[發明專利]一種陣列基板及其制作方法、顯示裝置有效
| 申請號: | 201811027840.1 | 申請日: | 2018-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN108987337B | 公開(公告)日: | 2021-02-23 |
| 發明(設計)人: | 宮奎;劉天真;徐德智;段獻學;張志海;陳俊生 | 申請(專利權)人: | 合肥京東方光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/77 | 分類號: | H01L21/77;H01L27/12 |
| 代理公司: | 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 陣列 及其 制作方法 顯示裝置 | ||
本發明實施例提供了一種陣列基板及其制作方法、顯示裝置,涉及顯示技術領域,該制作方法去除了過孔中在刻蝕過程中形成的聚合物,從而避免了該聚合物對第一圖案和第二圖案的電性連通的不良影響。該制作方法包括:在襯底基板上方形成第一圖案;形成覆蓋第一圖案的絕緣層;在絕緣層上方形成保護圖案,保護圖案露出絕緣層上待形成過孔的部分;通過刻蝕氣體刻蝕絕緣層上的待形成過孔的部分,形成孔洞,孔洞的底部具有預設厚度的殘留膜層;其中,0≤預設厚度<絕緣層的厚度;孔洞內形成有刻蝕氣體與絕緣層反應生成的聚合物;通過惰性氣體對孔洞進行刻蝕處理,以去除聚合物和殘留膜層,形成露出第一圖案的過孔。該陣列基板用于制作顯示裝置。
技術領域
本發明涉及顯示技術領域,尤其涉及一種陣列基板及其制作方法、顯示裝置。
背景技術
薄膜晶體管(Thin Film Transistor,簡稱TFT)可用作平板顯示器的像素開關元件。根據薄膜晶體管結構中的有源層所采用的不同材料,可將TFT分為:非晶硅TFT、多晶硅TFT、單晶硅TFT以及氧化物半導體TFT;其中,非晶硅TFT有源層可容易沉積在大的區域上且容易在低溫條件下加工,但是具有電荷遷移率低的缺點;多晶硅TFT有源層雖然電荷遷移高、具有優異的電特性,但是需要在高溫條件下加工且其可靠的一致性不穩定;氧化物半導體(例如IGZO,indium gallium zinc oxide,銦鎵鋅氧化物)TFT具有較高的載流子遷移率,能夠更好地滿足超大尺寸的液晶顯示器的驅動要求,并且,氧化物半導體TFT還具有組分均一、成本較低、透明率較高等特點,因此備受研發人員的關注。
現有技術中,對于氧化物半導體TFT陣列基板,由于制備氮化硅絕緣層時所采用的氣體中的H元素對氧化物溝道具有還原性,可導致氧空位增加而使氧化物有源層導體化,所以通常絕緣保護層選用二氧化硅薄膜,或者是二氧化硅和氮化硅復合薄膜。
為簡化工藝流程,通常采用干法刻蝕制作出貫穿絕緣保護層的過孔,過孔的底部為漏極的上表面。通常利用碳氟氣體(例如CF4)和氧氣為刻蝕氣體刻蝕二氧化硅薄膜,在刻蝕過程中,二氧化硅材質的過孔內生長有大量的碳氟聚合物,碳氟聚合物形狀各異,且在后續過程中并不能輕易除去,這樣就會影響像素電極與漏極的電性連接,從而造成顯示器的顯示不良。
發明內容
為解決上述現有技術中的問題,本發明實施例提供了一種陣列基板及其制作方法、顯示裝置。該制作方法去除了刻蝕過程中在過孔中形成的聚合物,從而避免了該聚合物對第一圖案和第二圖案的電性連通的不良影響。為達到上述目的,本發明的實施例采用如下技術方案:
一方面、本發明實施例提供了一種陣列基板的制作方法,所述陣列基板的制作方法包括:在襯底基板上方形成第一圖案;形成覆蓋所述第一圖案的絕緣層;在所述絕緣層上方形成保護圖案,所述保護圖案露出所述絕緣層上待形成過孔的部分;通過刻蝕氣體刻蝕所述絕緣層上的所述待形成過孔的部分,形成孔洞,所述孔洞的底部具有預設厚度的殘留膜層;其中,0<所述預設厚度<所述絕緣層的厚度;所述孔洞內形成有所述刻蝕氣體與所述絕緣層反應生成的聚合物;通過惰性氣體對所述孔洞進行刻蝕處理,以去除所述聚合物和所述殘留膜層,形成露出所述第一圖案的所述過孔。
可選的,所述通過惰性氣體對所述孔洞進行刻蝕處理時,所述惰性氣體的轟擊能量大于所述刻蝕氣體的轟擊能量。
可選的,所述通過惰性氣體對所述孔洞進行刻蝕處理時,所述惰性氣體的轟擊能量大于所述刻蝕氣體的轟擊能量,包括:相比于通過刻蝕氣體刻蝕所述絕緣層上的所述待形成過孔的部分時,增加刻蝕設備的自偏壓。
可選的,所述惰性氣體包括Ar氣。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





