[發明專利]檢測電路在審
| 申請號： | 201811000354.0 | 申請日： | 2018-08-30 |
| 公開（公告）號： | CN110873850A | 公開（公告）日： | 2020-03-10 |
| 發明（設計）人： | 賀武 | 申請（專利權）人： | 神訊電腦（昆山）有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/54 | 分類號： | G01R31/54;G01R31/52 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 215300 江蘇省蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 檢測 電路 | ||
1.一種檢測電路，其應用于SIM卡座連錫或者斷路的測試中，所述SIM卡座具有若干個引腳，其特征在于，該檢測電路包括:
一供電電源；
開路檢測模塊，所述開路檢測模塊包括一第一連接器，若干個發光二極管，一第一電阻，一第一控制開關，若干個二極管，一SIM卡座連接器，其中所述第一連接器的端口連接至所述若干個第一發光二極管，所述若干個第一發光二極管的另一端連接至所述第一電阻，所述第一電阻的另一端連接至所述第一控制開關，所述第一控制開關的另一端連接至所述供電電源，所述供電電源的另一端連接至所述若干個二極管，所述若干個二極管連接至所述SIM卡座連接器，所述第一連接器具有一第一連接接頭，所述SIM卡座連接器具有一SIM卡座連接接頭，所述第一連接接頭、所述SIM卡座連接接頭分別與所述SIM卡座的引腳電性連接；
短路檢測模塊，所述短路檢測模塊包括一第二連接器，若干個第二發光二極管，若干個第二電阻，一第二控制開關，其中所述第二連接器的端口分別連接至所述若干個第二發光二極管及所述若干個第二電阻，所述若干個第二發光二極管的另一端連接至所述供電電源的一端，所述若干個第二電阻的另一端連接至所述第二控制開關，所述第二控制開關的另一端連接至所述供電電源的另一端，所述第二連接器具有一第二連接接頭，所述第二連接接頭與所述SIM卡座的引腳電性連接。
2.根據權利要求1所述的檢測電路，其特征在于，所述供電電源為CMOS電池。
4.根據權利要求1所述的檢測電路，其特征在于，所述第一電阻以及所述第二電阻的阻值為10千歐。
5.根據權利要求1所述的檢測電路，其特征在于，所述第一控制開關以及所述第二控制開關為按鈕開關、按鍵開關或者撥動開關。
6.根據權利要求1所述的檢測電路，其特征在于，所述SIM卡座連接器為柔性線路的SIM卡座轉接器。
7.根據權利要求1所述的檢測電路，其特征在于，所述第一發光二極管的數量為6個，所述第二發光二極管的數量為3個。
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