[發(fā)明專利]一種太赫茲準光伺服鏡掃描連續(xù)波反射成像系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810991427.0 | 申請日: | 2018-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN109297932A | 公開(公告)日: | 2019-02-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李召陽;肖勇;張鏡水;王文鵬;張春艷 | 申請(專利權(quán))人: | 北京遙感設(shè)備研究所 |
| 主分類號: | G01N21/47 | 分類號: | G01N21/47;G01N21/01 |
| 代理公司: | 中國航天科工集團公司專利中心 11024 | 代理人: | 孔曉芳 |
| 地址: | 100854*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 伺服 掃描 準光 反射成像系統(tǒng) 太赫茲探測器 菲涅耳透鏡 連續(xù)波 平面鏡 混頻 熱電探測器 實時性要求 太赫茲信號 折轉(zhuǎn)反射鏡 采樣數(shù)據(jù) 電控支架 喇叭天線 掃描技術(shù) 圖像信息 信號檢測 樣品反射 分束鏡 有效地 采樣 二維 采集 計算機 響應(yīng) 配合 | ||
1.一種太赫茲準光伺服鏡掃描連續(xù)波反射成像系統(tǒng),包括:太赫茲信號源(1)、喇叭天線(2)、菲涅耳透鏡A(3)、分束鏡(4)、菲涅耳透鏡B(5)、樣品采樣臺(9)和計算機(11),其特征在于還包括:折轉(zhuǎn)反射鏡(6)、掃描平面鏡(7)、伺服(8)和自混頻太赫茲探測器(10);
采用共焦傳輸光路搭建成像系統(tǒng),連接關(guān)系為:太赫茲信號源(1)的輸出口與喇叭天線(2)饋電輸入口連接;菲涅耳透鏡A(3)的前焦點與喇叭天線(2)的高斯束腰位置重合,菲涅耳透鏡A(3)的后焦點與菲涅耳透鏡B(5)的前焦點位置重合,分束鏡(4)放置在菲涅耳透鏡A(3)與菲涅耳透鏡B(5)的公共焦點處;折轉(zhuǎn)反射鏡(6)放置于菲涅耳透鏡B(5)的后面,掃描平面鏡(7)與折轉(zhuǎn)反射鏡(6)平行相對放置,樣品采樣臺(9)位于掃描平面鏡(7)后面、菲涅耳透鏡B(5)的后焦點匯聚處;自混頻太赫茲探測器(10)的接收窗口位于分束鏡(4)的反射光路上,自混頻太赫茲探測器(10)的數(shù)據(jù)輸出口與計算機(11)的數(shù)據(jù)采集輸入口連接,伺服(8)位于掃描平面鏡(7)的背部,同時伺服(8)的控制口與計算機(11)的控制口連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲準光伺服鏡掃描連續(xù)波反射成像系統(tǒng),其特征在于,所述自混頻太赫茲探測器(10)是一種基于GaN/AlGaN場效應(yīng)管室溫太赫茲探測器,利用場效應(yīng)管的非線性對接收太赫茲波自混頻,輸出正比于入射波能量的電壓信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲準光伺服鏡掃描連續(xù)波反射成像系統(tǒng),其特征在于,所述喇叭天線(2),采用能輻射高斯波束的對角型角錐喇叭天線或者圓錐波紋喇叭天線,輻射效率大于85%。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲準光伺服鏡掃描連續(xù)波反射成像系統(tǒng),其特征在于,所述分束鏡(4)為高電阻硅材料的半透半反鏡,與光路成45o放置,發(fā)射光路利用其透射特性,接收光路利用其反射特性。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一所述的太赫茲準光伺服鏡掃描連續(xù)波反射成像系統(tǒng),其特征在于,成像系統(tǒng)工作時,發(fā)射光路上,太赫茲信號源(1)輸出信號經(jīng)喇叭天線(2)變換成高斯波束輻射出去,高斯波束經(jīng)過菲涅耳透鏡A(3)匯聚并入射到分束鏡(4),菲涅耳透鏡A(3)的出射光經(jīng)過分束鏡(4)透射后進入菲涅耳透鏡B(5),經(jīng)菲涅耳透鏡B(5)匯聚后出射光束進入折轉(zhuǎn)反射鏡(6),折轉(zhuǎn)反射鏡(6)的出射光進入掃描平面鏡(7),掃描平面鏡(7)的出射光匯聚在樣品采樣臺(9)上的待測目標上;接收光路上,待測目標反射的太赫茲波經(jīng)過掃描平面鏡(7)與折轉(zhuǎn)反射鏡(6)反射后進入菲涅耳透鏡B(5),菲涅耳透鏡B(5)將接收到待測目標反射的太赫茲波再次匯聚,反向進入分束鏡(4),分束鏡(4)將載待測目標圖像信息的太赫茲波反射到自混頻太赫茲探測器(10)上;成像過程中掃描平面鏡(7)在伺服(8)的控制下對樣品采樣臺(9)上待測目標不同的位置進行掃描,由于待測目標不同位置表面及內(nèi)部結(jié)構(gòu)的不同,自混頻太赫茲探測器(10)接收到的反射太赫茲波信號強弱也就不同;計算機(11)控制伺服(8)掃描與自混頻太赫茲探測器(10)信號接收同步工作,實時采集伺服(8)輸出的角度信號與自混頻太赫茲探測器(10)輸出的電壓數(shù)據(jù),最后通過計算機(11)數(shù)據(jù)分析處理,得到的待測目標的太赫茲二維反射圖像,從而實現(xiàn)對待測目標的無損檢測。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





