[發(fā)明專利]一種材料內(nèi)部缺陷的激光超聲透射時(shí)延檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810998746.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-08-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109374627A | 公開(公告)日: | 2019-02-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 孫凱華;王增勇;李建文;孫朝明;葛繼強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)工程物理研究院機(jī)械制造工藝研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;G01N21/17 |
| 代理公司: | 中國(guó)工程物理研究院專利中心 51210 | 代理人: | 翟長(zhǎng)明;韓志英 |
| 地址: | 621999 四*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 激光超聲 內(nèi)部缺陷 時(shí)延檢測(cè) 透射 體波 材料內(nèi)部缺陷 超聲波信號(hào) 超聲 激發(fā) 互相關(guān)運(yùn)算 對(duì)心位置 二維移動(dòng) 高靈敏度 高穩(wěn)定性 脈沖激光 缺陷位置 探測(cè)超聲 探測(cè)激光 無(wú)損檢測(cè) 樣品表面 準(zhǔn)確定位 激光器 微缺陷 系數(shù)和 亞毫米 最大處 檢測(cè) 掃查 時(shí)延 探測(cè) 激光 聚焦 參考 | ||
本發(fā)明公開了一種材料內(nèi)部缺陷的激光超聲透射時(shí)延檢測(cè)方法。該方法包括如下步驟:首先,通過激光器激發(fā)的脈沖激光作用在樣品表面激發(fā)出超聲體波;其次,在樣品的另一側(cè)表面,利用探測(cè)激光聚焦在激發(fā)激光的對(duì)心位置處來(lái)探測(cè)超聲體波信號(hào);再次,通過二維移動(dòng)樣品實(shí)現(xiàn)掃查,選取樣品無(wú)缺陷位置處信噪比較高的超聲體波作為參考波,對(duì)所有掃查點(diǎn)處探測(cè)得到的超聲波信號(hào)進(jìn)行互相關(guān)運(yùn)算;最后,通過計(jì)算超聲波信號(hào)波形相關(guān)系數(shù)和相關(guān)系數(shù)最大處的波形時(shí)延值來(lái)對(duì)內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)。本發(fā)明的激光超聲透射時(shí)延檢測(cè)方法對(duì)于內(nèi)部缺陷尤其是亞毫米微缺陷的檢測(cè)具有高靈敏度和高穩(wěn)定性,能夠?qū)崿F(xiàn)內(nèi)部缺陷的準(zhǔn)確定位和定量,適用于各類材料的無(wú)損檢測(cè)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于材料無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種材料內(nèi)部缺陷的激光超聲透射時(shí)延檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
內(nèi)部缺陷廣泛存在于各類材料和產(chǎn)品工件中,如果未能及時(shí)檢測(cè)發(fā)現(xiàn),這些缺陷在外力作用下將逐漸擴(kuò)展,導(dǎo)致工件產(chǎn)品斷裂失效,嚴(yán)重危及產(chǎn)品質(zhì)量與工程安全,因此,對(duì)材料內(nèi)部缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確和及時(shí)的無(wú)損檢測(cè)至關(guān)重要。然而,隨著工業(yè)自動(dòng)化和智能化的發(fā)展,對(duì)于內(nèi)部缺陷的無(wú)損檢測(cè)也提出了高精度、高速在線檢測(cè)以及非接觸檢測(cè)等高要求,常規(guī)無(wú)損檢測(cè)手段已經(jīng)難以滿足要求。激光超聲技術(shù)(固體中的激光超聲[M]. 北京:人民郵電出版社, 2015.)作為一種新興的超聲無(wú)損檢測(cè)技術(shù),具有無(wú)輻射、非接觸、快速檢測(cè)、高空間分辨率、可適應(yīng)高溫高壓惡劣環(huán)境、激發(fā)的超聲波具有寬頻帶等優(yōu)點(diǎn),在材料內(nèi)部缺陷檢測(cè)方面具有廣闊的應(yīng)用前景。
