[發明專利]電子元器件自然庫房貯存壽命特征參數評估方法

在審

• 申請號: 201811028764.6
• 申請日: 2018-09-03
• 公開（公告）號: CN109146307A
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發明（設計）人: 李坤蘭;胡湘洪;張博;王春輝;黃創綿
• 申請（專利權）人: 中國電子產品可靠性與環境試驗研究所（（工業和信息化部電子第五研究所）（中國賽寶實驗室））
• 主分類號: G06Q10/06
• 分類號: G06Q10/06;G06F17/18
• 代理公司: 北京市隆安律師事務所 11323
• 代理人: 付建軍

1.一種電子元器件自然庫房貯存壽命特征參數評估方法，其特征在于，包括以下步驟：

對電子元器件的性能參數監測數據進行變化顯著性判定；

對于隨貯存時間有顯著變化的性能參數，根據性能參數監測數據判定性能參數隨時間的變化趨勢；

根據性能參數隨時間的變化趨勢，結合性能參數的技術要求值，判斷性能參數是否為壽命特征參數。

2.根據權利要求1所述的電子元器件自然庫房貯存壽命特征參數評估方法，其特征在于，還包括：

將性能參數監測數據整理成按照測試時間先后順序排列的序列X：X＝(x₁，x₂，…，x_n)，其中n為貯存試驗測試次數。

3.根據權利要求2所述的電子元器件自然庫房貯存壽命特征參數評估方法，其特征在于，

對電子元器件的性能參數監測數據進行變化顯著性判定的步驟包括：

將所述序列X分成t₁和t₂兩個時間段的兩個序列，分別為X₁＝(x₁，x₂，…，x_m)和X₂＝(x_m+1，x_m+2，…，x_n)，其中m＜n；

對序列X₁和X₂進行均值是否相等的檢驗和序列X的變化顯著性檢驗，從而判定該性能參數是否隨貯存時間有顯著的變化。

4.根據權利要求3所述的電子元器件自然庫房貯存壽命特征參數評估方法，其特征在于，

在序列X₁和X₂均值相等的情況下，進行序列X的變化顯著性檢驗。

5.根據權利要求3或4所述的電子元器件自然庫房貯存壽命特征參數評估方法，其特征在于，

根據誤差平方和與條件偏差平方和來構造序列X₁和X₂的均值是否相等的統計量。

6.根據權利要求1-5中任意一項所述的電子元器件自然庫房貯存壽命特征參數評估方法，其特征在于，

通過判斷性能參數序列X是否具有單調性來判定性能參數隨時間的變化趨勢。

7.根據權利要求1-6中任意一項所述的電子元器件自然庫房貯存壽命特征參數評估方法，其特征在于，

判斷性能參數是否為壽命特征參數的步驟包括：如果性能參數的變化趨勢與技術要求值越來越近，則判定該性能參數出現退化，是壽命特征參數。