[發明專利]用于測試電感耦合電路的方法和設備

有效

• 申請號: 201810984349.1
• 申請日: 2018-08-27
• 公開（公告）號: CN109428632B
• 公開（公告）日: 2021-07-16
• 發明（設計）人: 赫爾諾特·許貝爾;萊昂哈德·科爾曼;伊恩·托馬斯·麥克納馬拉
• 申請（專利權）人: 恩智浦有限公司
• 主分類號: H04B5/00
• 分類號: H04B5/00;H04B1/04
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 倪斌

1.一種設備，其特征在于，包括：

阻抗匹配電路，所述阻抗匹配電路被配置和布置成匹配射頻(RF)天線的阻抗，并且在所述RF天線與處理通過所述RF天線接收到的RF信號的接收器電路之間傳送信號；

發射器，所述發射器包括組合測試控制器，所述發射器被配置和布置成通過所述RF天線將信號發射到遠程裝置，并且通過將多個測試信號傳送到所述阻抗匹配電路來自動掃描所述阻抗匹配電路；

傳感器電路，所述傳感器電路被配置和布置成檢測通過所述阻抗匹配電路的所述多個測試信號中的每一個測試信號的特征；以及

測試電路，所述測試電路配置和布置有所述傳感器電路，以通過以下操作指示所述阻抗匹配電路與設計規范的依從性：

對于為自動掃描生成的所述多個測試信號中的每一個測試信號，將所述每一個測試信號的檢測到的特征與用于所述每一個測試信號的預期特征相比較，

響應于所述比較，評估所述阻抗匹配電路與設計規范的依從性，以及

生成和傳輸指示所述阻抗匹配電路與所述設計規范的依從性的輸出。

2.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，每個測試信號具有以下各項中的至少一個：與其它測試信號的指定頻率不同的指定頻率、與所述其它測試信號的指定測試信號模式不同的指定測試信號模式，或其組合。

3.根據權利要求1所述的設備，其特征在于：

所述傳感器電路被配置和布置成檢測所述多個測試信號中的每一個測試信號的多個特征；以及

所述測試電路配置和布置有所述傳感器電路，以對于為所述自動掃描生成的所述多個測試信號中的每一個測試信號，將所述檢測到的特征中的每一個特征與用于所述每一個測試信號的相應預期特征相比較。

4.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述發射器被配置和布置成在不同驅動器輸出阻抗配置下傳送所述多個測試信號中的相應測試信號，并且所述測試電路被配置和布置成將在所述不同驅動器輸出阻抗中的每一個驅動器輸出阻抗處的所述檢測到的特征與用于每個驅動器輸出阻抗的預期特征相比較。

5.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述傳感器電路包括接收器，所述接收器被配置和布置成提供不同輸入電阻，用于接收所述多個測試信號中的相應測試信號，并且所述測試電路被配置和布置成將在所述不同輸入電阻中的每一個輸入電阻處的所述檢測到的特征與用于每個輸入電阻的預期特征相比較。

6.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，

所述發射器被配置和布置成在不同驅動器輸出阻抗配置下傳送所述多個測試信號中的相應測試信號，

所述傳感器電路包括接收器，所述接收器被配置和布置成提供不同輸入電阻，用于接收所述多個測試信號中的相應測試信號，以及

所述測試電路被配置和布置成將在所述輸出阻抗配置和輸入電阻的相應組合中的每一個組合處的所述檢測到的特征與用于所述相應組合中的每一個組合的預期特征相比較。

7.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，進一步包括開關電路，所述開關電路被配置和布置成：

在測試模式下，將由所述發射器生成的所述多個測試信號耦合到所述傳感器電路；以及

在操作模式下，通過所述阻抗匹配電路將由所述發射器產生的RF通信信號耦合到所述天線，并且在其中將所述RF通信信號發射到遠程接收器。

8.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述發射器和傳感器電路被配置和布置成通過以下操作自動掃描所述阻抗匹配電路：

將所述發射器設定成多個指定掃描頻率或測試信號模式中的一個指定掃描頻率或測試信號模式；

在所述指定掃描頻率或測試信號模式中的一個指定掃描頻率或測試信號模式處傳送測試信號；

在所述指定掃描頻率或測試信號模式中的一個指定掃描頻率或測試信號模式處檢測測試信號的特征；以及

針對多個測試信號掃描中的每一個測試信號掃描，重復設定、傳送和檢測的步驟。