[發明專利]一種用于光敏探測器的避光檢測裝置及檢測方法有效
| 申請號： | 201811005272.5 | 申請日： | 2018-08-30 |
| 公開（公告）號： | CN109084893B | 公開（公告）日： | 2020-11-10 |
| 發明（設計）人： | 吳和宇;呂綺雯 | 申請（專利權）人： | 江蘇賽諾格蘭醫療科技有限公司 |
| 主分類號： | G01J1/42 | 分類號： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京易捷勝知識產權代理事務所(普通合伙) 11613 | 代理人： | 韓國勝 |
| 地址： | 225200 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 光敏 探測器 避光 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種用于光敏探測器的避光檢測裝置，其特征在于，包括：
用于放置待測的光敏探測器的避光盒子，所述待測的光敏探測器為制造未投入使用的光敏探測器；
所述避光盒子的內部設置的產生至少一種亮度光的燈帶，所述燈帶通過所述避光盒子外部的燈帶控制器控制；
位于所述避光盒子外部且與所述待測的光敏探測器的輸出端連接的整形放大觸發電路，連接所述整形放大觸發電路的信號采集電路；
其中，所述整形放大觸發電路用于將所述光敏探測器的輸出信號放大，并經由信號采集電路采集輸入到計算機；
所述計算機，對光敏探測器處于黑暗環境狀態和亮度環境狀態的輸出信號進行比較分析，建立基線噪聲與所述光敏探測器的漏光的關系，以及確定光敏探測器是否漏光，所述基線噪聲為所述光敏探測器的輸出信號進行基線采樣，并通過統計學分析得到的；信號采集電路為ADC采集電路。
2.根據權利要求1所述的避光檢測裝置，其特征在于，
所述整形放大觸發電路的第一輸出端輸出放大后的所述光敏探測器的輸出信號至所述ADC采集電路；
所述整形放大觸發電路的第二輸出端輸出采集控制信號至所述ADC采集電路；
所述ADC采集電路依據所述采集控制信號對放大后的輸出信號進行采集；
所述采集控制信號為依據所述光敏探測器的輸出信號生成的。
3.根據權利要求2所述的避光檢測裝置，其特征在于，
所述燈帶為LED燈帶，所述燈帶控制器為LED開與關的控制器；
所述避光盒子為方形時，所述避光盒子內部每一面設置有LED燈帶。
4.一種基于權利要求1至3任一所述的避光檢測裝置的避光檢測方法，其特征在于，包括：
在待測光敏探測器放置所述避光盒子中，關閉燈帶使所述光敏探測器處于黑暗環境狀態下，所述計算機記錄所述ADC采集電路采集的第一信號；
在所述避光盒子內所有方向的燈帶打開時，且所述避光盒子內部的亮度達到第一預設亮度時，所述計算機記錄所述ADC采集電路采集的第二信號；
所述計算機對所述第一信號和第二信號進行分析，建立基線噪聲與所述光敏探測器的漏光的關系，并確定待測的光敏探測器是否漏光；
其中，所述基線噪聲為對所述光敏探測器的輸出信號進行基線采樣得到的。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，若確定光敏探測器漏光，則所述方法還包括：
控制避光盒子內部的第一個方向的燈帶打開，其他方向的燈帶關閉，使所述光敏探測器的第一面處于第一亮度環境狀態下，其他面處于黑暗環境狀態下，所述計算機記錄所述ADC采集電路采集的與第一面對應的信號；
遍歷所述避光盒子內部所有方向之后，所述計算機依據記錄的對應每一面的信號、建立的基線噪聲與所述光敏探測器的漏光的關系，確定光敏探測器漏光敏感的方向，進而獲取光敏探測器的漏光位置。
6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述計算機對所述第一信號和第二信號進行分析，建立基線噪聲與所述光敏探測器的漏光的關系的步驟，包括：
基于預先設置的噪聲觸發閾值，分別對第一信號、第二信號中基線噪聲觸發的事件數進行分析，建立該噪聲觸發閾值與噪聲觸發計數率的關系即噪聲功率函數與所述光敏探測器的漏光的關系，利用基線噪聲計數的大小判斷所述光敏探測器的漏光。
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