[發(fā)明專利]正斷層相關褶皺類型識別方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811026974.1 | 申請日: | 2018-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN109190251A | 公開(公告)日: | 2019-01-11 |
| 發(fā)明(設計)人: | 郎岳;張金川 | 申請(專利權)人: | 中國地質大學(北京) |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 石家莊國為知識產權事務所 13120 | 代理人: | 郝偉 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 褶皺 正斷層 地層 斷裂 斷裂系統(tǒng) 斷面傾角 變形 斷層 牽引 常規(guī)油氣 成因機制 疊加褶皺 橫向位移 平面變換 補償性 垂向 對正 圈閉 擠壓 發(fā)育 孤立 滾動 生長 傳播 | ||
本發(fā)明適用于常規(guī)油氣圈閉選定及正斷層相關褶皺技術領域,提供了正斷層相關褶皺類型識別方法及裝置,所述方法包括:根據斷裂數量、斷層發(fā)育及生長模式,將正斷層分為孤立正斷層和斷裂系統(tǒng),將所述斷裂系統(tǒng)識別為斷面傾角變化相關褶皺、斷裂位移梯度相關褶皺和復合型褶皺,將將所述斷面傾角變化相關褶皺識別為滾動背斜,根據地層變形程度將斷裂位移梯度相關褶皺識別為逆牽引褶皺、牽引褶皺、傳播褶皺和橫向位移梯度褶皺,根據地層變形程度將復合型褶皺識別為平面變換構造、垂向疊加褶皺和補償性擠壓背斜,能夠依據成因機制、地層變形程度實現對正斷層相關褶皺類型的精確識別。
技術領域
本發(fā)明屬于常規(guī)油氣圈閉選定及正斷層相關褶皺技術領域,尤其涉及正斷層相關褶皺類型識別方法及裝置。
背景技術
在石油地質中,斷裂在生長發(fā)育過程中往往或引起周邊地層的變形,發(fā)育形態(tài)各異且分布不同的斷層褶皺。斷層相關褶皺是指成因上與斷層有直接或間接聯(lián)系的、發(fā)育與斷層兩盤及鄰近區(qū)域的地層褶曲變形。由于規(guī)模與變形程度較大、結合學形態(tài)清晰且方便進行野外勘查,逆斷層一直受到高度關注,至五十年前,才有地質學家對伸展環(huán)境中的正斷層相關褶皺展開研究。實際上,伸展環(huán)境內的正斷層相關褶皺類型更豐富,數量更多。這些褶皺不僅可以為油氣成藏提供有利的聚集場所,另一方面,也可被利用來反推斷裂是否在該地層沉積時期活動,從而達到精確厘定油源斷裂、指導下一步勘探開發(fā)部署的目的,與備受關注的逆斷層相關褶皺比較,同樣具有重要的油氣地質意義。
目前傳統(tǒng)的對正斷層相關褶皺進行類型識別的方法是:(1)當斷層線走向與褶皺軸線近垂直相交,為橫向褶皺,該類型主要包括橫向伸展斷彎褶皺、位移梯度褶皺、橫向收縮褶皺、橫向變換帶褶皺、復合褶皺及其他類型褶皺;(2)當斷層線走向與褶皺軸線近平行,為縱向褶皺,該類型主要包括縱向伸展斷彎褶皺、伸展斷展褶皺、逆牽引褶皺、牽引褶皺、均衡褶皺及其他褶皺;(3)當斷層線走向與褶皺軸線呈斜交狀態(tài),為斜向褶皺,該類型又包括斜向伸展斷彎褶皺、轉換伸展褶皺、斜向變換帶褶皺、復合褶皺及其他類型褶皺。但是這種方式由于構造運動的多期性會改造地質構造形態(tài),有些大型褶皺可能是由多種類型的褶皺相互疊加形成,或同一褶皺內不同構造部位具有不同的斷層線與褶皺軸線關系,導致無法進行準確的類型識別。
發(fā)明內容
有鑒于此,本發(fā)明實施例提供了正斷層相關褶皺類型識別方法及裝置,以解決現有技術中由于構造運動的多期性會改造地質構造形態(tài),有些大型褶皺可能是由多種類型的褶皺相互疊加形成,或同一褶皺內不同構造部位具有不同的斷層線與褶皺軸線關系,導致無法進行準確的類型識別的問題。
本發(fā)明實施例的第一方面提供了一種正斷層相關褶皺類型識別方法,包括:
根據斷裂數量、斷層發(fā)育及生長模式,將正斷層分為孤立正斷層和斷裂系統(tǒng);
根據正斷層褶皺的成因機制,將所述斷裂系統(tǒng)識別為斷面傾角變化相關褶皺、斷裂位移梯度相關褶皺和復合型褶皺;
根據斷面傾角變化程度將所述斷面傾角變化相關褶皺識別為滾動背斜;
根據地層變形程度將所述斷裂位移梯度相關褶皺識別為逆牽引褶皺、牽引褶皺、傳播褶皺和橫向位移梯度褶皺;
根據地層變形程度將所述復合型褶皺識別為平面變換構造、垂向疊加褶皺和補償性擠壓背斜。
本發(fā)明實施例的第二方面提供了一種正斷層相關褶皺類型識別裝置,包括:
正斷層劃分單元,用于根據斷裂數量、斷層發(fā)育及生長模式,將正斷層分為孤立正斷層和斷裂系統(tǒng);
第一識別單元,用于根據正斷層褶皺的成因機制,將所述斷裂系統(tǒng)識別為斷面傾角變化相關褶皺、斷裂位移梯度相關褶皺和復合型褶皺;
第二識別單元,用于根據斷面傾角變化程度將所述斷面傾角變化相關褶皺識別為滾動背斜;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國地質大學(北京),未經中國地質大學(北京)許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811026974.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





