[發明專利]顯示裝置和測量顯示裝置的電阻的方法有效
| 申請號: | 201810980434.0 | 申請日: | 2018-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN109427864B | 公開(公告)日: | 2023-08-22 |
| 發明(設計)人: | 李忠碩;金銀星;許璟烈 | 申請(專利權)人: | 三星顯示有限公司 |
| 主分類號: | H10K59/131 | 分類號: | H10K59/131;H01L21/66;G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京鉦霖知識產權代理有限公司 11722 | 代理人: | 李英艷;馮志云 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示裝置 測量 電阻 方法 | ||
1.一種顯示裝置,包括:
第一基板,包括其中安置多個像素單元的顯示區以及與所述顯示區相鄰的非顯示區;
連接到所述第一基板的電路膜;
連接到所述電路膜的印刷電路板;以及
第一檢查焊盤、第二檢查焊盤和第三檢查焊盤以及橋,所述第一檢查焊盤、所述第二檢查焊盤和所述第三檢查焊盤位于所述非顯示區中,所述橋配置為電連接所述第一檢查焊盤、所述第二檢查焊盤和所述第三檢查焊盤,
其中所述電路膜包括:
第一線,電連接到所述第一檢查焊盤;
第二線,電連接到所述第二檢查焊盤;
第三線,電連接到所述第三檢查焊盤;以及
分岔點,配置為將從所述第一線、所述第二線和所述第三線中選擇的至少一個線分岔成兩個子線,以及
其中所述印刷電路板包括連接到所述第一線、所述第二線和所述第三線的測試焊盤單元,
其中所述測試焊盤單元包括第一測試焊盤、第二測試焊盤、第三測試焊盤、第四測試焊盤和第五測試焊盤,并且
其中所述第一檢查焊盤、所述第二檢查焊盤和所述第三檢查焊盤的總數量小于所述第一測試焊盤、所述第二測試焊盤、所述第三測試焊盤、所述第四測試焊盤和所述第五測試焊盤的總數量。
2.根據權利要求1所述的顯示裝置,其中所述分岔點包括第一分岔點和第二分岔點,所述第一分岔點被配置為將所述第一線分岔成第一子線和第二子線,所述第二分岔點被配置為將所述第二線分岔成第三子線和第四子線。
3.根據權利要求2所述的顯示裝置,其中所述第一子線電連接到所述第一測試焊盤,所述第二子線電連接到所述第二測試焊盤,所述第三子線電連接到所述第三測試焊盤,所述第四子線電連接到所述第四測試焊盤,并且所述第三線電連接到所述第五測試焊盤。
4.根據權利要求1所述的顯示裝置,還包括位于所述第二檢查焊盤與所述第三檢查焊盤之間的虛設檢查焊盤。
5.根據權利要求1所述的顯示裝置,還包括位于所述第一檢查焊盤與所述第二檢查焊盤之間的虛設檢查焊盤。
6.根據權利要求1所述的顯示裝置,其中所述電路膜包括部分地覆蓋所述第一線、所述第二線和所述第三線的覆蓋層。
7.根據權利要求6所述的顯示裝置,其中所述覆蓋層覆蓋所述分岔點。
8.根據權利要求6所述的顯示裝置,其中所述電路膜還包括連接到所述第一基板的膜焊盤單元,所述膜焊盤單元與所述分岔點之間的距離為300μm或更大。
9.根據權利要求1所述的顯示裝置,其中所述橋與所述第一檢查焊盤、所述第二檢查焊盤和所述第三檢查焊盤成一體。
10.一種顯示裝置,包括:
第一基板,包括其中安置多個像素單元的顯示區以及與所述顯示區相鄰的非顯示區;
連接到所述第一基板的電路膜;
連接到所述電路膜的印刷電路板;
配置為將所述第一基板與所述電路膜電連接的第一出接合單元、第二出接合單元和第三出接合單元;以及
橋,位于所述非顯示區中并且配置為電連接所述第一出接合單元、所述第二出接合單元和所述第三出接合單元,
其中所述電路膜包括:
第一線,電連接到所述第一出接合單元;
第二線,電連接到所述第二出接合單元;
第三線,電連接到所述第三出接合單元;以及
分岔點,配置為將從所述第一線、所述第二線和所述第三線中選擇的至少一個線分岔成兩個子線,以及
其中所述印刷電路板包括連接到所述第一線、所述第二線和所述第三線的測試焊盤單元,
其中所述測試焊盤單元包括第一測試焊盤、第二測試焊盤、第三測試焊盤、第四測試焊盤和第五測試焊盤,并且
其中所述第一出接合單元、所述第二出接合單元和所述第三出接合單元的總數量小于所述第一測試焊盤、所述第二測試焊盤、所述第三測試焊盤、所述第四測試焊盤和所述第五測試焊盤的總數量。
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