[發明專利]一種γ光子散射符合恢復成真符合的方法

在審

• 申請號: 201811024536.1
• 申請日: 2018-09-04
• 公開（公告）號: CN109115809A
• 公開（公告）日: 2019-01-01
• 發明（設計）人: 郭瑞鵬;趙敏;姚敏;徐君;劉兼唐
• 申請（專利權）人: 南京航空航天大學
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 南京瑞弘專利商標事務所(普通合伙) 32249
• 代理人: 唐紹焜

1.一種γ光子散射符合恢復成真符合的方法，其特征在于：包括步驟：

步驟一：對探測裝置檢測得到的單次散射響應線進行分類；將一對探測器同時檢測到能量均為511KeV的γ光子對，記錄為一個真符合事件；將一對探測器中一個探測器檢測到γ光子能量為511KeV，另一個探測器檢測到γ光子能量小于511KeV，則記錄為單次散射響應線；

步驟二：對于單次散射響應線，通過探測器檢測到的γ光子能量和散射角之間的關系，并根據探測器對的位置計算出各單次散射響應線中γ光子發生散射的實際位置；

步驟三：得到檢測到γ光子能量為511KeV的探測器與γ光子發生散射的實際位置的連線的延長線所經過的探測器，并將兩個探測器的連線作為真符合線；

步驟四：重復步驟二和步驟三，將一對探測器上所有的單次散射響應線恢復成真符合線；

步驟五：重復步驟四，將探測環所有的單次散射響應線恢復成真符合線。

2.根據權利要求1所述的γ光子散射符合恢復成真符合的方法，其特征在于：所述步驟二和步驟三中，γ光子能量與散射角θ的關系用公式來表示，其中，E表示沒有發生散射的γ光子能量，大小為511KeV；E’表示探測器探測到單次散射γ光子能量；θ為散射角；在二維的情況下，即一個探測器環的情況下，根據某一大小的γ光子能量，可計算得到γ光子發生散射的實際位置；已知被測物體材料的散射率，設P點和P’點的散射率分別為P_r和P’_r，計算得到某一散射能量下，M條單次散射響應線中，來自于P點和P’點的各有多少條；其計算方法如下：

αP_rM＝M₁ (1)

αP_r'M＝M₂ (2)

其中：

M₁表示來自于P點的單次散射響應線個數，M₂表示來自于P’點的單次散射響應線個數。