[發明專利]一種壓出式易標記可視易壓方格計數表面采樣培養皿

在審

• 申請號: 201810988773.3
• 申請日: 2018-08-28
• 公開（公告）號: CN108913583A
• 公開（公告）日: 2018-11-30
• 發明（設計）人: 韓濤;韓德禮
• 申請（專利權）人: 韓德禮
• 主分類號: C12M1/34
• 分類號: C12M1/34;C12M1/26;C12M1/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種壓出式易標記可視易壓方格計數表面采樣培養皿，包括皿底和松弛覆蓋于皿底上的皿蓋，其特征在于：所述的皿蓋包括蓋壁和至少一個從蓋壁環繞豎起的皿蓋側壁，所述的皿底包括底壁和至少一個從底壁環繞豎起的第一皿底側壁，以及至少一個平行套在所述第一皿底側壁外側的活動皿底側壁；所述的第一皿底側壁設有至少一圈第二卡扣，所述第二卡扣環繞所述第一皿底側壁一周，所述第二卡扣的圓圈平面與所述底壁的平面平行；所述的活動皿底側壁設有至少一圈第一卡扣，所述第一卡扣環繞所述活動皿底側壁一周，所述第一卡扣的圓圈平面與所述底壁的平面平行；所述的第一卡扣和所述的第二卡扣可以緊密嵌合，以維持無外力作用下所述活動皿底側壁處于所述第一皿底側壁上方的技術特征；當沿著自活動皿底側壁至第一皿底側壁的方向，施加作用力至所述活動皿底側壁時，所述第一卡扣和所述第二卡扣的嵌合結構可以松開，此時活動皿底側壁可沿著第一皿底側壁的方向平行移動；所述皿蓋側壁的直徑大于所述第一皿底側壁；所述底壁的直徑大于所述蓋壁；所述活動皿底側壁的高度與所述第一皿底側壁的高度之和，小于所述皿蓋側壁的高度；在所述蓋壁的外表面，設有至少一個標記區，所述的標記區由蓋壁表面經磨砂處理形成；在所述蓋壁還設有至少一個透明的觀察窗，所述的觀察窗呈凸透鏡形狀，且由所述蓋壁中心位置加厚而形成；所述的活動皿底側壁還設有至少一個壓臺，所述的壓臺由所述活動皿底側壁向外側突出而形成；在所述的底壁，設有橫豎正交交叉的方格線，所述的方格線將底壁分割成若干個正方形或近似正方形的區域，所述正方形區域的面積相等。