[發明專利]水準尺在審
| 申請號: | 201810987566.6 | 申請日: | 2018-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN108917709A | 公開(公告)日: | 2018-11-30 |
| 發明(設計)人: | 吳光明 | 申請(專利權)人: | 四川川豫測繪服務有限公司 |
| 主分類號: | G01C5/00 | 分類號: | G01C5/00;G01C9/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 618000 四川省德陽市*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 水準尺 刻度區 角度測量 光學片 測試 | ||
本發明公開了一種水準尺,包括水準尺本體(1),水準尺本體(1)上設置有刻度區(4),所述刻度區(4)外的水準尺本體(1)上設置有角度測量光學片(3)。與現有的相比,本發明的水準尺測試精度高,平穩。
技術領域
本發明涉及一種水準尺。
背景技術
現有的水準尺在檢測時測試精度不夠,測試時外部影響因素多,非常不利于測繪行業的發展。
發明內容
針對上述不足之處,本發明的目的就在于提供一種水準尺,該水準尺測試精準、平穩。
本發明的技術方案是:一種水準尺,包括水準尺本體(1),水準尺本體(1)上設置有刻度區(4),所述刻度區(4)外的水準尺本體(1)上設置有角度測量光學片(3)。
作為優選,所述角度測量光學片(3)包括基體(31),基體(31)上方設置有上透鏡(32),下方設置有下透鏡(33),上透鏡(32)由上球形凸起段(34)和上平坦段(37)交替組成,上球形凸起段(34)的半徑為R1,上球形凸起段(34)兩端點之間的直線距離為d,上平坦段(37)兩端點之間的距離為d1;下透鏡(33)由下球形凸起段(35)和下平坦段(38)交替組成,下球形凸起段(35)的半徑為Rm,下球形凸起段(35)兩端點之間的直線距離與上球形凸起段(34)兩端點之間的直線距離相等,下平坦段(38)兩端點之間的距離與上平坦段(37)兩端點之間的距離相等;下球形凸起段(35)表面上涂覆有反射圖層(36);上球形凸起段(34)與下球形凸起段(35)具有同一圓心(39),并具有同一中心線(310)。
作為優選,所述d:d1的比值為8:1~20:1。
作為優選,所述上透鏡(32)、基體(31)、下透鏡(33)一體成型。
作為優選,所述上透鏡(32)、基體(31)、下透鏡(33)均由光學透明材料制成,該光學透明材料為光學玻璃。
作為優選,所述光學玻璃為防輻照光學玻璃或鋇火石光學玻璃。
作為優選,所述角度測量光學片厚度為100-200微米。
作為優選,所述水準尺還設置有尺墊(5),尺墊(5)設置在水準尺本體(1)下端,尺墊(5)下端設置有尖腳(6)。
作為優選,所述水準尺還設置有穩定支腳(2)。
與現有技術相比,本發明的有益效果在于:
本發明通過設置基體,基體上方設置上透鏡,下方設置有下透鏡,以及交替的上球形凸起段、上平坦段、下球形凸起段、下平坦段、反射圖層,使得β</=βmax光線逆向通過上透鏡,從而實現角度測量,使得不需要人工接觸被檢測物體即可以完成測量事宜。
本發明通過穩定支腳、尺墊等的設置,使得測試精準、平穩。
附圖說明
為了更清楚地說明本發明實施例的技術方案,下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹,應當理解,以下附圖僅示出了本發明的某些實施例,因此不應被看作是對范圍的限定,對于本領域普通技術人員來講,在不付出創造性勞動的前提下,還可以根據這些附圖獲得其他相關的附圖。
圖1為本發明整體結構示意圖;
圖2為本發明角度測量光學片結構示意圖;
圖3為本發明角度測量光學片原理圖示意圖;
圖4為本發明逆向光強度與β之間的關系圖。
具體實施方式
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于四川川豫測繪服務有限公司,未經四川川豫測繪服務有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810987566.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種測量器具
- 下一篇:淺埋暗挖隧道沉降的監測方法及監測裝置





