[發明專利]半導體激光器數值孔徑自動測試設備及方法

在審

• 申請號: 201811020149.0
• 申請日: 2018-09-03
• 公開（公告）號: CN108827603A
• 公開（公告）日: 2018-11-16
• 發明（設計）人: 文少劍;黃海翔;廖東升
• 申請（專利權）人: 深圳市杰普特光電股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王寧

1.一種半導體激光器數值孔徑自動測試設備，其特征在于，包括：工作臺、安裝在所述工作臺上的功率檢測裝置、安裝在所述工作臺上的光纖移動裝置、及連接所述功率檢測裝置的數據處理裝置；所述功率檢測裝置包括光功率計探頭、安裝在所述光功率計探頭上的光闌、及連接所述光功率計探頭的功率采集器；所述光功率計探頭上設有感應面，所述光闌的通光孔與所述光功率計探頭的感應面對應；所述數據處理裝置連接所述功率采集器，并讀取所述功率采集器的功率檢測數據；所述光纖移動裝置包括位移控制機構，所述位移控制機構包括導軌組件、滑動設置在所述導軌組件上的位移臺、及驅動所述位移臺相對所述導軌組件移動的驅動組件；所述導軌組件的延伸方向與所述通光孔對應；所述驅動組件向所述數據處理裝置反饋所述位移臺相對所述導軌組件的移動距離。

2.根據權利要求1所述的半導體激光器數值孔徑自動測試設備，其特征在于，所述驅動組件包括連接導軌組件的驅動電機、轉動安裝在所述導軌組件上的絲桿軸、及安裝在所述絲桿軸上的絲桿螺母；所述驅動電機的輸出軸連接所述絲桿軸的一端，所述絲桿螺母連接所述位移臺。

3.根據權利要求2所述的半導體激光器數值孔徑自動測試設備，其特征在于，所述位移控制機構還包括復位檢測組件，所述復位檢測組件包括連接所述位移臺的感應片、及與所述感應片對應的感應開關；所述感應開關與所述驅動電機的控制電路連接，所述感應開關安裝在所述導軌組件上。

4.根據權利要求1所述的半導體激光器數值孔徑自動測試設備，其特征在于，所述光纖移動裝置還包括夾持機構，所述夾持機構包括安裝在所述位移臺上的承纖座、及轉動設置在所述承纖座上的壓片；所述承纖座上設有容纖槽，所述容纖槽與所述通光孔對應；所述壓片的內側與所述容纖槽對應。

5.根據權利要求4所述的半導體激光器數值孔徑自動測試設備，其特征在于，所述夾持機構還包括安裝在所述位移臺上的延伸塊，所述承纖座通過所述延伸塊安裝在所述位移臺上。

6.根據權利要求1所述的半導體激光器數值孔徑自動測試設備，其特征在于，還包括安裝在所述工作臺上的水冷板。

7.根據權利要求6所述的半導體激光器數值孔徑自動測試設備，其特征在于，還包括固定夾具，所述固定夾具包括安裝在所述工作臺上的支撐架、與所述支撐架滑動連接的引導塊、連接所述支撐架的手柄組件、穿設在所述支撐架上的推桿、若干穿設在所述引導塊上的導向柱、連接所述導向柱的壓板、及套設在所述導向柱上的彈簧件；所述支撐架設置在所述水冷板的一側；所述引導塊與所述推桿的下端連接，所述手柄組件與所述推桿的上端連接；所述彈簧件設置在所述引導塊與所述壓板之間。

8.根據權利要求1所述的半導體激光器數值孔徑自動測試設備，其特征在于，所述工作臺上設有擋光箱，所述擋光箱包括若干相互連接的側板、及翻蓋；所述側板豎直設置在所述工作臺上，所述翻蓋與其中一所述側板連接；所述功率檢測裝置、所述光纖移動裝置、及所述半導體激光器設置在所述擋光箱中。

9.一種半導體激光器數值孔徑自動測試方法，其特征在于，應用于權利要求1至8任意一項所述的半導體激光器數值孔徑自動測試設備，所述半導體激光器數值孔徑自動測試方法包括如下步驟：

所述位移臺移動到原點復位位置；

將輸出光纖安裝到所述位移臺上；

運行半導體激光器，所述功率檢測裝置對所述輸出光纖發出的激光光束的功率強度進行檢測；

所述驅動組件啟動運行，令所述位移臺相對所述光闌移動；

所述數據處理裝置確定所述輸出光纖經過臨界位置的時間；

所述數據處理裝置確定在所述輸出光纖經過臨界位置時，所述輸出光纖的輸出端與所述光闌之間的距離；

結合所述通光孔的直徑，所述數據處理裝置計算獲得半導體激光器的最大數值孔徑。

10.根據權利要求9所述的半導體激光器數值孔徑自動測試方法，其特征在于，還包括如下步驟：

所述數據處理裝置結合所述位移臺運動時間，形成檢測功率百分百比與實際數值孔徑之間的對應關系曲線。