然而,利用現(xiàn)有激光超聲技術(shù)對(duì)內(nèi)部缺陷尤其是亞毫米級(jí)的微小內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)還存在一些技術(shù)難題,主要體現(xiàn)在兩點(diǎn):一是在激光無(wú)損激發(fā)超聲波的條件下,沿垂直材料表面方向傳播的超聲波的幅值較低,缺陷檢測(cè)信號(hào)的信噪比偏低;二是在激光超聲掃描檢測(cè)的過程中,材料不同掃描位置處的表面狀態(tài)存在差異,對(duì)激發(fā)激光的吸收以及探測(cè)激光的信號(hào)接收都會(huì)產(chǎn)生較大影響,從而引起超聲幅值的波動(dòng)。因此,在利用超聲幅值變化對(duì)缺陷進(jìn)行檢測(cè)時(shí),無(wú)論是信號(hào)的低信噪比還是幅值波動(dòng)均會(huì)對(duì)內(nèi)部缺陷尤其是亞毫米微缺陷檢測(cè)的靈敏度和穩(wěn)定性造成嚴(yán)重影響,并且缺陷越小,該影響越大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種材料內(nèi)部缺陷的激光超聲透射時(shí)延檢測(cè)方法。
本發(fā)明的材料內(nèi)部缺陷的激光超聲透射時(shí)延檢測(cè)方法包括以下步驟:
a.激光器發(fā)射出脈沖激光經(jīng)凸透鏡聚焦后形成圓形光源輻照在固定在平移臺(tái)上的樣品的一側(cè)表面,產(chǎn)生超聲體波,超聲體波向樣品的內(nèi)部傳播;
b.超聲體波與樣品中的內(nèi)部缺陷作用后形成透射體波,并傳播至樣品的另一側(cè);
c.激光干涉儀的探頭發(fā)射出連續(xù)的探測(cè)激光,探測(cè)激光輻照在樣品另一側(cè)表面,探測(cè)激光與圓形光源分布在樣品兩側(cè)的對(duì)心位置處,探測(cè)激光探測(cè)超聲體波和透射體波的超聲波信號(hào);
d.工控機(jī)接收和記錄激光器發(fā)出的觸發(fā)信號(hào)和激光干涉儀探測(cè)得到的超聲波信號(hào),同時(shí),工控機(jī)控制平移臺(tái)沿掃查路徑進(jìn)行二維運(yùn)動(dòng),帶動(dòng)樣品進(jìn)行二維掃查檢測(cè);
e.選取樣品的無(wú)缺陷位置處掃查信號(hào)中信噪比≥24 dB的超聲體波作為參考波,對(duì)掃查路徑上所有點(diǎn)探測(cè)得到的超聲波信號(hào)波形進(jìn)行互相關(guān)運(yùn)算,計(jì)算超聲波信號(hào)波形相關(guān)系數(shù)和超聲波信號(hào)波形相關(guān)系數(shù)最大處的波形時(shí)延值;
f.將所有探測(cè)點(diǎn)處計(jì)算得到超聲波信號(hào)波形相關(guān)系數(shù)以及波形時(shí)延值繪制成相關(guān)系數(shù)C掃圖和時(shí)延C掃圖,依據(jù)C掃圖中的灰度值差異來(lái)準(zhǔn)確測(cè)定內(nèi)部缺陷的位置和尺寸。
步驟a中的圓形光源的直徑D范圍為1 mm≤ D≤2 mm。
步驟a中的樣品為金屬材料時(shí),在樣品被圓形光源輻照的一側(cè)增加非金屬覆蓋層,非金屬覆蓋層的厚度h≤2 mm,非金屬覆蓋層通過耦合劑與樣品表面緊密連接;或者,增加圓形光源的能量直至樣品表面產(chǎn)生微熔蝕。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 信道階數(shù)與多徑時(shí)延的聯(lián)合估計(jì)方法
- 時(shí)延測(cè)量
- 基于t檢測(cè)模型的網(wǎng)絡(luò)坐標(biāo)系統(tǒng)輸入時(shí)延預(yù)處理方法
- 自動(dòng)檢測(cè)光纖非對(duì)稱性的時(shí)間同步裝置及方法
- 信號(hào)電路時(shí)延檢測(cè)系統(tǒng)
- 時(shí)延控制方法和時(shí)延控制系統(tǒng)
- 時(shí)延均衡方法及裝置
- 時(shí)延檢測(cè)方法和系統(tǒng)
- 信號(hào)處理方法、發(fā)射器、接收器和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 時(shí)延控制





