和下沖電壓值是否正常;
將所述負載儀調(diào)整至滿載狀態(tài),將所述示波器調(diào)整至EN信號上升沿觸發(fā),控制所述測試主板上電,抓取并保存所述電源模塊的輸入信號、使能信號、PowerGood信號和輸出信號的上電波形,將所述示波器調(diào)整至EN信號下降沿觸發(fā),控制所述測試主板掉電,抓取并保存所述電源模塊的輸入信號、使能信號、PowerGood信號和輸出信號的掉電波形;
基于負載儀在滿載狀態(tài)下保存的所述電源模塊的四路信號的上電波形和掉電波形,確定所述電源模塊的上電時序和掉電時序是否正常,確定所述電源模塊的過沖電壓值和下沖電壓值是否正常。
可選的,在上述公開的測試方法的基礎上,還包括:
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