[發(fā)明專利]體溫信號(hào)模擬輸出設(shè)備及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811020274.1 | 申請(qǐng)日： | 2018-09-03 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN108931956A | 公開（公告）日： | 2018-12-04 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 胡坤;許云龍;盧云山;劉晨亮;崔景俊;王英強(qiáng);王好哲;陳丹 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 康泰醫(yī)學(xué)系統(tǒng)（秦皇島）股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G05B19/042 | 分類號(hào)： | G05B19/042 |
| 代理公司： | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人： | 王瑩;吳歡燕 |
| 地址： | 066004 河北省秦皇*** | 國省代碼： | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電壓源 可調(diào)電阻電路 模擬輸出設(shè)備 端子連接 體溫信號(hào) 電阻 檢測(cè)電路 檢測(cè)設(shè)備 輸出電壓可調(diào) 串聯(lián)通路 接口連接 模塊輸出 輸出設(shè)備 一端連接 電路 測(cè)量 輸出 | ||
1.一種體溫信號(hào)模擬輸出設(shè)備，其特征在于，所述輸出設(shè)備包括：電壓源模塊、可調(diào)電阻電路和檢測(cè)電路；
所述檢測(cè)電路的兩端分別與所述輸出設(shè)備的接口的兩個(gè)端子連接，測(cè)量與所述接口連接的檢測(cè)設(shè)備的電路參數(shù)值；
所述電壓源模塊的一端與所述接口的一個(gè)端子連接，所述電壓源模塊的另一端與所述可調(diào)電阻電路的一端連接，所述可調(diào)電阻電路的另一端與所述接口的另一個(gè)端子連接；
所述電壓源模塊的輸出電壓可調(diào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輸出設(shè)備，其特征在于，所述輸出設(shè)備包括與所述電壓源模塊、可調(diào)電阻電路和檢測(cè)電路分別通信連接的微處理器控制單元；
所述檢測(cè)電路將測(cè)量的所述檢測(cè)設(shè)備的電路參數(shù)值發(fā)送給所述微處理器控制單元；
所述微處理器控制單元控制改變所述電壓源模塊的輸出電壓值和所述可調(diào)電阻電路的電阻值；
所述微處理器控制單元根據(jù)所述檢測(cè)設(shè)備的電路參數(shù)值、所述電壓源模塊輸出的電壓值和所述可調(diào)電阻電路的電阻值確定所述輸出設(shè)備輸出的電阻值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的輸出設(shè)備，其特征在于，所述電壓源模塊包括與所述微處理器控制單元通信連接的DAC電路；
所述電壓源模塊的接地端與所述接口的一個(gè)端子連接，所述DAC電路的電壓輸出端與所述可調(diào)電阻電路的一端連接；
所述微處理器控制單元控制調(diào)整所述DAC電路的輸出電壓。
4.一種體溫信號(hào)模擬輸出設(shè)備，其特征在于，所述輸出設(shè)備包括電壓源模塊、檢測(cè)電路、第一選擇開關(guān)和第二選擇開關(guān)；
所述第一選擇開關(guān)的輸入端與所述輸出設(shè)備的接口的一端子連接，所述第二選擇開關(guān)的輸入端與所述接口的另一端子連接；
所述第一選擇開關(guān)的輸出端與所述電壓源模塊的一端或者所述檢測(cè)電路的一端連接；
所述第二選擇開關(guān)的輸出端與所述電壓源模塊的另一端或者所述檢測(cè)電路的另一端連接；
所述檢測(cè)電路測(cè)量與所述接口連接的檢測(cè)設(shè)備的電路參數(shù)值；
所述電壓源模塊的輸出電壓可調(diào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的輸出設(shè)備，其特征在于，所述電壓源模塊包括DAC電路、電阻、可變電阻、電源、N-MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管和放大器；
所述電源、所述可變電阻、所述N-MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管以及所述電阻依次串聯(lián)，所述N-MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的漏極與所述可變電阻的一端連接，所述N-MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的源極與所述電阻的一端連接，所述電阻的另一端與所述DAC電路的接地端連接；
所述DAC電路的電壓輸出端與所述放大器的正向輸入端連接；
所述放大器的反向輸入端與所述N-MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的源極連接，所述放大器的輸出端與所述N-MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵極連接；
所述可變電阻的兩端還分別經(jīng)過電壓跟隨電路后與所述第一選擇開關(guān)和所述第二選擇開關(guān)的輸出端連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的輸出設(shè)備，其特征在于，所述輸出設(shè)備還包括與所述DAC電路、可變電阻和檢測(cè)電路分別通信連接的微處理器控制單元；
所述檢測(cè)電路將測(cè)量的所述檢測(cè)設(shè)備的電路參數(shù)值發(fā)送給所述微處理器控制單元；
所述微處理器控制單元控制改變所述DAC電路的輸出電壓值和所述可變電阻的電阻值；
所述微處理器控制單元根據(jù)所述檢測(cè)設(shè)備的電路參數(shù)值、所述電阻的阻值、所述DAC電路輸出的電壓值和所述可變電阻的電阻值確定所述輸出設(shè)備輸出的電阻值。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的輸出設(shè)備，其特征在于，所述可變電阻包括電位器、第一可變電阻電路和第二可變電阻電路；
所述電位器與所述第一可變電阻電路并聯(lián)后與所述第二可變電阻電路串聯(lián)。
8.一種根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的輸出設(shè)備的輸出方法，其特征在于，所述方法包括：
測(cè)量與所述接口連接的檢測(cè)設(shè)備的電路參數(shù)值；
根據(jù)所述檢測(cè)設(shè)備的電路參數(shù)值、所述電壓源模塊輸出的電壓值和所述可調(diào)電阻電路的電阻值或者所述檢測(cè)設(shè)備的電路參數(shù)值和所述電壓源模塊輸出的電壓值確定所述輸出設(shè)備輸出的電阻值。
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