[發明專利]測繪用角度測量光學片

在審

• 申請號: 201810989579.7
• 申請日: 2018-08-28
• 公開（公告）號: CN108873122A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發明（設計）人: 吳光明
• 申請（專利權）人: 四川川豫測繪服務有限公司
• 主分類號: G02B3/00
• 分類號: G02B3/00;G02B17/08;G02B1/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種測繪用角度測量光學片，包括基體(1)，基體(1)上方設置有上透鏡(2)，下方設置有下透鏡(3)，上透鏡(2)由上球形凸起段(4)和上平坦段(7)交替組成，上球形凸起段(4)的半徑為R1，上球形凸起段(4)兩端點之間的直線距離為d,上平坦段(7)兩端點之間的距離為d1；下透鏡(3)由下球形凸起段(5)和下平坦段(8)交替組成，下球形凸起段(5)的半徑為Rm，下球形凸起段(5)兩端點之間的直線距離與上球形凸起段(4)兩端點之間的直線距離相等，下平坦段(8)兩端點之間的距離與上平坦段(7)兩端點之間的距離相等。與現有的相比，本發明使得測量角度不需要接觸就可以進行角度測量。

技術領域

本發明涉及一種測繪用角度測量光學片。

背景技術

在測繪中，經常需要進行角度測量，但是，現有的角度測量裝置基本上都是采用接觸式的測量方式，這樣的測量方式一方面測量精度差，另一方面，對于空間小或空間特別大的測量場合，測量起來非常不方便。

發明內容

針對上述不足之處，本發明的目的就在于提供一種測繪用角度測量光學片，該測繪用角度測量光學片使得測量角度不需要接觸就可以進行角度測量。

本發明的技術方案是：一種測繪用角度測量光學片，包括基體(1)，基體(1)上方設置有上透鏡(2)，下方設置有下透鏡(3)，上透鏡(2)由上球形凸起段(4)和上平坦段(7)交替組成，上球形凸起段(4)的半徑為R1，上球形凸起段(4)兩端點之間的直線距離為d,上平坦段(7)兩端點之間的距離為d1；下透鏡(3)由下球形凸起段(5)和下平坦段(8)交替組成，下球形凸起段(5)的半徑為Rm，下球形凸起段(5)兩端點之間的直線距離與上球形凸起段(4)兩端點之間的直線距離相等，下平坦段(8)兩端點之間的距離與上平坦段(7)兩端點之間的距離相等；下球形凸起段(5)表面上涂覆有反射圖層(6)；上球形凸起段(4)與下球形凸起段(5)具有同一圓心(9)，并具有同一中心線(10)。

作為優選，所述d：d1的比值為8:1～20:1。

作為優選，所述上透鏡(2)、基體(1)、下透鏡(3)一體成型。

作為優選，所述上透鏡(2)、基體(1)、下透鏡(3)均由光學透明材料制成。

作為優選，所述光學透明材料為光學玻璃。

作為優選，所述光學玻璃為鋇火石光學玻璃。

作為優選，所述光學玻璃為防輻照光學玻璃。

作為優選，所述測繪用角度測量光學片厚度為100-200微米。

與現有技術相比，本發明的有益效果在于：本發明通過設置基體，基體上方設置上透鏡，下方設置有下透鏡，以及交替的上球形凸起段、上平坦段、下球形凸起段、下平坦段、反射圖層，使得β</＝βmax光線逆向通過上透鏡，從而實現角度測量，使得不需要人工接觸被檢測物體即可以完成測量事宜。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應當理解，以下附圖僅示出了本發明的某些實施例，因此不應被看作是對范圍的限定，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。

圖1為本發明整體結構示意圖；

圖2為本發明測角度原理圖示意圖；

圖3本發明逆向光強度與β之間的關系圖。

具體實施方式